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- [发明专利]一种芯片质量检测系统及方法-CN202310398020.8有效
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陈孝金
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深圳市宇芯数码技术有限公司
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2023-04-14
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2023-06-30
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G06Q10/0639
- 本发明公开了一种芯片质量检测系统及方法,所述方法用于检测芯片封装质量可靠性,包括确定封装工艺流程,采集所述封装工艺各工艺子流程的质量评价指标数据,采用最小‑最大规范化数据处理方法将采集的子流程质量评价指标数据归一化处理,采用主成分分析法对归一化处理后的子流程质量评价指标数据进行主成分分析,提取累计超过85%的主成分作为神经网络的输入,构建BP神经网络模型,并通过模型计算预测芯片封装合格率。该检测方法采用主成分分析法提取影响芯片封装质量的主成分,对芯片封装过程的子工艺进行分析控制,并基于分析结果,通过构建BP神经网络对芯片封装质量可靠性进行预测。
- 一种芯片质量检测系统方法
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