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[实用新型]平面测试探头定位装置和测试设备-CN201821879096.3有效
发明人：张乐;李建强 -专利权人：深圳TCL数字技术有限公司
申请日： 2018-11-14 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开一种平面测试探头定位装置和测试设备，用于定位测试探头，该平面测试探头定位装置包括：固定件，套设于所述测试探头；至少两个定位组件，每一所述定位组件的一端与所述固定件连接，每一所述定位组件的另一端吸附于待测试平面，至少两个所述定位组件围绕且均匀排布于所述固定件的周缘；所述固定件与至少两个所述定位组件配合将所述测试探头定位于所述待测试平面，以使所述测试探头与所述待测试平面垂直。本实用新型提出的平面测试探头定位装置能够将测试探头垂直定位于待检测平面，测试的准确性高。
测试探头定位组件定位装置固定件测试平面本实用新型测试设备垂直定位定位测试均匀排布探头吸附垂直测试检测配合

[实用新型]一种光伏组件测试工装-CN202221647149.5有效
发明人：李建伟;李亚飞 -专利权人：唐山永润科技有限公司
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本申请提供一种光伏组件测试工装，包括：底座、固定板、升降组件；所述底座上设有所述导电端，所述固定板上设有测试探针和所述升降组件；所述升降组件能够带动所述固定板和所述测试探针靠近所述测试探针，使所述测试探针与所述导电端抵接实现光伏测试；所述测试探针的外侧罩设有防护组件。当所述测试探针和所述导电端抵接产生电流时，所述防护组件能够避免电流外漏。通过在所述固定板靠近所述底座的一侧加设防护组件，当所述升降组件带动所述固定板以及所述测试探针靠近所述导电端并开始测试时，所述防护组件能够防止所述测试探针与所述导电端接触产生的电流外漏，避免造成危险。
一种组件测试工装

[实用新型]一种测试探针-CN200820238390.6有效
发明人：覃早才 -专利权人：南京协力多层电路板有限公司
申请日： 2008-12-30 - 公布日： 2009-10-28 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种测试探针，目的是提供一种结构简单，对印制电路板焊盘所造成压痕非常小的测试探针。本实用新型的技术方案是：一种测试探针，包括测试探头和支架组成，所述支架为长方形框架，材质为弹簧塑料，所述测试探头固定在框架的右边上。
一种测试探针

[实用新型]一种万能断路器耐压电阻测试组件-CN201821484410.8有效
发明人：谢建;储昭坤 -专利权人：江苏瑞峰自动化系统有限公司
申请日： 2018-09-11 - 公布日： 2019-05-24 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种万能断路器耐压电阻测试组件，它包括水平运动机构、可滑动地安装在所述水平运动机构上的滑板、安装在所述滑板上的回路电阻测试探针组以及安装在所述滑板上且位于所述回路电阻测试探针组一侧的耐压测试探针组这样能够带动回路电阻测试探针组、耐压测试探针组在水平面上进行移动从而实现回路电阻测试探针组、耐压测试探针组与万能断路器的精准对接，从而实现回路电阻、耐压的准确测试。
探针组回路电阻测试耐压测试断路器滑板耐压水平运动机构电阻测试本实用新型回路电阻可滑动地测试移动

[实用新型]芯片测试打点机-CN201120562638.6有效
发明人：邓华鲜;孙晓家 -专利权人：乐山嘉洋科技发展有限公司
申请日： 2011-12-29 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试打点机，包括打点标记针、芯片承载运动平台、测试探针和用于固定测试探针的固定架，所述打点标记针包括第一打点标记针和第二打点标记针，所述测试探针包括与第一打点标记针配合的第一测试探针和与第二打点标记针配合的第二测试探针，第一测试探针和第二测试探针位于第一打点标记针和第二打点标记针之间，第一打点标记针和第一测试探针之间的距离为一个芯片的长度，第二打点标记针和第二测试探针之间的距离为一个芯片的长度。
芯片测试打点

[实用新型]电池短路测试夹具-CN201120464508.9有效
发明人：周亮 -专利权人：深圳市慧通天下科技股份有限公司
申请日： 2011-11-21 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开一种电池短路测试夹具，包括底座、上固定板、直线驱动装置、滑动板、导柱、探针固定块、探头固定块、电池定位块、测试探头、测试探针和测试仪表；导柱固定于底座和上固定板之间，直线驱动装置安装于上固定板上，滑动板由直线驱动装置驱动在导柱上直线运动，测试探针固定于探针固定块上，测试探针的下端为针状，测试探头有两个，活动设置于探头固定块上的条状通孔中，探针固定块与探头固定块均固定于滑动板上，测试探针和测试探头电连接测试仪表；电池定位块固定于底座上，且位置与测试探针和测试探头位置相适配。
电池短路测试夹具

[实用新型]一种柱形交流电磁场检测笔试探头-CN201621467867.9有效
发明人：杨伟超;李伟;陈国明;袁新安 -专利权人：中国石油大学（华东）
申请日： 2016-12-29 - 公布日： 2017-07-21 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：一种柱形交流电磁场检测笔试探头，包括笔试探头主体，磁检测传感器，矩形磁芯甲，矩形磁芯乙，笔试探头压盖，固定螺钉，信号放大模块，航空接头，所述笔试探头主体包含笔头，探头检测凹槽，探头激励凹槽，所述磁检测传感器安装在探头检测凹槽内，所述矩形磁性甲与矩形磁芯乙安装在探头激励凹槽内，并布置在磁检测传感器的两侧，所述笔试探头压盖顶部开有圆柱形安装孔，所述笔试探头压盖通过固定螺钉与笔试探头主体固定安装，所述信号放大模块通过固定螺钉固定在笔试探头压盖的侧面，所述航空接头通过与圆柱形安装孔过盈配合安装在笔试探头压盖的顶部，通过该交流电磁场笔试检测探头，可以检测狭窄区域的缺陷信息，有效的减少了检测盲区。
一种交流电磁场检测笔试探头

[实用新型]电阻测试电路-CN201721762175.1有效
发明人：刘金月 -专利权人：上海博泽电机有限公司
申请日： 2017-12-15 - 公布日： 2018-07-10 - 主分类号： G01R27/14 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种电阻测试电路，其包括：待测电阻(Rt1)；电压源(11)；第一电流表(12)；第一测试探针(14)；第二测试探针(15)；已知电阻(Rn1)；第三测试探针(16)；第二电流表(13)；和第四测试探针(17)。电阻测试电路还包括预定电阻(Rk)，预定电阻(Rk)具有预先确定的电阻值，其中第一测试探针(14)和第三测试探针(16)连接到待测电阻(Rt1)的第一端，第四测试探针(17)连接到预定电阻(Rk)的第一端，第二测试探针(15)连接到待测电阻(Rt1)的第二端和预定电阻(Rk)的第二端。本实用新型的电阻测试电路允许测试电路的四个连接端口/测试探针被合适地连接到被测电路中，同时确保必要的电阻测试精度。
测试探针电阻测试电路预定电阻待测电阻本实用新型第一端电流表电阻被测电路测试电路电阻测试连接端口预先确定地连接电压源

[实用新型]一种两用涂层测厚仪-CN201721330917.3有效
发明人：罗红宇;张立新 -专利权人：吉林工程技术师范学院
申请日： 2017-10-17 - 公布日： 2018-05-01 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：，包括本体，所述本体顶部设有连接端口，所述连接端口顶部连接有主信号线，所述主信号线上分别连接有第一信号支线、第二信号支线和第三信号支线，所述第一信号支线、第二信号支线和第三信号支线端部分别连接有第一测试探头、第二测试探头和第三测试探头，所述第一测试探头、第二测试探头和第三测试探头上均设有连接套，所述连接套上分别靠近第一测试探头、第二测试探头和第三测试探头一侧均螺纹连接有支杆，所述支杆端部设有吸盘，本实用新型结构新颖
一种两用涂层测厚仪

[实用新型]一种双头测试探针-CN201821346771.6有效
发明人：唐艳霞 -专利权人：天津恒芯唯恩泰克电子科技有限公司
申请日： 2018-08-21 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种双头测试探针，包括主体，所述主体的内部两侧分别活动安装有测试探针，两个所述测试探针之间固定设置有第一弹簧，两个所述测试探针靠近第一弹簧的一侧分别固定设置有卡簧机构，所述卡簧机构包括安装件，所述安装件的内侧固定设置有第二弹簧，所述主体的内部远离卡簧机构的一侧固定设置有滑杆，两个所述测试探针靠近第一弹簧的一端远离卡簧机构的而一侧固定设置有滑块。本实用新型通过卡簧机构的第二弹簧带动固定件与固定孔配合连接将调节的测试探针固定，从而根据不同长度需求的进行测试操作，通过设置滑杆和滑块将对测试探针进行限定移动位置，避免在使用测试探针的时候测试探针移动的位置偏移
测试探针弹簧固定设置卡簧机构本实用新型安装件滑杆滑块双头测试操作长度需求活动安装配合连接使用测试位置偏移移动位置固定件固定孔探针移动

[实用新型]晶圆测试装置-CN201821574947.3有效
发明人：陈立军;姚大平 -专利权人：华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
申请日： 2018-09-26 - 公布日： 2019-08-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种晶圆测试装置，包括：至少一个测试探针，所述测试探针为中空结构，在测试过程中所述测试探针的一端用于朝向待测试点移动，使所述测试探针的一端移动至距离所述待测试点预设距离，所述预设距离大于零；液态金属，适用于设置在所述测试探针的中空结构内，在测试过程中通过突出所述测试探针的一端与待测试点进行接触。该晶圆测试装置中的测试探针设置于距离待测试点预设距离处，测试探针不与待测试点直接接触，通过测试探针中空结构内的液态金属与待测试点直接接触，该晶圆测试装置在测试过程中不会在待测试点上造成测试压印或者损伤。
测试探针测试点晶圆测试装置测试过程预设距离中空结构液态金属本实用新型测试装置移动压印种晶损伤测试

[实用新型]一种用于单层微波电容器容损测试的夹具-CN201920976807.7有效
发明人：林泽清;曾小力;潘甲东 -专利权人：福建毫米电子有限公司
申请日： 2019-06-26 - 公布日： 2020-04-21 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：一种用于单层微波电容器容损测试的夹具，包括底座、测试探针、支架和驱动机构，底座设置有用于放置单层微波电容器的放置槽，测试探针与放置槽相对可在第一位置与第二位置之间升降移动地设置在支架上，驱动机构连接并驱动测试探针升降移动，所述放置槽的底面设置有铜排，铜排连接有线缆，当测试探针在第一位置时，测试探针位于放置槽的上方，当测试探针在第二位置时，测试探针下降至放置槽中，单层微波电容器夹紧在铜排与测试探针之间，夹具整体结构简单，操作简单、难度低，提高了测试效率，而且单层微波电容器与铜排和测试探针均具有良好的接触性，大大提高了测试的准确性。
一种用于单层微波电容器测试夹具

[实用新型]一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构-CN202020702141.9有效
发明人：王忠 -专利权人：上海灏谷集成电路技术有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构，包括固定块，所述固定块上设有滑动槽，所述固定块内设有安装通槽，所述安装通槽内设有转动吸附块，所述安装通槽内滑动连接有测试探针，所述固定块上设有用于实现连接线连通测试探针的转轴机构，所述固定块上设有用于实现两个测试探针连接的连接机构。本实用新型结构合理，通过设置固定块，将测试探针与连接线分离式连接，避免连接线与测试探针的直接连接，避免测试探针因连接线电流增大而发生熔断报废的现象，通过设置连杆机构实现对测试探针之间的距离保持固定可调，降低多个定距电路在检测过程中的，降低人工测试时对于测试探针的距离调节的工作量。
一种集成电路测试探针系统保护结构

[实用新型]一种检测设备-CN202121115333.0有效
发明人：陈冠华 -专利权人：深圳市深普科技开发有限公司
申请日： 2021-05-21 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种检测设备，包括工作平台、驱动机构、下压板以及治具，所述治具设置在所述工作平台的下方，所述工作平台上设置有测试探针，所述治具上设置有与所述测试探针相配合的测试孔，所述驱动机构可通过所述下压板带动所述治具向下运动，使所述测试探针的顶端穿过所述治具并与所述治具上的电路板电性连接，所述测试探针的底端连接有检测模块以及计数模块，所述检测模块对电路板进行检测，计数模块识别到测试探针与电路板连接，计数模块将测试探针的使用次数增加一次，并且将测试探针的总检测次数通过显示屏显示，方便使用者得知测试探针的使用次数，能够及时更换新的测试探针，保证测试数据的准确性。
一种检测设备

[发明专利]频谱-时间调制检测测试装置-CN202210591096.8在审
发明人： J·扎尔;R·桑切斯洛佩斯;S·劳格森 -专利权人：国际听力公司
申请日： 2022-05-27 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本申请公开了频谱‑时间调制检测测试装置，其包括：包括至少一输出单元的刺激生成单元，配置成向用户的一只耳朵呈现第一试探刺激及向用户的另一只耳朵呈现第二试探刺激；分析单元，配置成响应于呈现试探刺激而确定用户的调制‑检测阈值；其中，所述刺激生成单元配置成基于增加频谱‑时间调制的载波信号生成第一试探刺激和第二试探刺激中的每一个；其中，第一试探刺激的频谱‑时间调制不同于第二试探刺激的频谱‑时间调制。
频谱时间调制检测测试装置