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[发明专利]晶圆探针台自定义测试路径实现方法-CN202011391910.9在审
发明人：高跃红;王蕾;严大生;邱海斌;董明远;孙德举;崔立志;姜鑫 -专利权人：长春光华微电子设备工程中心有限公司
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G06F40/166 文献下载
摘要：本发明提供一种晶圆探针台自定义测试路径实现方法，包括如下步骤：S1、将晶圆探针台生成的model属性图文件调入测试路径生成软件，生成测试路径编辑文件；S2、将测试模式载入测试路径编辑文件，在测试路径编辑文件中编辑测试路径；S3、将编辑有测试路径的测试路径编辑文件载入测试路径生成软件，生成晶圆探针台识别的测试路径文件。本发明能够实现测试路径的自定义，满足客户对测试路径灵活规划的需求，还能使路径最优化，节省测试时间、提高测试效率。
探针自定义测试路径实现方法

[发明专利]测试路径的推荐方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310395254.7在审
发明人：王孟飞;管占明;黄方方;黄宗明;郑雯月;杨萍 -专利权人：抖音视界有限公司
申请日： 2023-04-13 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本公开涉及计算机处理技术领域，具体涉及测试路径的推荐方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括获取待测试应用的应用数据以及测试场景节点，应用数据包括测试路径以及测试路径中操作行为的属性信息，测试路径为第一场景节点、操作行为以及第二场景节点之间的路径；利用测试场景节点在应用数据中进行查询，确定测试场景节点的候选测试路径；基于候选测试路径中操作行为的属性信息，得到候选测试路径的路径价值；根据路径价值对候选测试路径进行筛选，确定目标测试路径。该方法结合待测试应用的应用数据以及操作行为的属性信息，使得在面对海量路径数据时，能够快速、精准获取测试场景节点对应的目标测试路径，提高了得到测试路径的效率。
测试路径推荐方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种基于状态转换图的测试路径生成方法-CN202010471820.4在审
发明人：董冬梅;方蕴宇;康凯;贾金艳 -专利权人：北京机电工程研究所
申请日： 2020-05-29 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于状态转换图的测试路径生成方法，该方法包括：判断是否需要覆盖状态转移对；在不需要覆盖状态转移对的情况下，生成覆盖每一个中间状态的第一测试路径集；生成覆盖每一个转移的测试路径并与第一测试路径集取并集得到第二测试路径集；确定第一循环子路径的循环次数，生成覆盖每一个第一循环子路径的测试路径并与第二测试路径集取并集得到第三测试路径集；在需要覆盖状态转移对的情况下，生成覆盖每一个状态转移对的第四测试路径集；确定第二循环子路径的循环次数，生成覆盖每一个第二循环子路径的测试路径并与第四测试路径集取并集得到第五测试路径集。本发明能够解决现有技术中生成测试路径方法效率低和覆盖不充分的技术问题。
一种基于状态转换测试路径生成方法

[发明专利]回归测试方法及装置-CN202011540883.7在审
发明人：祁丹 -专利权人：北京焦点新干线信息技术有限公司
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2021-04-16 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种回归测试方法及装置，所述方法包括：获取待进行回归测试的回归测试路径；基于与回归测试路径相关的使用信息，设置回归测试路径的测试优先级，生成测试用例优先级配置文件；根据测试用例优先级配置文件对设置不同测试优先级的回归测试路径进行回归测试，并对得到的回归测试数据进行数据校验；记录未通过数据校验的回归测试路径及回归测试路径的路径参数和对应的回归测试数据。在本方案中，为系统中的待进行回归测试的回归测试路径设置测试优先级，根据测试用例对不同测试优先级的回归测试路径进行回归测试，将得到的回归测试数据进行数据校验，从而保障了回归测试的可靠性，提高了回归测试效率，同时，还降低了回归测试成本。
回归测试方法装置

[发明专利]一种数字集成电路的测试方法-CN201210364697.1有效
发明人：向东;随文杰;陈振 -专利权人：清华大学
申请日： 2012-09-26 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：本发明提出一种数字集成电路的测试方法，包括：A、获取所有测试路径以组成第一测试路径集合；B、从第一测试路径集合中选择满足第一条件的所有测试路径并复制到第二测试路径集合中；C、从第二测试路径集合中选择扇出个数最多的第一测试路径，并计算影响锥和与第一测试路径相关联的测试向量；D、选择标记路径；E、判断标记路径是否满足压缩条件；F、如果满足则生成测试对，并对测试向量进行更新；G、如果不满足则重复执行步骤C至F直至第二测试路径集合为空时得到更新后的最终测试向量根据本发明的实施例具有测试时间短、测试效率高的优点。
一种数字集成电路测试方法

[发明专利]用于生成测试用例的方法和装置-CN201710506076.5有效
发明人：吴舰 -专利权人：百度在线网络技术（北京）有限公司
申请日： 2017-06-28 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请公开了用于生成测试用例的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括：接收测试用例生成请求，测试用例生成请求包括用于生成测试用例的文本；解析文本，生成有向图；深度优先遍历有向图，生成至少一条无环路径；遍历有向图，生成至少一条环路径；对于至少一条无环路径中的每条无环路径，执行以下测试路径生成与添加步骤；对于测试路径集合中的每条测试路径，根据该条测试路径中的各个节点和连接线信息，为该条测试路径生成对应的测试用例。该实施方式不需人工编写测试用例，只需提供可以解析出测试路径的文本，降低了对编写测试用例人员的经验要求，并且所生成的测试路径中可以存在循环，可以解决部分需要多次重复测试的问题。
用于生成测试方法装置

[发明专利]基于测试路径图的软件测试方法及装置-CN201610016211.3有效
发明人：刘朋;曾树奇;张弢 -专利权人：阿里巴巴（中国）有限公司
申请日： 2016-01-08 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种基于测试路径图的软件测试方法及装置，其中，所述方法包括：拆分测试路径图，获得需测试软件的多个测试路径，所述测试路径图为根据需测试软件的应用场景所绘制的，且每个测试路径代表需测试软件的一应用场景，每个测试路径由多个测试节点组成，每个测试节点由动作词和参数组成；根据每个测试路径中测试节点的动作词和参数，分别对需测试软件的应用场景进行测试；采用本申请所公开的方法及装置，可提高软件的测试效率。
基于测试路径软件方法装置

[发明专利]回归测试方法、设备、装置及计算机可读存储介质-CN201810335229.9在审
发明人：周海艳 -专利权人：平安普惠企业管理有限公司
申请日： 2018-04-12 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种回归测试方法，所述回归测试方法包括以下步骤：根据被修复的漏洞和预设测试强度等级，获取回归测试路径，其中，所述回归测试路径包括被修复的漏洞所在的中心路径，以及被修复的漏洞的周围路径，所述周围路径根据所述预设测试强度等级确定；根据所述中心路径和所述周围路径，采用组合测试，生成测试用例；根据所述测试用例，按照所述回归测试路径进行回归测试。本发明还公开了一种回归测试设备、回归测试装置和计算机可读存储介质。本发明在保障了测试可靠性的同时，提高了测试效率，降低了测试成本。
回归测试计算机可读存储介质中心路径测试修复漏洞预设测试可靠性测试成本测试效率等级确定生成测试组合测试

[发明专利]一种面向被测对象信号的测试路径优化方法-CN202210376731.0在审
发明人：王红;靳小波;许萌;贾晋媛;孙雨璐 -专利权人：中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所;北京长城航空测控技术研究所有限公司;北京瑞赛长城航空测控技术有限公司
申请日： 2022-04-11 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明属于路径优化技术领域，具体涉及一种面向被测对象信号的测试路径优化方法。包括以下步骤：S1：获取自动测试系统中被测对象的测试文件，并构建被测对象的有向图；S2：根据被测对象的有向图，获取被测对象的匹配测试路径；S3：对匹配测试路径进行检测，获取被测对象的最优测试路径。该测试路径优化方法通过获取测试文件和采样文件，进行对比；且构建被测对象的有向图；从而得到匹配测试路径；最后对匹配测试路径进行检测，保证整个测试路径规划过程的准确和快速。
一种面向对象信号测试路径优化方法

[发明专利]一种路径延迟故障模拟方法及装置-CN200810057433.5有效
发明人：向东;赵阳 -专利权人：清华大学
申请日： 2008-02-01 - 公布日： 2008-09-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种路径延迟故障模拟方法和装置，首先输入测试电路的电路拓扑结构以及测试电路中的可测路径延迟故障构成的故障集，并输入所述故障集中所有路径延迟故障对应的测试向量构成的测试向量集；根据所述故障集中各路径延迟故障对应的路径，构造选择路径电路；所述选择路径电路为测试电路中具有路径延迟故障的路径的等效电路；根据所述测试向量集中的各测试向量对所述测试电路进行后向故障模拟，并根据模拟得到的路径延迟故障修剪所述选择路径电路。本发明实施例提供的方案，可以在较短的时间内提供精确的路径延迟故障模拟结果，为芯片测试提供了可靠的路径延迟故障模拟方法。
一种路径延迟故障模拟方法装置

[发明专利]数据处理装置和数据处理方法-CN201710197473.9有效
发明人：张沈斌;孙俊;皮冰锋;钟朝亮 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2017-03-29 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：根据本发明的数据处理装置包括：驱动生成单元，用于生成API的测试驱动，测试驱动表示对API进行函数调用；路径生成单元，用于基于符号执行生成API的测试路径和测试路径的约束条件；以及测试用例生成单元，用于基于API的测试驱动、测试路径和测试路径的约束条件生成API的测试用例，其中，路径生成单元生成的测试路径包括API的多行代码，并且路径生成单元用于：当寻找到包括回调函数的代码时，将包括回调函数的代码及其之前的路径所包括的代码作为API的测试路径。使用根据本发明的数据处理装置和数据处理方法，可以针对混合app的API自动生成测试用例。
数据处理装置方法

[发明专利]一种控制模块的测试方法-CN201910551012.6在审
发明人：郭小军;颜波;张放;李晓飞;霍舒豪;王肖;张德兆 -专利权人：北京智行者科技有限公司
申请日： 2019-06-24 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明实施例涉及一种控制模块的测试方法，包括：接收自动驾驶车辆的定位模块发送的状态信息；当状态信息为正常时，生成横纵向控制测试路径；根据测试路径进行速度规划，得到测试路径对应的速度规划信息；根据测试路径和测试路径对应的速度规划信息生成路径规划信息，将路径规划信息发送给自动驾驶车辆的控制模块；接收控制模块根据路径规划信息行驶过程中的实际路径和实际速度信息；根据实际路径和实际速度信息生成路径反馈信息；将路径反馈信息与路径规划信息进行对比，根据对比结果输出控制模块的测试结果
测试路径路径规划信息控制模块速度规划反馈信息实际路径速度信息自动驾驶接收控制模块输出控制模块测试定位模块对比结果信息生成行驶过程纵向控制发送

[发明专利]路径识别卡测试系统-CN201711146921.9在审
发明人：桂杰;秦建良;贾红凯;李志宽;姬生伟;王宏雨;李凤利 -专利权人：北京聚利科技股份有限公司
申请日： 2017-11-17 - 公布日： 2019-05-24 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供一种路径识别卡测试系统。本申请提供的路径识别卡测试系统包括：路径识别卡测试装置、夹具和路径识别卡，路径识别卡的外部不设置有外壳，且路径识别卡不包括电池；路径识别卡测试装置包括：主控板以及和主控板连接的第一读写器、第二读写器、下载电路、电气参数测试电路；在测试过程中，路径识别卡设置在夹具上，下载电路和电气参数测试电路均与所述路径识别卡连接。本申请提供的路径识别卡测试系统可实现对路径识别卡的自动化测试，测试效率高。
路径识别卡测试系统读写器电气参数测试夹具电路测试装置射频天线下载电路主控板申请高频信号收发功率检测电路数字衰减器自动化测试测试过程测试效率基带板电池外部

[发明专利]业务场景测试用例的生成方法、装置、设备和存储介质-CN202111089934.3有效
发明人：赵汝均 -专利权人：广州裕睿信息科技有限公司
申请日： 2021-09-17 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供了一种业务场景测试用例的生成方法、装置、设备和存储介质，方法包括获取与业务场景相关的用户行为路径和测试用例数据；用户行为路径和测试用例数据都标记有用户行为标签；然后采用扩展有限状态机模型对用户行为路径进行扩展，从而得到多个待测试路径；之后将具有相同的用户行为标签的测试用例数据和待测试路径进行组合，就可以形成多个测试用例。其中，具有相同的用户行为标签测试用例数据和待测试路径说明之间相关联。该方法通过对用户行为路径和测试用例数据进行分析生成待测试路径，将相关联的待测试路径和测试用例数据进行组合，就能得到多个测试用例。该方法能快速、智能化地形成多个测试用例，且能提高测试用例的精准性。
业务场景测试生成方法装置设备存储介质

[发明专利]用于控制扫描路径的动态修改的设备和方法-CN200980103733.5无效
发明人：塔潘·乔蒂·查克拉伯蒂;姜辰焕;苏勒什·戈雅尔;米歇尔·波多兰;布拉德福·吉恩·范特卢勒 -专利权人：阿尔卡特朗讯美国公司
申请日： 2009-01-23 - 公布日： 2010-12-29 - 主分类号： G01R31/3185 文献下载
摘要：本发明包括用于使用控制扫描路径来控制测试扫描路径的动态修改的设备和相关联的方法。在一个实施例中，一种设备包括测试扫描路径和控制扫描路径。测试扫描路径包括测试组件和至少一个等级使能组件。在一个实施例中，控制扫描路径包括至少一个控制组件，所述至少一个控制组件耦接到至少一个等级使能组件以控制测试扫描路径的动态修改。在一个实施例中，控制扫描路径包括至少一个等级使能组件，其中至少一个等级使能组件用于使用控制扫描路径来动态修改测试扫描路径。测试扫描路径的动态修改可以包括：修改测试扫描路径的等级，例如选择测试扫描路径的一个或多个等级级别或取消对测试扫描路径的一个或多个等级级别的选择。
用于控制扫描路径动态修改设备方法

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