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[发明专利]一种SiO₂薄膜红外特征吸收峰分峰数量确定方法-CN201410720154.8在审
发明人：刘华松;刘丹丹;季一勤;王利栓;姜承慧;姜玉刚 -专利权人：中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所
申请日： 2014-12-02 - 公布日： 2015-03-25 - 主分类号： G01N21/3563 文献下载
摘要：本发明属于光学薄膜低折射技术领域，具体涉及一种SiO2薄膜红外特征吸收峰数量确定方法。本发明涉及光学薄膜在红外特征吸收峰叠加情况，对叠加吸收峰数量的精确分解方法，具体提出一种对薄膜材料红外特征吸收光谱吸收峰数量的确定方法，其将不同的吸收峰等效为化学物质的成分，利用红外光谱测量技术确定化学物质成分组成的原理，对薄膜样品进行处理后进行吸收峰数量的确定。本发明优点是在于可以准确确定薄膜的吸收峰数量，特别是对于相近吸收峰叠加的情况效果最为明显。由此，本发明提出通对吸收峰的分解方法，实现能够精确确定吸收峰的叠加数量，为材料介电常数的反演计算奠定技术基础。
一种 sio sub 薄膜红外特征吸收峰分峰数量确定方法

[发明专利]一种基于多吸收峰光谱的乙炔气体浓度检测方法及系统-CN202111546395.1在审
发明人：金光贤;刘统玉;朱晓宁;宁雅农;颜亮;董媛媛;高颖;易巧凤 -专利权人：山东微感光电子有限公司;广东感芯激光科技有限公司;兖矿能源集团股份有限公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：本发明公开一种基于多吸收峰光谱的乙炔气体浓度检测方法及系统，包括：对参考乙炔气体的吸收峰光谱进行检测，确定每个吸收峰光谱的中心点位置，并构建气体浓度和吸收峰光谱强度的转换系数序列；根据参考乙炔气体每个吸收峰光谱的中心点位置，确定待测乙炔气体对应吸收峰光谱的中心点位置及相应的吸收峰光谱强度；根据气体浓度和吸收峰光谱强度的转换系数序列，得到待测乙炔气体在不同吸收峰光谱强度下对应的测量浓度，根据测量浓度得到待测乙炔气体的实际浓度在VCSEL激光器的波长扫描周期中，通过若干个吸收峰光谱同时测量乙炔气体的浓度，提高测量精度和准确性。
一种基于吸收光谱乙炔气体浓度检测方法系统

[发明专利]一种确定材料太赫兹吸收峰的方法-CN201811187003.5有效
发明人：张景;殷红成;肖志河 -专利权人：北京环境特性研究所
申请日： 2018-10-12 - 公布日： 2020-12-04 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本发明涉及一种确定材料太赫兹吸收峰的方法，包括：测量样品信号，截取主透射峰，获得时间‑频谱曲线，获得时间‑频谱振幅曲线，以及计算得到吸收峰，得到的吸收峰与材料吸收特性相关，基线平坦，吸收峰明显。该方法针对使用太赫兹波时域光谱系统快速测量材料太赫兹波段吸收峰而设计，通过对材料太赫兹时域光谱信息的时频分析直接得到材料的吸收峰曲线，无需测量材料的参考信号，突破了传统方法需要两次测量才能确定材料吸收峰的限制，提高样品吸收峰的识别速率。
一种确定材料赫兹吸收方法

[发明专利]一种检测目标气体浓度的方法及装置-CN201210258573.5有效
发明人：鞠昱;韩立;谢亮;孙可 -专利权人：中国科学院电工研究所
申请日： 2012-07-25 - 公布日： 2014-02-12 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测目标气体浓度的方法及装置，所述方法用于待测气体中的目标气体对激光吸收强度与本底相当的情况下，所述方法包括：选择目标气体及参比气体；选择目标气体的一个吸收峰作为目标吸收峰，选择参比气体的一个吸收峰作为参比吸收峰；获得参比吸收峰所对应电流值处的基波强度；利用目标吸收峰及参比吸收峰所对应的电流值的差值，获得待测气体中目标吸收峰所对应电流值处由于吸收产生的二次谐波强度；根据所述目标吸收峰所对应电流值处的二次谐波的强度及参比吸收峰所对应电流值处的基波强度获得待测气体的中目标气体的浓度
一种检测目标气体浓度方法装置

[发明专利]一种基于离散极大值的太赫兹吸收峰位提取方法-CN202110885369.5有效
发明人：康旭升;曹雨齐;黄平捷;侯迪波;张光新 -专利权人：浙大城市学院
申请日： 2021-08-03 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于离散极大值的太赫兹吸收峰位提取方法。太赫兹吸收系数光谱中的特征吸收峰在光谱含峰目标物的鉴定研究中起到重要作用，所以特征吸收峰的识别及特征吸收峰位的确定是鉴定研究中的必需工作。所述伴随拐点法主要通过搜寻太赫兹吸收系数光谱中存在的拐点以及伴随拐点对，从而得到原始太赫兹吸收系数谱图对应的基线谱以及差谱，然后根据离散极大值法确定差谱中的峰位信息，即为物质原始谱图的吸收峰位。本发明方法有助于搜寻物质的太赫兹吸收系数谱图中存在的弱峰，通过特征吸收峰实现对物质的信息提取和精准判别，从而提升太赫兹技术对物质的检出效率。
一种基于离散极大值赫兹吸收提取方法

[发明专利]基于太赫兹光谱的物质识别方法、装置、设备及存储介质-CN201810628198.6有效
发明人：程良伦;何伟健;罗鉴鹏 -专利权人：广东工业大学
申请日： 2018-06-19 - 公布日： 2021-01-26 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于太赫兹光谱的物质识别方法、装置、设备及存储介质，包括：对待测物质单次测得的太赫兹光谱曲线进行吸收峰的提取；重复多次测量并通过引力算法提取在多次测量中共有的吸收峰作为待测物质的特征吸收峰，并计算每个特征吸收峰的置信度，得出特征吸收峰数据集合；从光谱数据库中获取至少一种可能包含待测物质的标准物质的标准特征吸收峰数据集合；通过逆引力算法匹配特征吸收峰数据集合和标准特征吸收峰数据集合，计算出两种物质的相似度本申请通过引力算法提取特征吸收峰并计算置信度，利用吸收峰数据集合的匹配来识别，有效避免了幅值波动对特征提取的影响，提高了识别率。
基于赫兹光谱物质识别方法装置设备存储介质

[发明专利]一种基于紫外吸收光谱的白酒鉴别方法-CN202110073015.0有效
发明人：林珂;王志强;陈驰;张睿挺;马琳;乔宗伟;张强;王洪 -专利权人：西安电子科技大学;宜宾五粮液股份有限公司
申请日： 2021-01-20 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： G01N21/33 文献下载
摘要：一种基于紫外吸收光谱的白酒鉴别方法，包括以下步骤：采集蒸馏水的紫外吸收光谱；采集待测样品的紫外吸收光谱；用待测样品的紫外吸收光谱减去蒸馏水的紫外吸收光谱，得到待测样品的真实吸收光谱；提取真实吸收光谱上210nm吸收峰的吸收强度以及277nm吸收峰的吸收强度；计算277nm吸收峰的吸收强度和210nm吸收峰的吸收强度的比值；将277nm吸收峰的吸收强度以及两个吸收峰的吸收强度的比值分别和吸收强度标准值以及吸收峰吸收强度标准比值进行对比
一种基于紫外吸收光谱白酒鉴别方法

[发明专利]一种工业艺术仿品的鉴定方法及装置-CN201310390257.8在审
发明人：欧阳启名;赵美红;方炎;王培杰;张利胜 -专利权人：首都师范大学
申请日： 2013-08-30 - 公布日： 2015-03-18 - 主分类号： G01N21/35 文献下载
摘要：该方法包括：获得第一墨迹的红外吸收光谱的吸收峰位置，所述第一墨迹为待鉴定艺术品的墨迹；比较所述第一墨迹的吸收峰位置与预先获得的第二墨迹的吸收峰位置，所述第二墨迹为艺术真品的墨迹；当所述第一墨迹的吸收峰位置与所述第二墨迹的吸收峰位置不一致时本发明实施例通过获得待鉴定艺术品墨迹的红外吸收光谱的吸收峰位置，并与艺术真品墨迹的红外吸收光谱的吸收峰位置对比，实现了对艺术仿品的鉴定。
一种工业艺术鉴定方法装置

[发明专利]色彩增益光学透镜装置-CN202010393313.3在审
发明人：吴天恕;简志仰;吴彦廷 -专利权人：杏晖光学(厦门)有限公司
申请日： 2020-05-11 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G02B3/00 文献下载
摘要：一种色彩增益光学透镜装置包括一透镜本体、一光学滤镜及一光学吸收部。该透镜本体包括一第一透镜表面及一第二透镜表面，而该光学滤镜配置于该透镜本体的第一透镜表面及第二透镜表面之间，且该光学吸收部提供于该光学滤镜。该光学吸收部包括一第一主吸收峰区及一第二主吸收峰区，而该第一主吸收峰区包括一第一吸收峰部，且该第二主吸收峰区包括一第二吸收峰部。该第一主吸收峰区具有一第一波长范围，而该第一波长范围为在420nm至440nm之间，且该第一主吸收峰区为一高能蓝紫外光吸收区，且该第二主吸收峰区具有一第二波长范围，且该第二主波长范围为在580nm至610nm
色彩增益光学透镜装置

[发明专利]一种识别目标气体中干扰气体的方法及装置-CN201811190691.0在审
发明人：陶俊;向少卿 -专利权人：上海禾赛光电科技有限公司
申请日： 2018-10-12 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：所述方法包括使用激光器扫描目标气体并获取所述目标气体对应的吸收谱线；根据所述吸收谱线得到多个吸收峰；根据所述目标气体的成分获取每个吸收峰对应的浓度系数；根据每个吸收峰和其对应的浓度系数计算每个吸收峰对应的气体浓度；判断各个吸收峰对应的气体浓度差是否均小于预设阈值，若是，则判定不存在干扰气体；若否，则判定存在干扰气体。本发明通过获取多个吸收峰进而计算各个吸收峰对应的气体浓度，若浓度差别较小，则判定不存在干扰气体，反之判定干扰气体存在，因此，能够基于激光探测有效地避免干扰气体对测量结果的影响，减少误差。
干扰气体吸收峰目标气体判定浓度系数吸收谱线激光探测浓度差别扫描目标激光器浓度差有效地预设

[发明专利]正品桑白皮的红外光谱鉴别法-CN99106529.8无效
发明人：孙静芸 -专利权人：浙江省中医药研究院
申请日： 1999-05-21 - 公布日： 2000-11-29 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本发明涉及用红外光谱鉴别正品桑白皮的方法,该法是取样品细粉数毫克,加入60～70倍量溴化钾研匀、压片,用红外光谱仪测透射率,把4000～400cm－1波数区域内透射率最大的吸收位置出现的峰作为基准吸收峰的透射率(Ts),以基准吸收峰为起点,沿波数减小区域透射率最小的吸收位置的峰的透射率作为特征吸收峰的透射率(Ti),按式Tr=Ti/Ts计算样品特征吸收峰透射率的相对透射率(Tr),满足Tr值小于1,且特征吸收位置的峰为单峰者
正品桑白皮红外光谱鉴别

[发明专利]一种新型洗涤去污能力的测定方法及应用-CN201710979789.3在审
发明人：张剑;王雄健;杨媛 -专利权人：山西大学
申请日： 2017-10-19 - 公布日： 2018-03-09 - 主分类号： G01N21/3563 文献下载
摘要：本发明新型洗涤去污能力的测定方法，包括以下步骤(1)通过光密介质打到标准白布上，获得标准白布特征吸收峰；(2)通过光密介质打到标准污布上，获得标准污布特征吸收峰；(3)以红外光束通过光密介质打到待测污布上，获得待测污布特征吸收峰，然后对待测污布进行清洗，清洗后再次采用红外光谱仪以红外光束通过光密介质打到清洗后的待测污布上，得到待测污布清洗后特征吸收峰；(4)将待测污布特征吸收峰、待测污布清洗后特征吸收峰与标准污布特征吸收峰和国标白布特征吸收峰进行对比
一种新型洗涤去污能力测定方法应用

[发明专利]通过调节QCL激光器波长匹配不同吸收峰的低功耗控温方法-CN202111488201.7在审
发明人：胡杰;刘统玉;马春飞;宁雅农;金光贤;王兆伟 -专利权人：山东微感光电子有限公司;广东感芯激光科技有限公司;山东省科学院激光研究所
申请日： 2021-12-07 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： G01N21/39 文献下载
摘要：本发明提出了通过调节QCL激光器波长匹配不同吸收峰的低功耗控温方法，包括：基于激光器波长随激光器温度变化的关系获得当前激光器所处环境温度对应的波长值；选择距离上述波长值最近的气体吸收峰作为特选吸收峰，以使吸收峰对应的激光器温度和环境温度保持最小温差；通过TEC调整激光器温度，使激光器输出波长与所述吸收峰的波长吻合，然后进行气体测量。由于采用了环境温度和吸收峰对应的激光器温度温差最小的方法来选择不同的吸收峰，所以通过TEC将激光器波长稳定在不同吸收峰所用地功耗最小，从而使激光器在整个工作温度范围内所需要的功耗最小，结果降低了整个气体传感器功耗
通过调节 qcl 激光器波长匹配不同吸收功耗方法

[实用新型]反峰电压消除电路和电机驱动系统-CN202020729619.7有效
发明人：李彬;林春;王文雅 -专利权人：北京嘉捷恒信能源技术有限责任公司
申请日： 2020-05-06 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： H02P29/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种反峰电压消除电路和电机驱动系统，反峰电压消除电路包括：反峰吸收电容、电阻削反峰电路和卸荷电阻；电阻削反峰电路包括：比较组件、削反峰控制组件和削反峰电阻组件。比较组件检测电源输出母线的电压是否超过电压过压点；削反峰控制组件根据比较组件输出的电平，控制削反峰电阻组件对反峰电压进行消除的开启与关闭；反峰吸收电容和削反峰电阻组件均可消除电源输出母线上的反峰电压；卸荷电阻对反峰吸收电容进行卸荷这样，可以利用反峰吸收电容与削反峰电阻组件并联，实现削反峰功能，防止母线上高电压的产生，可以减小电容的容量从而减小其占用的体积，使得设备体积变小，提高设备的便捷性，降低成本。
电压消除电路电机驱动系统

[发明专利]二极管泵浦掺镱激光器-CN201080052722.1无效
发明人： A·S·包科 -专利权人：康宁股份有限公司
申请日： 2010-09-20 - 公布日： 2012-09-12 - 主分类号： H01S3/109 文献下载
摘要：增益介质包括掺镱玻璃或掺镱玻璃陶瓷增益介质，并通过包括最大吸收峰和次大吸收峰的吸收光谱来表征，最大吸收峰和次大吸收峰各自沿着增益介质的吸收光谱的不同波长部分设置。光泵和增益介质被构造成使得泵浦波长λ与增益介质的次大吸收峰比与增益介质的最大吸收峰更精密地对准。也公开了其它实施例并提出权利保护。
二极管泵浦掺镱激光器

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