专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]食用明胶品质的低场核磁共振检测方法-CN201310594265.4在审
  • 王欣;黄远芬;夏义苗;刘宝林 - 上海理工大学
  • 2013-11-21 - 2015-05-27 - G01N24/08
  • 本发明公开了一种食用明胶品质的低场核磁共振检测方法,该方法包括以下步骤:a、将食用明胶、工业明胶按照与水的质量体积浓度为25%的比例溶解于蒸馏水中后,进行低场核磁共振检测,由此得到纯明胶的低场核磁共振图谱信息;配制一系列掺有不同质量分数工业明胶的食用明胶掺伪样品,进行低场核磁共振检测,得到各掺伪样品的低场核磁共振图谱信息,建立食用明胶低场核磁共振图谱信息数据库;b、将待测明胶样品进行低场核磁共振检测,并将得到的图谱信息与食用明胶低场核磁共振图谱数据库中的图谱信息进行分析比较,确定待测食用明胶中是否掺有工业明胶。
  • 食用明胶品质核磁共振检测方法
  • [发明专利]一种基于的原子磁强计极化率测量方法-CN202310308030.8在审
  • 翟跃阳;李任杰;李佳洁 - 北京航空航天大学
  • 2023-03-27 - 2023-07-18 - G01R33/032
  • 一种基于的原子磁强计极化率测量方法,以原子磁强计为主要研究对象,利用色散曲线获得磁强计的磁线宽,进而获得磁强计的总率。并通过大范围变动磁强计的抽运光功率密度,获得总率随光功率密度的变化关系,同时考虑率饱和的部分,并对此关系进行拟合,分别获得抽运率与其他率,此时即可获得原子磁强计的极化率。此方法由于考虑了率的饱和,大大提高了极化率测量的精度和可靠性,并可同时应用于单轴磁强计、双轴磁强计和三轴磁强计,而不需要任何额外的辅助或校准设备。
  • 一种基于原子磁强计极化测量方法
  • [发明专利]一种具有高度SiGe缓冲层的制备方法-CN201110223233.4无效
  • 王向展;于奇;杨洪东;王微 - 电子科技大学
  • 2011-08-05 - 2011-11-23 - H01L21/336
  • 一种具有高度(SiGe)缓冲层的制备方法,属于半导体技术领域,特别涉及锗硅(SiGe)缓冲层的制备方法。Si)衬底和锗硅(SiGe)缓冲层界面形成一层具有黏性流动性的材料(如硼硅玻璃、或硼磷硅玻璃);再采用高温退火,或快速热退火等退火技术,修复锗硅(SiGe)层中因离子注入而产生的晶格损伤,并使应力完全;利用硅(Si)衬底和锗硅(SiGe)缓冲层中间形成的材料的黏性和流动性,使得上面的锗硅(SiGe)缓冲层中的应力。采用本发明,可制作一种厚度薄,度高,表面质量好的锗硅(SiGe)缓冲层。
  • 一种具有高弛豫度sige缓冲制备方法

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