专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种刻蚀机测试探针固定块-CN202223277698.0有效
  • 卞玉;高志祥;张龙桃;姚晓文;白利才 - 南京中电熊猫晶体科技有限公司
  • 2022-12-07 - 2023-06-13 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及石英晶体电子元器件制造技术领域,具体涉及一种刻蚀机测试探针固定块;包括测试PCB板、双头测试探针和固定块,固定块具有探针孔洞,双头测试探针贯穿探针孔洞,双头测试探针的一端与测试PCB板相贴合,通过将双头测试探针直接安插在探针孔洞处,将固定块安装在刻蚀机相应位置,安装后双头测试探针和不带探针套管通孔的测试PCB板紧密贴合在一起;使用刻蚀机测试探针固定块后,更换双头测试探针时不需要焊接的步骤,直接插拔双头测试探针即可,更换双头测试探针消耗时间减少,提高了工作效率;同时由于不需要在测试PCB板进行重复焊接,测试PCB板使用寿命得到延长,获得提高调频工序的生产效率的效果。
  • 一种刻蚀测试探针固定
  • [发明专利]一种手术导航定位探针架-CN202211291546.8在审
  • 何松涛;曹柯;李珊;张俊 - 衡阳市大井医疗器械科技有限公司
  • 2022-10-20 - 2023-01-31 - A61B34/20
  • 本发明涉及手术探针领域,具体的说是一种手术导航定位探针架,包括第一试探结构、第二试探结构、第三试探结构和床板,床板的上端后部滑动连接有第一试探结构,床板的上端中心滑动连接有第二试探结构,床板的上端前部滑动连接有第三试探结构床板的下端固定连接有支撑架,支撑架的横向位置处固定连接有支撑板,床板的两端上部均固定连接有第一轨道架,第一轨道架的上端固定连接有第一定位架,床板的两侧下部固定连接有第二轨道架,第二轨道架的下端固定连接有第二定位架,第一试探结构包括探测部件,探测部件设在第一试探结构的内部中心。通过第一试探结构的设置,实现手术时导航定位的目的。
  • 一种手术导航定位探针
  • [发明专利]电表测试棒及使用该电表测试棒的电表组合-CN201811368292.9有效
  • 张尚文;林寿桦 - 瑞星科技股份有限公司
  • 2018-11-16 - 2022-10-21 - G01R35/04
  • 本发明公开了一种电表测试棒及使用该电表测试棒的电表组合,其中该电表测试棒为两测试探针所组成,其中每个测试探针的前端用以分别插接在一电表的测量孔位上,末端则供接触待测物后,以进行高电压、高电流或是电阻等数值的测量,至少一个测试探针的前端周围设有一被侦测装置,藉以使与该电表插接时,该电表可判断目前所插接的测试探针种类,以及判断该测试探针是否适用于当前电表所在的测量模式;该电表对应上述设有该被侦测装置的测试探针的测量孔位设有一判断机制,藉此当上述设有该被侦测装置的测试探针或其他种类测试探针插接于该测量孔位后,该电表可判断该测试探针是否适用于目前电表所在的测量模式。
  • 电表测试使用组合
  • [实用新型]PCB板阻抗测试探-CN200920261902.5无效
  • 杨青枝;李刚;胡小锋 - 深南电路有限公司
  • 2009-12-22 - 2010-11-10 - G01R1/067
  • 本实用新型适用于测试装置领域,提供了一种PCB板阻抗测试探头,包括测试基板及测试探针,所述测试探针包括针套和插接于所述针套内的针头,所述针套固设于所述测试基板上,所述针套与位于所述测试基板上的信号线连接本实用新型的测试探针更换方便,当测试探针的针头出现损坏时,只需将损坏的针头取出,再将一个合格的针头与针套进行插接即可。与现有技术相比,本实用新型避免了将损坏的测试探针从测试基板上拆卸下来,不需将新的测试探针与测试基板再次进行焊接,减少了测试探针与测试基板之间的焊接次数,延长了PCB板阻抗测试探头的实际使用寿命。
  • pcb阻抗测试探头
  • [发明专利]一种半导体晶圆片多路测试方法和多路测试探针台-CN200510102170.1有效
  • 杨波 - 深圳市矽电半导体设备有限公司
  • 2005-12-05 - 2006-06-21 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种半导体晶圆片多路测试方法,由探针台主机控制多路切换器,使测试机的测试头依次与与各组测试探针连接。还公开了一种多路测试探针台,其探针台主机嵌入有多路测试及通信软件;测试探针头是多芯片测试探针头,其上设有可以同时与多个芯片连接的多组测试探针;作标记装置是多路作标记装置,由探针台主机控制给测试出的不合格芯片作标记;还设有路数与多芯片测试探针头的测试探针数量相同的多路切换器,多路切换器通过另一控制线与测试探针头相连接,将测试机的测试头与各路对应的多芯片测试探针头的一组测试探针分别连通。
  • 一种半导体晶圆片多路测试方法探针
  • [实用新型]一种用于静音开关导通测试的测试探针连接电路板-CN202022378593.9有效
  • 林懋瑜;李明;黎启东;郝瑶 - 苏州汇亿达光学科技有限公司
  • 2020-10-23 - 2021-08-31 - G01R31/327
  • 一种用于静音开关导通测试的测试探针连接电路板,包括:测试探针连接电路板为一基本矩形的板式结构,板式结构的中部设置多个下压探针电路板过穿孔和多个测试探针焊接孔,下压探针电路板过穿孔的直径大于下压探针的直径,使下压探针无阻碍的穿过下压探针电路板过穿孔;每一个测试探针直接焊接在对应的一测试探针焊接孔上;矩形板式结构的四个直角处设置四个固定孔,固定孔的直径与连接测试探针固定板的铜柱的直径相适应,使测试探针连接电路板稳固地连接在测试探针固定板上本实用新型解决了当前测试过程中,测试探针和下压探针的下压动作需要用一个执行机构控制,需要一适合设计要求的测试探针连接电路板的问题。
  • 一种用于静音开关测试探针连接电路板
  • [实用新型]一种多工位温度系数测试治具-CN202220197021.7有效
  • 胡紫阳;李智德;邓小辉 - 深圳市业展电子有限公司
  • 2022-01-24 - 2022-09-27 - G01R27/02
  • 本实用新型涉及电阻温度系数测试技术领域,公开了一种多工位温度系数测试治具,包括:上夹板与下夹板,下夹板上设有用于装载待测试电阻的料槽,上夹板与下夹板可拆卸连接,上夹板上安装有均用于连接待测试电阻的第一测试探针与第二测试探针,第一测试探针与第二测试探针的一端均设有测试线,测试线与外部测试仪相连,第一测试探针、第二测试探针与测试线的数量均设为多组。通过料槽装载待测试电阻,第一测试探针与第二测试探针均起测试作用,通过上夹板与下夹板夹紧,使第一测试探针和第二测试探针均与待测试电阻接触,进而提供了一种多工位温度系数测试治具,方便多个电阻同步测试温度系数
  • 一种多工位温度系数测试
  • [发明专利]刷架功能测试装置及方法-CN201910539504.3有效
  • 黄占成;万金平 - 昆山埃维奥电机有限公司
  • 2019-06-20 - 2021-08-03 - G01R31/54
  • 本发明公开了一种刷架功能测试装置,包括测试底座、测试探头和控制器,所述测试探头设置于所述测试底座上方且可相对于所述测试底座上升或下降,在所述测试底座上设置有多组测试探针,所述测试探头、测试探针电连接所述控制器所述刷架功能测试装置中,测试探头与测试底座配合,通过测试探头与各测试探针的导通连接,实现了刷架上多处碳刷导通性能的同步检测,整个测试过程由控制器控制,自动化程度高、便于操作,提高了测试效率和测试可靠性。
  • 功能测试装置方法

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