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- [发明专利]一种测量光波导模场直径的系统-CN202111427747.1有效
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杨登才;宝剑锋;王云新
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北京工业大学
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2021-11-26
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2022-11-29
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G01B11/08
- 本发明涉及一种测量光波导模场直径的系统,属于光学测量领域。包括光路系统、位移系统和计算方法三部分,光路系统包括激光器、标准光纤探针、传输光纤和光功率计,其中激光器作为系统的光源,提供稳定的光输入,标准光纤探针作为系统的扫描探头,实现对于波导输出光面能量的扫描,而计算方法则主要包含四个参数的测量与一个计算公式,测量参数为光纤探针直径、光波导Z方向上、下半部分卷积模场直径和Y方向模场直径,而计算公式则是测量得到上述参数与光波导原模场直径之间的函数,可通过推导给出的公式计算得到光波导原模场直径本发明可实现传统光波导模场直径的高精度测量。
- 一种测量波导直径系统
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