专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]密封装置-CN99808233.3无效
  • F·达姆斯;J·德里克;D·罗森;F·范德普特 - 泰科电子雷伊化学有限公司
  • 1999-06-15 - 2001-08-15 - H02G15/013
  • 一种用于密封物体中的孔隙的密封装置(1),通过该孔隙延伸一个或多个细长的物品,该密封装置包括具有至少一个纵向延伸的适合于容纳和支持细长的物品的沟道(8a)的第一支持件(2a);与第一支持件在纵向上间隔开使用的第二支持件(2b),该第二支持件具有至少一个纵向延伸的与第一支持件的沟道相对应的沟道(8b);被置于第一和第二支持件之间的密封件(3),这样配置以在第一支持件的纵向延伸沟道内容纳细长的物品,从而延伸并通过第二支持件上相应的沟道
  • 密封装置
  • [发明专利]三维存储器及其制作方法-CN202111647171.X在审
  • 张坤;吴林春;周文犀 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-12-30 - 2022-04-05 - H01L27/1157
  • 本发明涉及一种三维存储器及其制作方法,包括:在衬底上形成堆叠结构,堆叠结构在平行于衬底的横向上的一端形成台阶结构;形成覆盖于台阶结构上的绝缘覆盖层;在台阶结构上形成冗余沟道孔,冗余沟道孔在垂直于衬底的纵向上延伸,冗余沟道孔的顶端部位于绝缘覆盖层中,且冗余沟道孔不贯穿台阶结构;在冗余沟道孔中形成冗余沟道结构;形成在纵向上延伸且贯穿冗余沟道结构和台阶结构的虚拟沟道结构,虚拟沟道结构在衬底上的正投影位于冗余沟道结构在衬底上的正投影内,从而在三维存储器的形成工艺中,能够减小虚拟沟道结构的顶部尺寸和底部尺寸的差异,进而有利于增大形成接触插塞时的工艺窗口,以减小制造工艺难度,并降低生产成本。
  • 三维存储器及其制作方法
  • [实用新型]一种四点球回转支承沟道软带的打磨装置-CN201620120151.5有效
  • 吴群 - 洛阳新强联回转支承股份有限公司
  • 2016-02-04 - 2016-06-22 - B24B55/00
  • 本实用新型公开了一种四点球回转支承沟道软带的打磨装置,包括基础板、横向板、纵向板、基础板调节螺母、横向板调节螺母、纵向板调节螺母、基础板调节槽、横向板调节槽、纵向板调节槽;基础板设置在右侧,由整块板组成;横向板设置在中间部位,由两块组成,横向板与右侧的基础板连接,纵向板设置在左侧与中间部位的横向板相连接。这种四点球回转支承沟道软带的打磨装置能够有效解决打磨机打磨容易使打磨的区域发生偏移,对沟道软带的打磨区域不好控制的问题,大大提高了对软带打磨的打磨效率和沟道软带的打磨质量。
  • 一种点球回转支承沟道打磨装置
  • [发明专利]半导体传感器部件-CN201180005860.9有效
  • 恩德·腾海夫 - 艾尔默斯半导体股份公司
  • 2011-01-10 - 2012-10-17 - H01L29/423
  • 在有源区(78a,200)内构建有限定的长度(L)和宽度(B)的半导体沟道区。在有源区(78a,200)中纵向伸展部中的沟道区的端部上分别连接有接触区(79,80),接触区由第二导电类型的半导体材料构建。沟道区被离子注入掩膜材料(81)覆盖,其具有限定沟道区的长度(L)的横向边缘以及限定沟道区的宽度(B)的纵向边缘,并且在沟道区的对置的并且与沟道区的纵向延伸端部平齐的横向边缘上分别具有边缘留空部(201,202),与沟道区邻接的接触区(79,80)延伸至边缘留空部中。
  • 半导体传感器部件
  • [发明专利]MOSFET的结构、制造方法及功率器件、电子设备-CN202211100246.7在审
  • 张枫;刘杰 - 深圳芯能半导体技术有限公司
  • 2022-09-09 - 2022-12-16 - H01L29/78
  • 一种MOSFET的结构、制造方法及功率器件、电子设备,属于半导体技术领域,通过包括外延层、沟道层、有源层、栅极结构、第一沟槽、第一导电层、第一介电层、金属柱、浮动结以及第一绝缘层;沟道层设置于外延层的上表面;有源层设置于沟道层的上表面;栅极结构从有源层的上表面纵向向下穿过有源层和沟道层;第一沟槽从有源层的上表面纵向向下穿过有源层和沟道层;第一导电层覆盖在第一沟槽的侧壁内表面;第一介电层覆盖在第一导电层的侧壁内表面;金属柱填充在第一介电层内部;浮动结位于第一沟槽的底部;第一绝缘层位于第一沟槽的顶部;减小了MOSFET的内阻并提高了纵向耐压能力和横向耐压能力。
  • mosfet结构制造方法功率器件电子设备

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