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[发明专利]氧浓度测定装置-CN200610159562.6无效
发明人：权并英明;大西隆文;西川隆也 -专利权人：东丽工程株式会社
申请日： 2006-09-27 - 公布日： 2007-04-04 - 主分类号： G01N27/409 文献下载
摘要：本发明提供一种氧浓度测定装置，其将测定对象中使氧传感器劣化的物质在测定气体到达氧传感器之前除去，从而氧传感器可以在不含有使其劣化的物质的状态下进行氧浓度测定。本发明的氧浓度测定装置包括：吸引泵(4)，其从吸引口(7)吸引测定对象气体；测定氧浓度的氧传感器(3)；除去单元(2)，其位于氧传感器(3)的上游，其将使氧传感器劣化的物质从由吸引泵(4)送入的测定对象气体中除去，并将测定对象气体送入至氧传感器(3)中。
浓度测定装置

[发明专利]距离测定装置以及距离测定方法-CN201080045627.9有效
发明人：川真田进也;船山龙士;佐鸟新;青柳贤英;小松田忠良 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2010-07-23 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01C3/06 文献下载
摘要：距离测定装置(11)通过以光学方式检测测定对象来测定作为到测定对象为止的距离的对象距离。透镜光轴的朝向被设定成与来自测定对象的入射光的行进方向不同。透镜构成为通过使入射光成像来求出测定对象的像。距离测定装置具备：成像相对量计算单元(31、32)，其通过对入射光所具有的多个波长分别求出表示像相对于透镜的位置的成像位置，来计算出作为对这些成像位置彼此的相对关系进行表示的量的成像相对量；存储单元(17)，其存储作为由透镜的色差特性和光轴朝向决定的信息的相关信息(18)，以表示成像相对量与对象距离的相关；以及距离计算单元(33)，其通过将成像相对量与相关信息(18)对照来计算出对象距离。
距离测定装置以及方法

[发明专利]荧光检测方法以及荧光检测装置-CN200980107755.9无效
发明人：星岛一辉;林弘能;中田成幸 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2009-02-18 - 公布日： 2011-01-26 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：本发明提供了荧光检测方法以及荧光检测装置，该方法和装置通过在照射激光以检测测定对象物发出的荧光时，与以往相比，能够正确计算出荧光松弛时间常数。其中，在测定对象物通过以规定频率的调制信号调制光强度的激光的照射位置时，收集受光装置接收的荧光的第1荧光信号。进而，在测定对象物通过激光的照射位置后，在激光的照射位置没有测定对象物的状态下，收集受光装置接收的荧光的第2荧光信号。使用收集的第1荧光信号和第2荧光信号，求出测定对象物的发出的荧光的荧光信号相对于调制信号的相位差信息，并从所求出的测定对象物发出的荧光的荧光信号的相位差信息中，求出测定对象物的荧光松弛时间常数。
荧光检测方法以及装置

[发明专利]绝缘检查方法以及绝缘检查装置-CN201380021070.9有效
发明人：山下宗宽 -专利权人：日本电产理德株式会社
申请日： 2013-05-08 - 公布日： 2017-08-25 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：一种绝缘检查方法及绝缘检查装置，可进行绝缘不良部的正确的电阻测定。绝缘检查装置具有选出单元，其选出一个配线图案作为第一测定部且选出与该第一测定部具有绝缘不良的配线图案作为对象测定部；电源单元，其在第一测定部与对象测定部之间供给预定的电信号；测定单元，其测定其间的电特性；和计算单元，其根据电源单元供给的电信号和测定单元测定的测定值，计算第一测定部与对象测定部之间的绝缘不良部的电特性，选出单元使第一测定部的一端与电源单元的一端进行导通连接，使第一测定部的另一端与测定单元的一端进行导通连接，使对象测定部的一端与电源单元的另一端进行导通连接，使对象测定部的另一端与测定单元的一端进行导通连接。
绝缘检查方法以及装置

[发明专利]检查方法-CN201280034275.6有效
发明人：赵秀龙 -专利权人：株式会社高永科技
申请日： 2012-07-13 - 公布日： 2016-10-12 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：为了检查基板，首先在基板上设定测定区域，获得测定区域相关基准数据。接着，按颜色获得测定区域相关测定数据，针对测定区域，利用所获得的基准数据及各颜色测定数据，设定照明条件。然后，针对测定区域设定特征对象，比较对应于特征对象的基准数据与对应于已设定照明条件下的特征对象的测定数据，获得基准数据与测定数据之间的失真量。接着，通过补偿失真量，设定测定区域内的检查区域。
检查方法

[发明专利]基板检测装置及基板检测方法-CN201911179851.6有效
发明人：山下宗宽 -专利权人：日本电产理德股份有限公司
申请日： 2014-04-24 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：控制部(27)及信号切换部(26)经过测定对象的多个电路图形(41、42)而形成电压测定回路。控制部(27)在校正电压测定工序，对测定对象的任一电路图形(41、42)都不供应电流的状态下，由电压测定部(19)测定热电动势(V0)。控制部(27)在电路图形测定工序，对测定对象的任一电路图形(41、42)供应电流的状态下，由电压测定部(19)测定电压降。而且控制部(27)在校正工序，将所述电路图形测定工序中测定的电压降使用在校正电压测定工序中测定的热电动势(V0)值来校正。并且控制部(27)对测定对象的多个电路图形(41、42)分别执行电路图形测定工序及校正工序。
检测装置方法

[发明专利]频率特性测定装置、控制装置以及频率特性测定方法-CN202010214600.3在审
发明人：罗威;中村勉 -专利权人：发那科株式会社
申请日： 2020-03-24 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G01R23/02 文献下载
摘要：本发明提供频率特性测定装置、控制装置以及频率特性测定方法，缩短被测定对象的频率特性的测定时间。测定被测定对象的频率特性的频率特性测定装置，具备：多正弦信号生成部，其生成多正弦信号；扫频正弦波生成部，其生成由将预定相位作为初始相位的扫频正弦波和将初始相位移动了一定量而得的扫频正弦波组成的多个扫频正弦波；输入信号切换部，其选择多正弦信号和多个扫频正弦波的某一个并输入到被测定对象；数据取得部，其以预定采样频率取得输入到被测定对象的输入信号的采样数据和从被测定对象输出的输出信号的采样数据；以及特性计算部，其根据所取得的输入输出的采样数据计算出被测定对象中的包含输入输出信号的增益和相位的频率特性。
频率特性测定装置控制以及方法

[发明专利]获取对象的形状信息的方法及装置-CN201780089269.3有效
发明人：崔相晧;朴炳宣;陈正焕;李元孝;申亨培;郑圣烨;金星旭;咸努儿;金志珉 -专利权人：韩国斯诺有限公司
申请日： 2017-03-27 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： A61B5/107 文献下载
摘要：本发明提供一种获取对象的形状信息的方法及装置，该方法使用包括至少一个传感器的传感器单元来区分对象周围的背景和对象，并测定到背景和/或对象的测定点的距离，基于所测定的距离获取构成所述对象的至少一个部分的形状信息
获取对象形状信息方法装置

[发明专利]色谱仪及色谱分析的定量方法-CN201910788274.4在审
发明人：福田真人;伊藤正人;杉本直树 -专利权人：日本株式会社日立高新技术科学
申请日： 2019-08-26 - 公布日： 2020-04-03 - 主分类号： G01N30/88 文献下载
摘要：本发明提供色谱仪及色谱分析的定量方法，既使用基于内部标准法的检量线，又不需要在未知试样中添加标准物质的作业，在简化测定的同时抑制了定量精度的降低。色谱仪具备控制部和存储部，对规定的测定对象进行定量，存储部存储基于内部标准法的检量线数据，该检量线数据是通过对测定对象添加规定浓度的内部标准而求出的，具有测定对象的强度和内部标准的强度之间的强度比，当测定了包含规定浓度的内部标准的QC样品的色谱、以及包含浓度未知的测定对象且不包含内部标准的未知试样的色谱时，控制部根据QC样品的内部标准的强度和未知试样的测定对象的强度计算出强度比，根据检量线对未知试样的测定对象进行定量。
色谱仪色谱分析定量方法

[发明专利]足底压测定器、信息提供装置和信息提供方法-CN201880053122.3在审
发明人：塚田信吾;中岛宽;河西奈保子;八田秀雄 -专利权人：日本电信电话株式会社;国立大学法人东京大学
申请日： 2018-08-13 - 公布日： 2020-03-31 - 主分类号： A61B5/11 文献下载
摘要：足底压测定器具备：测定部，设置在实验对象的足底部，测定施加到所述实验对象的足底部的压力；以及输出部，输出所测定的压力的数据。
足底测定信息提供装置方法

[发明专利]足底压测定器、信息提供装置和信息提供方法-CN202310333728.5在审
发明人：塚田信吾;中岛宽;河西奈保子;八田秀雄 -专利权人：日本电信电话株式会社;国立大学法人东京大学
申请日： 2018-08-13 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： A61B5/103 文献下载
摘要：足底压测定器具备：测定部，设置在实验对象的足底部，测定施加到所述实验对象的足底部的压力；以及输出部，输出所测定的压力的数据。
足底测定信息提供装置方法

[发明专利]外观检查装置及不良检查方法-CN202080068180.0在审
发明人：林信吾;小西泰辅 -专利权人：欧姆龙株式会社
申请日： 2020-03-10 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供在取得检查对象的检查区域的图像并且利用高度测定装置测定检查区域内的规定部位的高度的外观检查装置中能够更准确地判定焊料突出不良的技术。外观检查装置具备：拍摄部(3)，其拍摄检查对象(30)上的检查区域；高度测定部(20)，其通过射出测定光并接收其反射光来测定检查区域的规定部位的高度；移动机构(5)，其使拍摄部(3)及高度测定部(20)与检查对象相对地移动；以及判定部，其基于检查区域的图像和规定部位的高度的信息，判定检查区域中的检查对象有无不良，在从高度测定部(20)射出的测定光被照射到检查对象中的限制区域(M)的情况下，限制判定部基于由高度测定部(20)测定出的规定部位的高度的信息进行不良判定。
外观检查装置不良方法

[发明专利]移动通信系统中的用户装置及方法-CN201180031463.9无效
发明人： W.A.哈普萨里;A.乌美什;岩村干生;高桥秀明 -专利权人：株式会社NTT都科摩
申请日： 2011-04-27 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： H04W24/08 文献下载
摘要：至少具有连接模式以及空闲模式的动作模式的用户装置，具有：测定部，其按照表示被预先设定为用户装置对管理节点报告无线质量的测定值的测定对象信息（Config#m，Cong#n），在空闲模式中测定无线质量；存储部，其存储测定对象信息和测定部测定的无线质量的测定值；以及发送部，其在连接模式中，将表示存在无线质量的测定值的指示符面向所述管理节点发送，并根据来自该管理节点的请求，面向所述管理节点发送包含无线质量的测定值的报告信号，在用户装置获取了新的测定对象信息（Config#n）的情况下，存储部按照规定的更新规则（reconfiguration model），保存新的测定对象信息。
移动通信系统中的用户装置方法

[发明专利]试样制备的装置、系统、方法及粒子分析装置-CN201810531921.9在审
发明人：长井孝明;小国振一郎;辻智悠 -专利权人：希森美康株式会社
申请日： 2018-05-29 - 公布日： 2018-12-11 - 主分类号： G01N1/31 文献下载
摘要：为了高效进行根据样本所包含的粒子的浓度信息和粒子检测试剂进行的测定试样的制备作业，并对样本中的测定对象粒子进行高精确度分析。本发明提供了一种试样制备装置1具备：测定部（2），其测定从样本容器（10）获取的包含粒子的样本并检测出样本中的测定对象粒子；试样制备部（3），其能够对从样本容器（10）获取的样本中的测定对象粒子的浓度进行调整，并混合样本和包含粒子标识物质的数种粒子检测试剂的某者来制备测定试样；控制部（4），其根据测定部（2）的测定数据生成样本容器（10）内的样本中的测定对象粒子的浓度信息，并控制试样制备部（3）以使其按照所生成的浓度信息和制备测定试样时使用的粒子检测试剂的种类对从样本容器（10）获取的样本中的测定对象粒子的浓度进行调整。
粒子样本测定对象样本容器粒子检测浓度信息试样制备制备粒子分析装置试样制备装置标识物质测定数据混合样本检测分析

[发明专利]测定装置以及测定方法-CN202110430016.6在审
发明人：松下友纪 -专利权人：精工爱普生株式会社
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明涉及测定装置以及测定方法。在基于干涉光对测定对象的形状进行测定且测定对象的凹凸尺寸大于波长的情况下，无法实施高精度的形状测定。测定装置具备：光源部，射出光；分光元件，使从所述光源部射出的光中预定波长的光透射，且能够变更在预定的波长范围内透射的所述光的波长；干涉光学系统，将从所述分光元件射出的光分离为照射到测定对象的测定光和由参照体反射的参照光，并生成将由所述测定对象反射后的所述测定光和由所述参照体反射后的所述参照光合成而得的干涉光；受光部，接收所述干涉光；以及位置计算部，基于光谱信息计算所述测定对象的位置，所述光谱信息是使从所述分光元件透射的光的波长变化时在所述受光部的受光量的变化
测定装置以及方法