专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种电力仪表的脉冲常数的设置方法-CN201410457618.0有效
  • 陈德才;邬永强 - 浙江万胜电力仪表有限公司
  • 2014-09-09 - 2019-05-14 - G01R35/04
  • 本发明提供一种电力仪表的脉冲常数的设置方法,可以在指定的脉冲常数组内选择任意一个脉冲常数为电力仪表的脉冲常数,而电力仪表的电能计量精度和电能脉冲精度不变。步骤1):指定一个有若干个脉冲常数以及校准脉冲常数A的脉冲常数组,校准脉冲常数A为脉冲常数组中的所有脉冲常数的公倍数;步骤2):设置电力仪表的电能计量模块的脉冲常数为校准脉冲常数A并校准电能计量模块,步骤3):选择脉冲常数组中的任意一个脉冲常数为电力仪表的脉冲常数C,计算出电力仪表的电能计量模块分频器的分频系数D,将分频系数D和步骤2)中所述的电力仪表的电能计量模块的校准数据设置到电力仪表的电能计量模块中,得到脉冲常数为脉冲常数C的电力仪表。
  • 一种电力仪表脉冲常数设置方法
  • [发明专利]可显示常数的计算装置及其方法-CN03103001.7无效
  • 庄佳婷;陈培智 - 金宝电子工业股份有限公司
  • 2003-01-27 - 2004-08-18 - G06F15/00
  • 本发明涉及一种可显示常数的计算装置及其方法。主要是于一计算器内设有按键判断单元,以判断输入单元所输入按键的功能、一储存常数信息的常数单元数据库、一常数执行单元根据按键判断单元的判断结果以读取常数单元数据库,并由一输出单元输出显示常数的数值、单位、操作时可于常数选单界面下直接输入常数的代表值,或切换常数选单界面的页面,以找出欲输入的常数后,最后直接将常数输入,利用切换以显示出常数的数值、单位、符号及代表值。
  • 显示常数计算装置及其方法
  • [发明专利]一种基于数据流的异常数据检测模型更新方法和装置-CN202010751183.6有效
  • 王腾江;陈兆瑞 - 浪潮通用软件有限公司
  • 2020-07-30 - 2023-06-27 - G06F18/23
  • 本发明公开了一种基于数据流的异常数据检测模型更新方法和装置,该方法包括:基于初始数据集训练聚类算法的初始化模型,获得包括正常数据集和异常数据集的聚类模型;持续从数据流中接收新数据,并依次基于聚类模型确定新数据为正常数据或异常数据、响应于新数据为正常数据,而确定聚类模型在新数据的邻域范围内是否存在异常数据、响应于存在异常数据,而分别将每个异常数据重置为正常数据,并进一步将重置后的数据作为新数据迭代重复执行上一步骤,直到邻域范围内不存在异常数据、将所有从异常数据重置而获得的正常数据从异常数据集移入正常数据集中,并将新数据加入正常数据集中。
  • 一种基于数据流异常数据检测模型更新方法装置
  • [发明专利]一种异常数据指标分析的方法及装置-CN201811452306.5有效
  • 马志伟;苏杰 - 深圳市创梦天地科技有限公司
  • 2018-11-30 - 2022-10-14 - G06F11/30
  • 本发明公开了一种异常数据指标分析的方法和装置,其中该方法包括:获取异常数据指标;根据异常数据指标的实际值、异常数据指标的预测值、异常数据指标在目标因素下的预测值和异常数据指标在目标因素下的实际值确定目标因素导致异常数据指标发生异常的几率;根据目标因素导致异常数据指标发生异常的几率确定目标因素是否是导致所述异常数据指标发生异常的因素。采用本发明实施例,通过分析目标因素导致异常数据指标发生异常的几率,可以快速有效确定导致异常数据指标发生异常的因素。
  • 一种异常数据指标分析方法装置
  • [发明专利]数据治理方法、装置、设备及存储介质-CN202111425539.8在审
  • 赵洁 - 泰康保险集团股份有限公司;泰康在线财产保险股份有限公司
  • 2021-11-26 - 2022-03-04 - G06F16/215
  • 本说明书涉及数据治理技术领域,提供了一种数据治理方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:从包含多个数据表的数据库中识别异常数据,形成异常数据集合;从异常数据集合中选择目标异常数据,并确认多个数据表中是否存在与目标异常数据对应的多个正常数据;若多个数据表中存在与目标异常数据对应的多个正常数据项,且多个正常数据项的数据一致,则根据正常数据项修复目标异常数据;或者,若多个数据表中存在与目标异常数据对应的多个正常数据项,且多个正确数据项的数据不一致,则根据预设的数据优先级从多个正常数据项中选择基准数据项,并根据基准数据项修复目标异常数据。
  • 数据治理方法装置设备存储介质
  • [发明专利]半导体结构的制备方法及半导体结构-CN202310962831.6在审
  • 朱惠薇;郭歆;庞微 - 长鑫科技集团股份有限公司
  • 2023-07-31 - 2023-10-13 - H01L21/768
  • 该制备方法包括如下步骤:提供衬底,衬底包括隔离层以及位于隔离层中的金属接触;在衬底上制备低介电常数层,低介电常数层包括沿远离衬底的方向依次层叠的第一低介电常数子层、第二低介电常数子层和第三低介电常数子层,其中第二低介电常数子层的介电常数小于第一低介电常数子层的介电常数以及第三低介电常数子层的介电常数;刻蚀低介电常数层和隔离层,形成贯穿低介电常数层、且底部位于隔离层中的沟槽,自第一子低介电常数子层起,沿靠近衬底的方向
  • 半导体结构制备方法

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