专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]图案化方法-CN201810342023.9有效
  • 张峰溢;李甫哲;蒋欣妤 - 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
  • 2018-04-17 - 2022-03-15 - H01L21/033
  • 本发明公开一种图案化方法,其包括下列步骤,在第一掩模层上形成第二掩模层。对第一掩模层以及第二掩模层进行图案化制作工艺。第一掩模层被图案化成为第一掩模图案,且第二掩模层被图案化成为第二掩模图案。第二掩模图案形成于第一掩模图案上。对第二掩模图案进行等离子体处理。第二掩模图案的一部分被等离子体处理转换成被处理层。移除被处理层,用以使第二掩模图案的宽度小于第一掩模图案的宽度。
  • 图案方法
  • [发明专利]图案描绘装置-CN201910841697.8有效
  • 铃木智也;加藤正纪;小宫山弘树 - 株式会社尼康
  • 2016-03-18 - 2022-04-01 - G02B26/12
  • 本发明的光束扫描装置(MD),是一边将光束(LB)的点光(SP)投射于对象物(FS)的被照射面、一边进行该点光(SP)于该被照射面上沿扫描线(SLn)的一维扫描,其具备:射入光束(LB)的入射光学构件(M10)、将来自入射光学构件(M10)的光束(LB)为进行扫描而加以偏向的扫描用偏向构件(PM)、射入经偏向的光束(LB)后投射于被照射面的投射光学系统(FT)、以及支承入射光学构件(M10)、扫描用偏向构件(PM)及投射光学系统(FT)、可绕与照射中心轴(Le)在既定容许范围内成同轴的第1旋转中心轴(Mrp)旋转的支承架(40),该照射中心轴相对该被照射面垂直通过以该点光(SP)的扫描在该被照射面上形成的扫描线(SLn)的中点。
  • 图案描绘装置
  • [发明专利]图案描绘装置-CN202010601959.6有效
  • 小宫山弘树 - 株式会社 尼康
  • 2016-06-17 - 2023-06-16 - G03F7/20
  • 本发明的图案描绘装置及图案描绘方法,稳定地维持描绘超详细图案所需的扫描线的配置精度或光学性能。图案描绘装置(EX),使基板(P)上所聚光的光点(SP)沿着描绘线(SL)进行主扫描,并且使基板(P)进行副扫描,藉此于基板(P)上描绘既定图案;该图案描绘装置(EX)使由多面镜(PM)反射的第1光束(
  • 图案描绘装置
  • [发明专利]图案化方法-CN202010504341.8有效
  • 张峰溢;李甫哲 - 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司
  • 2018-03-23 - 2023-05-02 - H01L21/027
  • 本发明公开一种图案化方法,其中该图案化方法包括下列步骤。在材料层上形成掩模层。以第一光刻制作工艺于掩模层中形成第一开孔。在第一开孔中形成第一掩模图案。以第二光刻制作工艺于掩模层中形成第二开孔。在形成第一间隙壁之后,在第二开孔中形成第二掩模图案。第一间隙壁于第二开孔中围绕第二掩模图案。移除掩模层以及第一间隙壁。以蚀刻制作工艺将第一掩模图案以及第二掩模图案的图形转移至材料层。
  • 图案方法
  • [发明专利]图案描绘装置-CN201880052782.X有效
  • 鬼头义昭;加藤正纪 - 株式会社尼康
  • 2018-09-06 - 2023-03-28 - G03F7/20
  • 本发明的图案描绘装置(EX),将作为点光(SP’)投射于基板(P)的描绘光束(LBn)的强度,一边根据以多数个像素(PIC)规定的图案的描绘数据进行调变、一边将点光(SP’)的投射位置在基板(P)上沿像素图案描绘装置(EX),具备:根据描绘数据,对相对扫描中点光(SP’)照射的曝光像素的各个射出作为描绘光束以既定周期(Tf)振荡的脉冲光的既定数,对相对扫描中不被点光(SP’)照射的非曝光像素的各个则中断既定数脉冲光的射出的光源装置(LS),以及根据描绘数据,以使对曝光像素中对应图案边缘部的边缘部曝光像素(PIC’)射出的脉冲光的数量,相对既定数增减的方式控制光源装置(LS)的描绘控制装置(200)。
  • 图案描绘装置
  • [发明专利]图案化工艺-CN201210284795.4无效
  • 陈逸男;徐文吉;叶绍文;刘献文 - 南亚科技股份有限公司
  • 2012-08-10 - 2014-02-12 - H01L21/02
  • 本发明提供一种图案化工艺,包括在一待定义层上形成一具有多个第一开口部的第一掩模层。在第一掩模层上及第一开口部内顺应性形成一第二掩模层。本发明所提供的图案化工艺具有较大的工艺弹性。此外,本发明所提供的工艺可与现行工艺相容,且可在无须使用电子束直写、软X射线、极紫外光等方法的条件下制作出小于关键尺寸的图案,故可节省时间及生产成本,也可避免光学效应不理想的问题。
  • 图案化工
  • [发明专利]图案核对设备-CN97117675.2无效
  • 中岛宽;小林孝次 - 株式会社山武
  • 1997-08-26 - 2002-12-04 - G06K9/78
  • 一种图案核对设备,用于在登记图案与核对图案之间有转动偏移的情况下识别该登记图案与该核对图案是否相等的图案。在核对处理中,从该登记付里叶图象数据以图案为单位读出登记付里叶图象数据,且每一个登记付里叶图象数据都与核对付里叶图象数据相合成,从而进行登记指纹与核对指纹之间的核对。
  • 图案核对设备
  • [发明专利]图案制造方法-CN200610146781.0无效
  • 小岛隆 - 富士通株式会社
  • 2006-11-24 - 2008-01-09 - H01L43/08
  • 本发明提供了一种图案制造方法。该图案制造方法可高精度地控制将读取端子形成为预定图案的光刻胶掩模的形状,使得提高了读取端子的形成精度,并提高了磁头的成品率。该图案制造方法包括如下步骤:在基板上形成要构图的层;在所述要构图的层上形成第一掩模层;在所述第一掩模层上形成第二掩模层,该第二掩模层在干法刻蚀工艺期间具有比所述第一掩模层低的刻蚀速率;对所述第二掩模层进行曝光和显影
  • 图案制造方法
  • [发明专利]图案检查装置-CN200810178239.2无效
  • 野本宪太郎;松田僚三 - 优志旺电机株式会社
  • 2008-11-17 - 2009-05-27 - G01N21/956
  • 本发明提供一种图案检查装置,其不会降低图案检查的处理量,可进行反射照明机构的照度测定,且不会遗漏凹坑的存在。该图案检查装置,其摄像单元(51)于工件(W)的宽度方向进行扫描,以摄像单元接收被反射照明机构(21)照明了的配线图案像,以未图示的控制部予以存储。另外,若反射构件的辉度为下限照度的辉度以上的话,控制部(4)进行所拍摄的配线图案的检查。
  • 图案检查装置
  • [发明专利]图案绘制装置-CN200410031310.6无效
  • 小八木康幸 - 大日本网目版制造株式会社
  • 2004-03-26 - 2005-02-02 - G03F7/20
  • 一种图案绘制装置(1),具有保持基板(9)的台(32);将台(32)移动的台移动机构(2);向基板(9)射出光的光射出部(51);掩模部(52),该掩模部(52)具有形成多个开口的第1掩模(53)和第2在该图案绘制装置(1)中,通过改变第1掩模(53)和第2掩模(54)的开口的重合部分、以及光学组件(58)的倍率,可容易改变所绘制的图案的宽度和间距,可以较高分辨率在基板(9)上的感光材料上高速地绘制条带状的图案
  • 图案绘制装置
  • [实用新型]隐形图案镜片-CN201520457601.5有效
  • 白丰;李云锦;李云棉;陈金清 - 瑞安市嘉崎偏光镜片有限公司
  • 2015-06-30 - 2015-11-18 - G02C7/02
  • 本实用新型涉及一种可在镜片上添加图案用于展示个性或者用于防伪目的的眼镜镜片。该隐形图案镜片,包括有透光镜片,其特征在于:所述透光镜片上设有镀膜层,所述镀膜层上设有形成图案的镂空,所述镀膜层上还设有CLEAR隐形材料层,CLEAR隐形材料层只覆盖在除镂空图案外的其他区域。按照本实用新型提供的隐形图案镜片,在透光镜片上镀有镀膜层,通过雕刻图案的模具在镀膜层上雕刻出图案,然后在镀膜层上涂上隐藏材料,这时候还不能看到图案,要看到图案只需要通过擦拭掉镀膜层上的隐藏材料即可。
  • 隐形图案镜片

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