专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体封装器件及其制造方法-CN202211401715.9在审
  • 许二岗;曹凯;张雷;张建平 - 英诺赛科(苏州)半导体有限公司
  • 2022-11-09 - 2023-01-31 - H01L23/498
  • 氮化物半导体封装器件包括氮化物外延叠、至少电极、绝缘、导电通孔、第一金属、第二金属以及重配置线路。至少电极设于所述氮化物外延叠上。绝缘包覆电极与氮化物外延叠。导电通孔设于电极上且在绝缘内延伸。第一金属与第二金属,设于绝缘上。第一金属层位于导电通孔上方且通过导电通孔与电极电性连接,且第一金属与第二金属隔开。重配置线路设于第一金属与第二金属之间且连接第一金属与第二金属,其中重配置线路具有相对的第一端部与第二端部,第一端部覆盖第一金属,第二端部覆盖第二金属,其中重配置线路的材料不同于第一金属与第二金属的材料
  • 半导体封装器件及其制造方法
  • [发明专利]氮化物半导体器件、互连结构及其制造方法-CN202211330574.6在审
  • 陈邦星;曹凯;张雷 - 英诺赛科(珠海)科技有限公司
  • 2022-10-27 - 2023-03-03 - H01L29/778
  • 氮化物半导体器件包括氮化物外延叠、至少电极、绝缘、导电通孔、第一金属、第二金属以及重配置线路。至少电极设于所述氮化物外延叠上。绝缘包覆电极与氮化物外延叠。导电通孔设于电极上且在绝缘内延伸。第一金属与第二金属,设于绝缘上。第一金属层位于导电通孔上方且通过导电通孔与电极电性连接,且第一金属与第二金属隔开。重配置线路设于第一金属与第二金属之间且连接第一金属与第二金属,其中重配置线路具有相对的第一端部与第二端部,第一端部覆盖第一金属,第二端部覆盖第二金属,其中重配置线路的材料不同于第一金属与第二金属的材料
  • 氮化物半导体器件互连结构及其制造方法
  • [发明专利]基板及其制备方法、显示面板-CN202010519240.8在审
  • 胡宏波 - 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2020-06-09 - 2020-09-29 - H01L51/56
  • 本发明提供了种基板及其制备方法、显示面板,该基板包括:衬底;第一导电,形成于衬底上,图案化形成第一金属线,第一导电第一金属和第二金属构成的多膜结构,第一导电远离衬底的表面为第一金属第一金属为不易被蚀刻的金属,第二金属为易被蚀刻的金属;绝缘,形成于第一导电上;第二导电,形成于绝缘上,图案化形成第二金属线和第一金属保护线,第一金属保护线覆盖第一金属线未被绝缘覆盖的侧边。通过在第一金属线未被绝缘覆盖的侧边上设置第一金属保护线,实现对未被绝缘覆盖的第一金属线侧边的保护,避免第二导电刻蚀过程对第一金属线的侧蚀,提高了产品信赖性和制造良率。
  • 及其制备方法显示面板
  • [发明专利]半导体器件及其制造方法-CN201610620077.8有效
  • 傅世刚;吴宪昌;苏莉玲;李明翰;眭晓林 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2016-08-01 - 2019-09-06 - H01L21/82
  • 在制造半导体器件的方法中,在衬底上方形成介电。在第一间介电中形成第一图案和第二图案。第一图案的宽度大于第二图案的宽度。在第一图案和第二图案中形成第一金属。在第一图案中形成第二金属。对第一和第二金属实施平坦化操作以便形成通过第一图案的第一金属布线和通过第二图案的第二金属布线。第一金属金属材料不同于第二金属金属材料。第一金属布线包括第一和第二金属并且第二金属布线包括第一金属但不包括第二金属。本发明的实施例还涉及半导体器件。
  • 半导体器件及其制造方法
  • [发明专利]封装结构及其制作方法-CN201010243789.5有效
  • 陈家庆;丁一权 - 日月光半导体制造股份有限公司
  • 2010-07-30 - 2010-12-15 - H01L23/498
  • 本发明公开了种封装结构及其制作方法。该封装结构包括基板、芯片、第一金属、第二金属、第三金属及防焊。基板具有第一表面、第二表面及至少贯孔。芯片配置于基板上且位于第一表面上。第一金属配置于第一表面上且延伸至芯片上。第二金属配置于第二表面上。第三金属覆盖贯孔的内壁且连接第一金属与第二金属。芯片通过第一金属与第三金属及第二金属电性连接。防焊填充贯孔且包覆芯片、至少部分第一金属、至少部分第二金属及第三金属
  • 封装结构及其制作方法
  • [实用新型]种多层介质隔离结构-CN202021677046.4有效
  • 郭德霄;林科闯;汪晓媛;王立阁;何俊蕾;刘成;叶念慈 - 厦门市三安集成电路有限公司
  • 2020-08-13 - 2021-03-09 - H01L21/768
  • 本实用新型公开了种多层介质隔离结构,包括基底和至少形成于基底上的金属互联结构,金属互联结构包括第一金属和第二金属第一金属与第二金属连接,还包括粘附、钝化、平坦化和保护;粘附、钝化和平坦化依次覆盖于基底上;粘附、钝化和平坦化所形成的结构覆盖第一金属并在第一金属的顶部上开设第一通孔;保护覆盖于平坦化表面和第一通孔的内壁;第一金属设于基底上,第二金属凸设于保护上并延伸至第一通孔内与第一金属接触,平坦化的厚度大于第一金属的厚度。本实用新型通过在既有的半导体器件表面形成隔离结构,可提升金属互联隔离效果、降低器件表面平粗糙度。
  • 一种多层介质隔离结构
  • [发明专利]半导体发光装置-CN201610012015.9有效
  • 小幡进;小岛章弘 - 阿尔发得株式会社
  • 2016-01-08 - 2019-06-14 - H01L33/62
  • 本发明提供包含半导体部、第一金属柱、第二金属柱及绝缘的半导体发光装置。半导体部包含第一面、第二面及发光。第二面包含与发光重叠的第一区域及不与发光重叠的第二区域。第一金属柱与第二区域电性连接。第一金属柱包含第一金属及第二金属。第二金属的硬度比第一金属的硬度硬。第一金属设置在第二面与第二金属的至少部分之间。第二金属柱在第二方向与第一金属柱并排,与第一区域电性连接,第二方向与从第一面朝向第二面的第一方向交叉。第二金属柱包含第三金属及第四金属。第四金属的硬度比第三金属的硬度硬。第三金属设置在第二面与第四金属的至少部分之间。绝缘设置在第一金属柱与第二金属柱之间。
  • 半导体发光装置
  • [实用新型]显示模组和电子设备-CN202223121131.4有效
  • 陈建军 - 维沃移动通信有限公司
  • 2022-11-23 - 2023-04-25 - H10K59/10
  • 本申请公开了种显示模组和电子设备,其中,显示模组,包括:第一金属;第二金属,第二金属设有第一凸部;第一有机膜,位于第一金属和第二金属之间,第一有机膜设有第一通孔,第一凸部穿过第一通孔与第一金属连接;第一无机膜,位于第一有机膜第一金属之间,第一无机膜覆盖在第一凸部、通孔和第一金属的连接处,第一无机膜还覆盖在第一金属朝向第一有机膜的中部的外周壁。
  • 显示模组电子设备
  • [发明专利]透明导电玻璃及其表面电阻降低方法-CN202210166901.2有效
  • 吴倩颖;顾文灏;赵乐;陈君;周凯;丁洋;卢礼呈 - 江苏铁锚玻璃股份有限公司
  • 2022-02-23 - 2023-05-23 - C03C17/36
  • 本申请涉及种透明导电玻璃及其表面电阻降低方法。表面电阻降低方法包括以下步骤:于玻璃的表面形成第一金属;于第一金属的部分区域形成第二金属,第二金属第一金属的对应区域形成并联电路。透明导电玻璃包括玻璃、第一金属和第二金属第一金属设置于玻璃的表面,第二金属设置于第一金属的部分区域,第二金属第一金属的对应区域形成并联电路。本申请通过在第一金属的部分区域设置第二金属,使第二金属第一金属的对应区域形成并联电路,实现降低第一金属对应区域的表面电阻,如此可以减少镀膜膜的返工次数,提高镀膜膜的合格率。
  • 透明导电玻璃及其表面电阻降低方法
  • [发明专利]封装基板及其制造方法-CN201110161551.2有效
  • 朴珠炫;洪荣文;金锡奉 - 日月光半导体制造股份有限公司
  • 2011-06-02 - 2011-11-16 - H01L23/488
  • 种封装基板及其制造方法。封装基板包括第一介电第一金属第二金属第三金属第二介电第四金属第一介电具有第一凹槽、第二凹槽及第三凹槽。第三凹槽位于第一凹槽及第二凹槽之间。第一金属内埋于第一凹槽内。第二金属内埋于第二凹槽内。第三金属内埋于第三凹槽内。第三金属的上表面低于第一介电的上表面。第二介电设置于第二凹槽内,并覆盖至少部份的第三金属。第四金属覆盖部份的第一介电及第二介电,并电性连接第一金属及第二金属
  • 封装及其制造方法

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