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- [发明专利]多级微纳结构及其制备方法与应用-CN202211283366.5在审
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耿广州;李俊杰
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中国科学院物理研究所
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2022-10-19
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2022-12-27
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B81C1/00
- 本发明提供一种多级微纳结构及其制备方法与应用,包括:(1)在初始衬底表面制备牺牲层;(2)在牺牲层表面制备多层电子束抗蚀剂,其中,相邻两层电子束抗蚀剂的灵敏度不同;(3)对多层电子束抗蚀剂进行电子束曝光、显影、定影,得到多级微纳抗蚀剂结构,其中,相邻两层电子束抗蚀剂的曝光图形和曝光剂量不同;(4)填充多级微纳抗蚀剂结构,并在多级微纳抗蚀剂结构的顶层形成一层薄膜;(5)去除牺牲层,将牺牲层以上部分上下翻转并转移至目标衬底上,去除残留的电子束抗蚀剂,可选地去除薄膜,得到多级微纳结构。本发明的方法只需要一次曝光和薄膜沉积,且制得的多级微纳结构在微流控器件、光电子器件等领域有广阔的应用前景。
- 多级结构及其制备方法应用
- [发明专利]一种手机卡托去除打标印记的方法-CN201711165552.8在审
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蔡嘉慰
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石狮市科达电器有限公司
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2017-11-21
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2018-04-06
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C23F1/32
- 一种手机卡托去除打标印记的方法,依次包括以下工艺步骤①除油,通过除油剂对打标后的卡托进行除油;除油后水洗;②微腐蚀,将卡托置于微蚀液中常温浸泡10~300s,微蚀液包括以下组分氢氧化钠、磷酸钠、硝酸钠、硅酸钠和水;微腐蚀后进行二次水洗;③清洗剂清洗,将卡托置于清洗剂溶液中清洗1~4min;清洗剂清洗后进行三次水洗;④烘干。本发明通过对氧化后打标的印记进行微腐蚀处理,在去除表面打标印记的同时又不会破坏原有的氧化层,解决了卡托表面打标印记的去除问题,使得前道工序的生产不会枉费,返工良率更高,可大大减少原料浪费,降低成本,提高生产效率
- 一种手机卡去除印记方法
- [实用新型]一种水平沉铜设备-CN202121533350.6有效
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孙宇曦;曾庆明
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广东硕成科技股份有限公司
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2021-07-06
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2022-03-15
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C23C18/38
- 本实用新型涉及化学镀铜技术领域,尤其是涉及一种水平沉铜设备,包括依次连通的膨松‑除胶区、中和‑微蚀区、预浸‑活化区、沉铜区,所述膨松‑除胶区包括依次连通的膨松槽1、第一水洗槽2、除胶槽3,所述微蚀区包括依次连通的第二水洗槽4、中和槽5、第三水洗槽6、调整槽7、第四水洗槽8、微蚀槽9;所述预浸‑活化区包括依次连通的第五水洗槽10、预浸槽11、活化槽12、第六水洗槽13、还原槽14、第七水洗槽15;所述沉铜区包括沉铜槽16、本实用新型水平沉铜设备解决了目前在活化段的设备中,过板时活化液因为滚轮的牵引力和惯性而带出一部分的活化液的技术问题。
- 一种水平设备
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