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[发明专利]一种用于配电设备巡检及带电检测的检测仪及方法-CN201610054311.5有效
发明人：姚森敬;黄志伟;黄超;朱正国;杨开;龚鹏 -专利权人：深圳供电局有限公司;珠海市伊特高科技有限公司
申请日： 2016-01-27 - 公布日： 2019-04-16 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本发明提供一种用于配电设备巡检及带电检测的检测仪，包括依序连接的复合传感器、前置处理单元、热像采集单元、图谱分析单元和分析控制及通讯单元；复合传感器由超声波传感器、地电波传感器及红外热像传感器形成，采集信号并转换成模拟电信号；前置处理单元对模拟电信号进行滤波放大及去噪处理；热像采集单元同步获取处理后的模拟电信号，并通过预设的采集参数及信号编码规则形成混合数字编码；图谱分析单元解码混合数字编码并形成可视化的局放定位热像谱图；分析控制及通讯单元显示热像谱图并输出给外部设备。
一种用于配电设备巡检带电检测方法

[发明专利]一种获得红外热像成像仪最佳灵敏度的方法-CN200810122531.2无效
发明人：张青川;史海涛;陈大鹏;伍小平 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2008-05-30 - 公布日： 2008-11-19 - 主分类号： G01J5/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种获得红外热像成像仪最佳灵敏度的方法，使用红外热像成像仪，设杂散光斑中心与微梁单元的光学衍射谱中心的连线为X轴，与X轴垂直的线为Y轴，光学衍射谱中心为坐标原点，构成坐标系，将刀口滤波器放置于汇聚谱平面上刀口滤波器的刀口有效边界保持与Y轴平行状态，且刀口滤波器的不透光部分相对其有效边界处于正方向，并遮盖杂散光斑；平行移动刀口滤波器，刀口有效边界在不同的位置时，调节光源发光亮度使光学接受器刚好达到满量程，再测量对应此位置的红外热像成像仪的灵敏度，依据此对应关系，通过调整刀口滤波器的刀口有效边界位置和光源发光亮度，可以得到红外热像成像仪的最佳灵敏度及其它所需要的灵敏度。本发明解决了如何正确设置红外热像成像仪刀口有效边界的初始位置和光源发光功率使灵敏度达到最大的问题，使灵敏度提高了3.6倍。
一种获得红外成像最佳灵敏度方法

[发明专利]一种调整红外热像成像仪灵敏度的方法-CN200810122453.6无效
发明人：张青川;史海涛;陈大鹏;伍小平 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2008-05-28 - 公布日： 2008-11-05 - 主分类号： G01J5/08 文献下载
摘要：一种调整红外热像成像仪灵敏度的方法，使用红外热像成像仪，点亮光源，通过确定刀口滤波器在光学衍射谱平面上位置，来确定对应的红外热像成像仪灵敏度状态。求特征函数（式(Ⅰ)）的绝对值最大时所对应的位置x_{f max}，上述特征函数是微梁单元的光学衍射谱在汇聚谱平面上的一维分布函数及其积分分布函数相除的结果。本发明解决了如何正确设置红外热像成像仪刀口有效边界的位置和光源发光亮度使灵敏度达到最大的问题，使灵敏度提高了3.6倍。
一种调整红外成像灵敏度方法

[发明专利]一种中继成像系统-CN201110350099.4有效
发明人：行麦玲;袁旭沧;肖琴;唐绍凡;孙燕萍 -专利权人：北京空间机电研究所
申请日： 2011-11-08 - 公布日： 2012-02-29 - 主分类号： G02B17/08 文献下载
摘要：一种中继成像系统，包括物面、复合棱镜、可见近红外镜头、短波红外镜头、热红外镜头和像面，复合棱镜由主棱镜和副棱镜组成；物面从上到下可分为热红外谱段、短波红外谱段和可见近红外谱段成像物面，热红外谱段的光线不经过复合棱镜，直接进入热红外谱段镜头，成像在热红外镜头像面；短波红外谱段的光线由复合棱镜中的主棱镜两次折转反射后进入短波红外镜头，成像在短波红外镜头像面；可见近红外谱段的光线由复合棱镜中的副棱镜一次折转反射后进入可见近红外镜头本发明可实现宽谱段范围内中继成像；可应用于航天或航空大视场光学扫描相机。
一种中继成像系统

[发明专利]不可见像的光学成像方法及光学成像装置-CN03132258.1无效
发明人：段志辉;张青川;伍小平;潘亮 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2003-08-07 - 公布日： 2004-02-11 - 主分类号： G01B15/06 文献下载
摘要：本发明提出一种适应于工程应用的不可见像的光学成像方法及光学成像装置，它是通过检测微梁的转角来实现的，既有很高的测量灵敏度，又有很好的抗振性能。上述不可见像的光学成像方法是：用点光源的光照射兼有获取热像信号的微梁阵列，来自微梁阵列衍射光通过其汇聚谱平面上的直线边界滤波单元滤波操作后，再经成像透镜由光学接收器接收。用于实施上述方法的不可见像的光学成像装置是由光源、兼有获取热像能力的微梁阵列、成像透镜、光学接收器和零部件组装用的支架组成，在由来自微梁阵列的衍射光的汇聚谱平面上设有直线边界滤波单元且成像透镜位于直线边界滤波单元之后
可见光学成像方法装置

[发明专利]一种用于红外热像成像仪的光学读出方法-CN200910185509.7无效
发明人：张青川;程腾;高杰;伍小平 -专利权人：张青川
申请日： 2009-11-14 - 公布日： 2010-06-02 - 主分类号： G01J5/10 文献下载
摘要：一种用于红外热像成像仪的光学读出方法，红外热像成像仪包括红外集像模块、真空室、放置于真空室中的微梁单元阵列、光学读出模块和图像读出显示模块；光学读出模块包括LED光源、准直透镜、分光镜、傅里叶透镜、滤波器以及成像透镜；其特征在于：所述的滤波器选用狭缝滤波器，狭缝滤波器设置于微梁单元的光学衍射谱平面上，并通过狭缝滤波器的空间滤波作用，调制衍射谱的强度；其效果在于：提出了基于狭缝滤波器的光学读出方法，并同时针对该光学读出方法，提出了如何准确获得其最佳灵敏度的方法；通过准确设置狭缝滤波器的宽度、狭缝中心线的位置、以及LED光源的发光亮度，可使红外热像成像仪的光学检测灵敏度得到成倍提高。
一种用于红外成像光学读出方法

[发明专利]一种基于高分辨一维距离像的目标识别优化方法-CN201810220561.0在审
发明人：刘峥;王晶晶;李龙;谢荣 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2018-03-16 - 公布日： 2018-08-17 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于高分辨一维距离像的目标识别优化方法，其思路为：确定训练样本集合，所述训练样本集合中包括N个高分辨一维距离像，依次计算N个高分辨一维距离像的三阶谱特征F和降维处理后N个高分辨一维距离像的三阶谱特征X；确定低密度区域和高密度区域；计算低密度区域中M1个降维处理后的高分辨一维距离像三阶谱特征类别和高密度区域中M2个降维处理后的高分辨一维距离像三阶谱特征类别；分别计算低密度区域的分类子超平面参数和高密度区域的分类子超平面参数；确定测试高分辨一维距离像，计算测试高分辨一维距离像的三阶谱特征Fz，进而得到降维处理后测试高分辨一维距离像的三阶谱特征z；最后判定所述三阶谱特征z属于目标或属于干扰。
一维距离像高分辨三阶降维处理低密度区域高密度区域训练样本集合目标识别特征类别超平面计算测试测试分类优化判定

[发明专利]高光谱卫片全谱段逐像元成像角度参数处理方法及介质-CN202011065963.1在审
发明人：颜军;刘森;张强;吴佳奇;孟进军;颜志宇;蒋晓华;潘申林 -专利权人：珠海欧比特宇航科技股份有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G01S19/37 文献下载
摘要：本发明涉及一种高光谱卫片全谱段逐像元成像角度参数处理方法及介质的技术方案，包括：读取卫星影像，获取卫星影像的每个像元经纬度信息及高程信息；根据开窗位置、各景数据基准波段成像起始行计数及成像时间计算各波段逐像元成像时间；根据轨道信息文件通过内插获得对应时间的卫星定位信息；根据像元经纬度信息、高程信息、成像时间计算全谱段逐像元太阳高度角及方位角；根据像元经纬度信息、高程信息及卫星定位信息计算全谱段逐像元卫星高度角及方位角；输出太阳及卫星的全谱段逐像元高度角及方位角，存储为固定格式文件。本发明的有益效果为：实现了高光谱卫片全谱段逐像元成像角度参数的精确计算，输出高精度高光谱传感器的各角度参数。
光谱卫片全谱段逐像元成像角度参数处理方法介质

[发明专利]一种基于随机抽样一致性的光谱漂移标定与校正方法-CN202211112891.0在审
发明人：刘向锋;徐卫明;舒嵘;贾良辰;许学森 -专利权人：中国科学院上海技术物理研究所
申请日： 2022-09-14 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于随机抽样一致性的光谱漂移标定与校正方法，方法包括以下步骤：(1)光谱仪首次测量目标的光谱作为参考光谱，获得光谱的像元到波长的转换模型及系数；(2)光谱仪再次测量目标的光谱作为测量光谱，识别测量光谱中特征谱线的谱峰位置作为观测像元序列；(3)选取参考像元序列与观测像元序列间能满足条件的最大概率局内点，作为测量特征谱线与参考特征谱线的相匹配谱线；(4)计算匹配谱线间的像元差，将平均值作为光谱漂移量；(5)使用光谱漂移量来改正测量光谱的像元序列；(6)利用绝对平均值和均方根定量描述校正波长精度。本发明能快速自动识别测量光谱与参考光谱间的像元漂移量，准确性好，鲁棒性强，易操作。
一种基于随机抽样一致性光谱漂移标定校正方法

[发明专利]一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置-CN201810214246.7有效
发明人：严强强;魏儒义;陈莎莎;于建东;王帅 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2018-03-15 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明属于光学探测领域，特别涉及一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置。首先将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上；然后将沿探测器行像元或列像元方向色散的光谱按照不同谱段反射至同一平面的不同位置；再将步骤二中反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹；再将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩；最后将压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散，获得高分辨光谱干涉条纹。解决了宽谱段高分辨率光谱干涉受到探测器行或者列像元数限制、交叉色散导致光谱谱线弯曲等的问题，实现一种宽谱段，高精度，高信噪比的视向速度探测方案。
一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法装置

[发明专利]基于双谱去噪的噪声背景下雷达目标识别方法-CN201310161379.X有效
发明人：杜兰;袁希望;李志鹏;王鹏辉;刘宏伟 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2013-05-06 - 公布日： 2013-07-24 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于双谱去噪的噪声背景下雷达目标识别方法，主要解决现有技术在噪声背景下直接使用未去噪距离像进行目标识别，导致识别率差的问题。其实现过程是：对训练样本归一化，提取归一化训练样本的功率谱特征；使用训练样本的功率谱特征训练分类器，得到分类器的权系数；使用双谱去噪方法对测试样本进行去噪处理，恢复出去噪后平均距离像，并对其进行归一化；提取归一化的去噪后平均距离像的功率谱特征；使用训练好的分类器对归一化的去噪后平均距离像的功率谱特征进行分类，确定目标类别标号。本发明具有对噪声稳健，可恢复出去噪后平均距离像的优点，可用于雷达目标识别。
基于双谱去噪噪声背景雷达目标识别方法

[发明专利]一种红外焦平面器件的不稳定像元测试方法-CN202310779472.0在审
发明人：谭必松;邱伟强;陈天晴;杜宇;毛剑宏 -专利权人：浙江珏芯微电子有限公司
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01J5/90 文献下载
摘要：本发明公开了一种红外焦平面器件的不稳定像元测试方法，包括：得到面阵裸电路背景电压；得到面阵均压，得到面阵均压时间序列拟合曲线；得到面阵每个像元时间序列拟合曲线；计算得到每个像元电压拟合标准差；计算得到每个像元拟合差标准差；计算得到每个像元电流谱密度；由每个像元拟合标准差，判断单个像元的稳定性；由每个像元拟合差标准差，判断单个像元的稳定性；由每个像元电流谱密度，判断单个像元的稳定性，本发明从像元电压Ue时间序列的时域和频域出发，通过像元的时间序列，计算：拟合STD、拟合差STD、电流谱密度三类判据，从而准确的判断不稳定像元。
一种红外平面器件不稳定测试方法

[发明专利]一种光谱仪器的波长标定方法-CN200710177242.8无效
发明人：杨怀栋;黄星月;何庆声 -专利权人：清华大学
申请日： 2007-11-13 - 公布日： 2008-04-09 - 主分类号： G01J3/12 文献下载
摘要：本方法光谱仪器采用阵列探测器，采用具有线状光谱的光源，从仪器输出的光谱图上获得该光源各谱线峰值所在的空间位置，并用这些谱线的峰值波长及其对应空间位置来拟合谱面上的“空间位置－波长”关系，从而确定探测器每个像元所对应的波长，光源各谱线峰值所在的空间位置通过以下步骤获得：亚像元探测；亚像元重建；获取谱线峰值空间位置。本发明亚像元探测提高了光谱图采样率，获得了分辨率提高的光谱图；亚像元探测、亚像元重建、谱线轮廓拟合的综合应用层层递进的提高了采用阵列探测器的光谱仪器的波长准确度。本发明的效果显著。
一种光谱仪器波长标定方法

[发明专利]一种深紫外波段复合灵敏度光谱仪-CN201911250762.6在审
发明人：闫亚东;吴冰静;何俊华;曹宗英;许瑞华 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-12-09 - 公布日： 2020-05-01 - 主分类号： H05H1/00 文献下载
摘要：该光谱仪中，从光谱仪输入端进入的待测信号经光谱分束镜分为两束；在透射光路中，光束经离子谱反射镜一和离子谱反射镜二反射；然后光束经离子谱准直抛物镜准直后到达离子谱光栅；经光栅色散后的光束经离子谱聚焦抛物镜聚焦于离子像面反射镜，离子谱成像椭球镜将色散后的信号聚焦成像于像面上；在反射光路中，光束经过短焦的电子谱准直抛物镜准直，然后经电子谱光栅衍射分光，经光栅色散后的光束由电子谱聚焦抛物镜聚焦于电子谱像面反射镜上；并将光束反射至电子谱成像椭球镜，电子谱成像椭球镜将色散后的信号聚焦成像于公共像面上。
一种深紫波段复合灵敏度光谱仪

[实用新型]一种深紫外波段复合灵敏度光谱仪-CN201922194998.4有效
发明人：闫亚东;吴冰静;何俊华;曹宗英;许瑞华 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2019-12-09 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： H05H1/00 文献下载
摘要：该光谱仪中，从光谱仪输入端进入的待测信号经光谱分束镜分为两束；在透射光路中，光束经离子谱反射镜一和离子谱反射镜二反射；然后光束经离子谱准直抛物镜准直后到达离子谱光栅；经光栅色散后的光束经离子谱聚焦抛物镜聚焦于离子像面反射镜，离子谱成像椭球镜将色散后的信号聚焦成像于像面上；在反射光路中，光束经过短焦的电子谱准直抛物镜准直，然后经电子谱光栅衍射分光，经光栅色散后的光束由电子谱聚焦抛物镜聚焦于电子谱像面反射镜上；并将光束反射至电子谱成像椭球镜，电子谱成像椭球镜将色散后的信号聚焦成像于公共像面上。
一种深紫波段复合灵敏度光谱仪

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