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[发明专利]一种镜头装配装置及方法、电子设备、计算机可读介质-CN201910517556.0在审
发明人：田贺斌;何志远 -专利权人：北京全欧光学检测仪器有限公司
申请日： 2019-06-14 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G02B27/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种镜头装配装置及方法、电子设备、计算机可读介质，该装置包括：入射光发生系统以及出射光接收系统；入射光发生系统包括：光源以及光信号编辑器件；出射光系统包括：波前传感器以及处理器，光源发出的光依次经过光信号编辑器件、待检测镜头到达波前传感器，波前传感器检测得到第二波前信息。该方法包括：获取第一波前信息经待检测镜头之后、到达波前传感器的第二波前信息，第一波前信息为光源发出的光经光信号编辑器件后、到达待检测镜头处形成的波前信息；第二波前信息进行处理，判断第二波前信息是否为平面波前本发明通过检测波前信息来辅助镜头的装配，提高了检测效率，镜头成像效果最佳。
波前信息波前传感器检测信号编辑光源计算机可读介质镜头镜头装配装置电子设备发生系统出射光入射光装配辅助镜头接收系统镜头成像检测波平面波处理器

[发明专利]一种基于波前控制的畸变图像校正方法-CN202111622690.0在审
发明人：姚建铨;谭琪;王思磊;郑程龙;郝璇若;张海建;张雅婷 -专利权人：天津大学
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于波前控制的畸变图像校正方法，步骤如下：搭建校正光学系统；光路上不设置畸变透镜时，波形传感器测量的光斑为参考波前；当光路中设置畸变透镜时，波形传感器测量的光斑为波前信息；根据参考波前与波前信息获得波前畸变信息；根据实时计算的光斑偏移信息构造畸变波前的倾斜角矩阵；根据倾斜角矩阵计算校正矩阵；根据校正矩阵实时控制变形镜的倾斜角使变形镜获得形变；相机在与波前传感器等像面处实时成像，得到的图像为畸变校正后的图像。本发明通过使用波前传感器获得目标成像时的波前信息并重构，降低图像质量的畸变波前，依据波前信息完成对变形镜的有效控制，使其产生相应形变，使得成像光路能够清晰完整成像。
一种基于控制畸变图像校正方法

[发明专利]一种基于哈特曼波前传感器的波前测量方法-CN201210198965.7有效
发明人：王帅;许冰;杨平;董理治;刘文劲;雷翔;晏虎 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2012-06-15 - 公布日： 2012-10-17 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明是一种基于哈特曼波前传感器的波前测量方法，利用哈特波前传感器中阵列型光电探测器所探测到的光斑阵列图像，获得每个光斑的强度分布信息和相对于标定时的质心位置偏移量，根据质心偏移量，可求出对应子孔径内子波前的倾斜像差信息，再根据光斑的强度分布信息，用相位反演算法可以求出对应子孔径内子波前的离焦、象散等高阶像差信息，两者结合构成子波前，最终用波前重构方法或波面拼接方法将各个子波前重构成整个孔径波前信息；本发明将原本困扰光斑质心计算的光斑弥散分布信息加以利用，获得子孔径内子波前更多的信息量，使其有利于提高哈特曼波前传感器的波前探测精度或降低对子孔径数量的要求。
一种基于哈特曼波前传感器测量方法

[发明专利]激光聚焦光斑控制方法及装置-CN201210491622.X无效
发明人：巩马理;邱运涛;柳强;黄磊;闫平;张海涛;刘欢 -专利权人：清华大学
申请日： 2012-11-27 - 公布日： 2013-02-27 - 主分类号： G02B26/06 文献下载
摘要：该激光聚焦光斑控制方法，包括步骤：S1.提取激光光束的光强分布信息以及波前信息；S2.根据所述光强分布信息以及波前信息，计算对激光光束的最佳补偿波前；S3.根据所述最佳补偿波前补偿激光光束的波前，从而使激光聚焦光斑得到控制本发明的激光聚焦光斑控制方法由于同时利用光强分布信息和波前信息而得到最佳补偿光强，因此能够根据不同的激光光强状态，控制对激光光束补偿的理想波前。
激光聚焦光斑控制方法装置

[发明专利]一种基于时空域预测的波前缺失信息预测补全方法-CN202310260462.6在审
发明人：赵旺;赵孟孟;王帅;杨康建;杨平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于时空域预测的波前缺失信息预测补全方法，该方法基于波前信息在时域和空域上的关联性，利用神经网络建立了时空域融合波前信息预测机制，通过对波前时域和空域特征的提取，实现了对波前缺失信息的预测补全，从时间和空间两个维度上解决了部分子孔径缺光条件下波前传感器高精度波前探测的问题。本发明可实现在时空域有限采样下对当前/未来波前缺失信息的预测补全与高精度重建，有效降低了部分子孔径时空域信息随机缺失对波前传感器探测精度和鲁棒性的影响，提高了波前传感器对光束近场强度非均匀分布的适应能力，有望用于强湍流、强闪烁、长传输近距离、近场光强分布不均匀等情况下的高精度、高鲁棒性波前测量。
一种基于时空预测缺失信息方法

[发明专利]一种波前光刻方法与系统-CN202210484627.3在审
发明人：楼益民;吴锋民;胡娟梅 -专利权人：浙江理工大学
申请日： 2022-05-05 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种波前光刻方法与系统，包括如下步骤：S1、将波前信息分解成若干个子波前信息；S2、采用宏像素来逐个分解、编码并光刻输出具有消散斑、去高斯分布的子波前信息，宏像素单元内包含子波前信息的振幅和相位信息；能够在4π立体角空间内实现参考光物光的任意干涉角度的实时调制，能够高效制备高均匀性、消散斑噪音的复杂微纳结构；能够提高波前信息的信噪比，减少光强受激光的高斯分布的影响，获得高质量的波前信息。
一种光刻方法系统

[发明专利]一种基于压缩感知的波前探测系统-CN201811029190.4有效
发明人：蔡冬梅;贾鹏;韦宏艳;李娟娟 -专利权人：太原理工大学
申请日： 2018-09-04 - 公布日： 2020-04-28 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明涉及自适应光学系统中波前信号的测量。一种基于压缩感知的波前探测器，包括变形镜、波前传感器和计算机，变形镜对波前信息进行下采样然后通过波前传感器得到压缩采样的波前斜率信息传输到计算机，计算机通过重构算法得到完整的波前信息。本发明降低了对硬件的高要求，解决了大量数据存储和传输的问题，提供一种低成本，效果优良的波前探测系统。
一种基于压缩感知探测系统

[发明专利]一种针对中远红外波段的波前探测方法-CN202211288941.0在审
发明人：郭晗;金睿焱;王帅;杨平 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01J5/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种针对中远红外波段的波前探测方法。所述方法通过将中远红外激光照射于特定荧光材料来激发荧光，从而利用荧光材料特性对入射光进行频率上的转换，将入射长波长光信号转换为短波长光信号，利用普通CMOS探测器测量转换后的短波长波前信息，通过转换前的波前信息与转换后的波前信息之间的直接相关关系，可以获得中远红外波段的长波长波前信息，即利用普通CMOS探测器即可探测到长波长波段波前信息，不需要再利用特定红外波段探测器。本发明涉及方法可利用普通夏克哈特曼波前探测器对中远红外波段波前进行探测。相比于专用于长波段的波前传感器，只需要在传输光路上添加荧光材料即可直接探测长波长波前信息。
一种针对红外波段探测方法

[发明专利]一种基于子孔径曲面信息提取的高空间分辨率波前复原方法-CN202310641009.X在审
发明人：官泓利;赵旺;王帅;刘生虎;赵孟孟;赵晨思 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2023-06-01 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于子孔径曲面信息提取的高空间分辨率波前复原方法，该方法将子孔径内波前视为具有倾斜和二次曲率的子波前，基于神经网络拟合子孔径对应光斑与子波前系数的关系，并根据复原矩阵和子孔径内的波前信息复原整个波前本发明提取了子孔径中的斜率和二次曲率信息，因而可以在同等子孔径条件下以更高精度复原波前，相同复原精度下以更少的子孔径数目完成波前复原，为弱光、高精度波前探测等领域提供了一种新的技术途径。
一种基于孔径曲面信息提取空间分辨率复原方法

[发明专利]投影物镜检测的方法-CN200710043624.1有效
发明人：刘国淦;段立峰 -专利权人：上海微电子装备有限公司
申请日： 2007-07-10 - 公布日： 2007-12-05 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明的检测方法包括下列步骤：(a1)移动工件台到指定位置；(a2)向光源发出指令进行照明，光路分离元件把光源分离为测量波前和参考波前后分别投射到光学检测元件上；(a3)光学检测元件接收采集到的图像信息；(a4)对上述图像信息进行计算处理得到真正的相移信息；(a5)将上述相移信息还原波前误差信息；(a6)根据上述波前误差信息，判断上述波前处于的位置并显示波前的特征显示。利用本发明的物镜检测方法可准确得测得物镜的波前误差、放大率、畸变、场曲，并可减小光学检测元件的尺寸，而且制造简单，检测精度高且操作方便。
投影物镜检测方法

[发明专利]一种镜面视宁度评价方法-CN201510967777.X在审
发明人：杨飞;安其昌;赵宏超;郭鹏;姜海波 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-22 - 公布日： 2016-06-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种镜面视宁度评价方法，包括以下步骤：1)利用探测器检测待评价镜面的波前斜率信息；2)将所述波前斜率信息进行傅里叶变换；3)依据所述波前斜率信息和傅里叶变换后波前斜率信息，计算获得原始波前信号功率谱；4)依据所述原始波前信号功率谱，采用合成法计算获得标准化点源敏感性PSSn，依据所述标准化点源敏感性PSSn进行镜面视宁度评价；该评价方法具有评价方法简单，可移植性高，评价效果好，评价全面等优点。
一种镜面视宁度评价方法

[发明专利]一种基于焦面哈特曼波前传感器的大视场波前探测方法-CN202010319791.X在审
发明人：盛良睿;刘爽;杨奇龙;汪韬;袁光福 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2020-04-22 - 公布日： 2020-07-28 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于焦面哈特曼波前传感器的大视场波前探测方法，利用焦面哈特波前传感器中CCD探测器所探测到的光斑阵列图像记录空间信息，微透镜阵列记录了相位信息，即不同视场或角度的入射光波。基于其特殊的光学结构，一次便能测得多个视场的波前信息，从而达到大视场的效果。而传统的波前探测器一般都是小视场或是零度视场，只能探测到中间视场。本发明解决了波前误差大视场测量的问题，在波前探测器探测口径一定的情况下，增大了单次曝光可还原波前信息的视场范围和增强了图像复原精度。
一种基于焦面哈特曼波前传感器视场探测方法

[发明专利]基于机器学习的自适应光学波前校正方法-CN202011147360.6在审
发明人：宁禹;张阳;何宇龙 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-10-23 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于机器学习的自适应光学波前校正方法，该方法包括：控制湍流池产生随机扰动，使准直激光光束波前发生畸变，将光束分束，其中一束经CCD成像模块会聚得到光强图像，其中另一束经波前传感模块处理得到波前相位信息，同时记录光强图像和波前相位信息作为样本训练机器学习模型；将远场光束在CCD成像模块会聚的远场光强图像输入训练好的机器学习模型，获取远场波前相位信息，以此控制波前校正器对远场光束的波前相位进行校正。本发明提供的自适应波前校正方法利用湍流池模拟产生随机扰动，并通过波前探测器获取样本数据，由大量真实数据训练的模型不受光路系统限制，能够简化自适应光学系统结构，提高无波前传感的波前校正精度和速度。
基于机器学习自适应光学校正方法

[发明专利]光学扫描设备-CN200480009905.X无效
发明人： J·J·H·B·施莱彭 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2004-04-05 - 公布日： 2006-05-17 - 主分类号： G11B7/135 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学扫描设备以及用于该设备中的光学波前调节器，以用于扫描包括信息层的光学记录载体，例如光盘。该设备包括辐射光源(9)，用于发射入射辐射光束；检测系统，包括用于接收从信息层反射的辐射并且检测其中的信息信号的信息信号检测器(25)；光学系统(14、12)，用于将入射辐射光束聚焦为记录载体上的光点并且将反射辐射光束引导到信息信号检测器上；以及光学波前调节器(10)，设置在入射辐射光束和反射辐射光束的光路中。该入射辐射光束在其入射到光学波前调节器上之前的给定位置(L)处具有第一波前形状，该反射辐射光束在通过光学波前调节器之后的所述给定位置具有第二波前形状。在本发明的实施例中，该光学波前调节器用于对入射和反射辐射光束进行波前调节，使得第二波前形状基本上不同于第一波前形状。
光学扫描设备

[发明专利]一种基于多视场波前探测与全视场优化的波前校正方法-CN201310319976.0有效
发明人：阮宁娟;程少园;苏云;钟晓明;吕红;金建高;马永利 -专利权人：北京空间机电研究所
申请日： 2013-07-26 - 公布日： 2013-11-27 - 主分类号： G02B26/06 文献下载
摘要：本发明一种基于多视场波前探测与全视场优化的波前校正方法，通过多视场波前探测器实现光学系统多个视场的波前信息的精确探测，通过波前控制器将多个视场的波前信息进行综合解算，求解出最优控制信号，实现光学系统全视场波前像差的最优校正该方法可以将大视场的光学系统各个视场波前像差校正进行平衡和寻优，实现了大视场光学系统全视场波前像差的良好校正，可以显著提高了自适应光学系统的波前校正效能。
一种基于视场探测优化校正方法

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