专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]X射线CT设备和曝光剂量计算方法-CN200310122353.0有效
  • 堀内哲也 - GE医药系统环球科技公司
  • 2003-12-19 - 2004-07-07 - A61B6/03
  • 为了显示更为准确的曝光剂量值而不给成像操作人员增加工作,在X射线CT设备上的曝光剂量计算方法包括如下步骤:输入(S201,S202)检查对象的年龄和要检查的区域;根据在输入步骤中输入的检查对象的年龄和要检查的区域,并根据人体头围和胸围的统计,计算(S203,S204)检查对象的头部和胸部的直径;根据将预定的X射线剂量加到模具上时、加在具有预定直径的模具上的曝光剂量的先前信息,计算(S206)直径等于计算的头部和胸部直径的模具的曝光剂量
  • 射线ct设备曝光剂量计算方法
  • [发明专利]晶体直径检测方法、系统及计算机程序产品-CN202111637395.2在审
  • 不公告发明人 - 西安奕斯伟材料科技有限公司;西安奕斯伟设备技术有限公司
  • 2021-12-29 - 2022-03-29 - G01B11/08
  • 本公开提供一种晶体直径检测方法、系统及计算机程序产品,该方法包括:实时获取直拉法硅单晶放肩阶段熔硅表面的图像;在图像中标记出包含晶体直径边沿信息的图像有效检测区域;对图像有效检测区域进行数字图像处理;对图像有效检测区域进行预处理,提取出晶体直径下边沿图像;获取晶体直径边缘图像中的预定直径边界点图像坐标,并获取放肩中心点图像坐标,根据预定直径边界点图像坐标与放肩中心点图像坐标之间的差值,获得放肩直径像素值;获取像素值与物理尺寸的转换系数;根据转换系数,对放肩直径像素值进行转换,以获取晶体放肩直径的物理尺寸。本公开的晶体直径检测方法、系统及计算机程序产品,可以实现放肩阶段晶体直径的实时量化测量。
  • 晶体直径检测方法系统计算机程序产品
  • [发明专利]一种测量光波导模场直径的系统-CN202111427747.1有效
  • 杨登才;宝剑锋;王云新 - 北京工业大学
  • 2021-11-26 - 2022-11-29 - G01B11/08
  • 本发明涉及一种测量光波导模场直径的系统,属于光学测量领域。包括光路系统、位移系统和计算方法三部分,光路系统包括激光器、标准光纤探针、传输光纤和光功率计,其中激光器作为系统的光源,提供稳定的光输入,标准光纤探针作为系统的扫描探头,实现对于波导输出光面能量的扫描,而计算方法则主要包含四个参数的测量与一个计算公式,测量参数为光纤探针直径、光波导Z方向上、下半部分卷积模场直径和Y方向模场直径,而计算公式则是测量得到上述参数与光波导原模场直径之间的函数,可通过推导给出的公式计算得到光波导原模场直径本发明可实现传统光波导模场直径的高精度测量。
  • 一种测量波导直径系统

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