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- [发明专利]制造碳化硅半导体器件的方法-CN201380066987.0在审
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北林弘之
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住友电气工业株式会社
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2013-12-06
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2015-08-26
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H01L21/02
- 在具有彼此相反的第一主表面(11a)和第二主表面(11b)的碳化硅衬底(11)中,在碳化硅衬底(11)固定至具有比碳化硅衬底(11)更高柔性的基材(90)的情况下,去除碳化硅衬底(11)的第二主表面(11b)一侧上的碳化硅,且在第二主表面(11b)上形成电极(14)。基材(90)具有小于或等于碳化硅衬底(11)的第一主表面(11a)面积的面积。在将碳化硅衬底(11)固定至基材(90)的步骤中,基材(90)位于基材(90)覆盖第一主表面(11a)的中心(11c)的位置,使得基材(90)不延伸超过第一主表面(11a)的外周(11h)。因此,可降低碳化硅衬底(11)和电极(14)之间的接触电阻,并可提供制造碳化硅半导体器件的方法,其以简单方式制造碳化硅半导体器件。
- 制造碳化硅半导体器件方法
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