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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]FRET测量方法及FRET测量装置-CN201180013071.X无效
发明人：星岛一辉;中田成幸 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2011-05-06 - 公布日： 2012-11-21 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种FRET测量方法及FRET测量装置，在FRET测量方法中，对于感受体和向心配合体结合、且设置有第一分子和第二分子的测量样品照射激光，由此测量能量从第一分子转移到第二分子的FRET，该方法包括：将激光照射至样品上的步骤；对测量样品所发出的荧光进行测量的步骤；计算第一分子的荧光寿命的步骤；计算结合比率的步骤；设定测量样品的结合条件的步骤；计算解离常数的步骤，其中，在解离常数计算步骤中利用最小二乘法将样品中的感受体的全体浓度和解离常数作为变量的函数通过向结合比率计算步骤中计算出的结合比率拟合，由此求出解离常数。
fret 测量方法测量装置

[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法-CN201180005789.4无效
发明人：星岛一辉;中田成幸 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2011-01-13 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种荧光检测装置和荧光检测方法。荧光检测装置能够提高测量对象物受激光照射时发出的荧光的测量精度。该荧光检测装置对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，包括：激光光源，向测量对象物照射激光；第一受光部，接收测量对象物受激光照射时的散射光；第二受光部，接收测量对象物受激光照射时的荧光；信号处理部，对应第一受光部所接收的所述散射光强度，对第二受光部所接收的所述荧光信号进行加权平均。
荧光检测装置方法

[发明专利]荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法-CN201180005407.8无效
发明人：林弘能;中田成幸;星岛一辉;土井恭二 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2011-01-05 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法，荧光检测装置用受光元件接收测量对象物受以规定频率调制的激光照射后发出的荧光，并输出输出电平被调节的荧光信号，信号处理部通过将所输出的荧光信号与所述频率的调制信号混合，生成包括相位和强度信息的荧光数据，分析装置计算出测量对象物发出的荧光的、相对于所述调制信号的第一相位偏差，对于所计算出的第一相位偏差，进行与输出电平的调节条件相应的校正，以计算出第二相位偏差，分析装置进一步利用所计算出的第二相位偏差计算出测量对象物发出的荧光的荧光弛豫时间。
荧光检测装置方法以及信号处理

[发明专利]荧光检测方法、荧光微球的制备方法以及荧光微球-CN201180006463.3无效
发明人：林弘能;中田成幸 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2011-01-19 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种荧光检测方法、荧光微球的制备方法以及荧光微球，荧光微球包含荧光强度、荧光波长以及荧光弛豫时间相互不同的至少两种基本荧光色素，至少两种基本荧光色素的比率和绝对含有量按照与其它种类的荧光微球不同的方式设定，流式细胞仪利用该荧光微球进行荧光检测，由此，与现有的技术相比，通过一次测量能够高精度地识别多种微球。
荧光检测方法制备以及

[发明专利]FRET测量方法及装置-CN201080042653.6无效
发明人： 中田成幸;林弘能;星岛一辉 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2010-09-13 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种FRET测量方法及装置，能够求出在标记作为测量对象的活细胞的蛋白质的供体分子中与受体分子结合且发生FRET的供体分子的比例，其中，对于第一分子的浓度和第二分子的浓度比不同的多个预先测量样品，计算出第一分子的荧光寿命，并计算出第一分子的荧光寿命的最小值；照射对强度进行了时间调制的激光，并测量出测量样品被激光照射而发出的荧光；利用所测量的荧光信号，计算出第一分子的荧光寿命；利用第一分子的荧光寿命的最小值和所计算出的第一分子的荧光寿命，计算出测量样品中的第一分子中发生FRET的第一分子的比例。
fret 测量方法装置

[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法-CN201080007693.7无效
发明人： 中田成幸;土井恭二 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2010-02-08 - 公布日： 2012-01-11 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种荧光检测装置和荧光检测方法，该荧光检测装置在接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光时，生成用来对射出自激光光源部的激光进行强度调制的调制信号，并利用该调制信号对激光进行调制，并获得测量对象物被激光照射后所发出的荧光的荧光信号，并利用该荧光信号计算出荧光强度和荧光相对于调制信号的相位滞后，此时，荧光检测装置对调制信号DC成分的信号电平和刚刚输出荧光信号的放大增益的操作量进行控制，以使荧光强度信号值进入预先设定的范围内，操作量处于稳定状态后，计算出荧光强度，且利用相位滞后计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
荧光检测装置方法

[发明专利]荧光检测装置及荧光检测方法-CN201080007040.9无效
发明人： 中田成幸;土井恭二 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2010-02-08 - 公布日： 2012-01-04 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：一种荧光检测装置和荧光检测方法，当所述荧光检测装置接收测量对象物受到激光照射后所发出的荧光时，荧光检测装置生成用于对射出自激光光源部的激光进行强度调制的调制信号，并利用该调制信号对激光进行调制。所述荧光检测装置获得测量对象物被所述激光照射后所发出的荧光的荧光信号，并根据所述荧光信号计算出相对于所述调制信号的荧光的相位滞后，此时，荧光检测装置对调制信号的频率进行控制，以使相位滞后值接近于预先设定值，利用在所述控制处于稳定状态时的频率条件下所得到的相位滞后，计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
荧光检测装置方法

[发明专利]荧光检测装置及荧光检测方法-CN201080004403.3无效
发明人：星岛一辉;中田成幸 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2010-01-15 - 公布日： 2011-12-07 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种荧光检测装置及荧光检测方法，在该荧光检测装置中，相对于n种测量对象物发出的各荧光，在按照测量对象物k(k＝1～n的整数)发出的荧光的荧光强度相对于其它测量对象物发出的荧光的荧光强度高的方式设定的多个波段FLk(k＝1～n的整数)接收荧光，并得到对应于波段FLk的荧光信号，通过将该各荧光信号与对对应于波段FLk的至少一个波段的激光Lk(k＝1)进行强度调制的调制信号混合并进行降频转换，生成包括荧光信号的相位滞后和强度振幅的荧光数据，对该荧光数据进行校正，由此计算出相位滞后，并根据该相位滞后计算出荧光弛豫时间。
荧光检测装置方法

[发明专利]采用强度调制激光的荧光检测装置和荧光检测方法-CN200980136546.7无效
发明人：土井恭二;中田成幸;林弘能;星岛一辉 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2009-09-16 - 公布日： 2011-08-17 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：一种荧光检测装置和荧光检测方法，在利用流式细胞仪的荧光检测装置中，照射通过调制信号进行强度调制的激光，由此获得以横切激光测量点的方式通过测量点的测量对象物所发出的荧光的荧光信号。在所述荧光检测装置另生成与所述调制信号不同的、所具有的频率与所述调制信号频率不同且与所述调制信号的相位同步的参照信号。荧光检测装置利用参照信号从荧光信号计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间。
采用强度调制激光荧光检测装置方法

[发明专利]采用强度调制激光的荧光检测装置和荧光检测方法-CN200980135824.7无效
发明人：土井恭二;中田成幸;林弘能;星岛一辉 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2009-09-16 - 公布日： 2011-08-10 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：一种荧光检测装置和荧光检测方法，在所述荧光检测装置中，朝向测量对象物照射进行强度调制的激光，由此获得测量对象物所发出的荧光的荧光信号。此时，生成与调制信号不同的、与调制信号的频率相同或大致相同且与调制信号的相位同步的参照信号。在荧光检测装置中，利用参照信号与所获得的荧光信号进行混合处理后计算出测量对象物的荧光的荧光弛豫时间。本发明的荧光检测装置中，根据通过混合处理而得到的混合信号计算出的荧光弛豫时间，与以往的方式相比精度高。
采用强度调制激光荧光检测装置方法

[发明专利]荧光检测方法以及荧光检测装置-CN200980107755.9无效
发明人：星岛一辉;林弘能;中田成幸 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2009-02-18 - 公布日： 2011-01-26 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：本发明提供了荧光检测方法以及荧光检测装置，该方法和装置通过在照射激光以检测测定对象物发出的荧光时，与以往相比，能够正确计算出荧光松弛时间常数。其中，在测定对象物通过以规定频率的调制信号调制光强度的激光的照射位置时，收集受光装置接收的荧光的第1荧光信号。进而，在测定对象物通过激光的照射位置后，在激光的照射位置没有测定对象物的状态下，收集受光装置接收的荧光的第2荧光信号。使用收集的第1荧光信号和第2荧光信号，求出测定对象物的发出的荧光的荧光信号相对于调制信号的相位差信息，并从所求出的测定对象物发出的荧光的荧光信号的相位差信息中，求出测定对象物的荧光松弛时间常数。
荧光检测方法以及装置

[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法-CN200980104324.7无效
发明人：林弘能;中田成幸 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2009-02-04 - 公布日： 2011-01-05 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：提供一种荧光检测装置和荧光检测方法，其中，接收照射激光后测量对象物所发出的被散射的前向散射光，通知测量对象物通过测量点的情况，且生成用来确定发生聚焦的前向散射光的聚焦位置的检测信号。另一方面，通过聚光透镜接收测量对象物的荧光并输出受光信号。根据所输出的受光信号和生成的检测信号输出荧光强度值。根据所生成的检测信号确定聚焦位置并利用对应于该特定位置的校正系数对受光信号进行校正。
荧光检测装置方法

[发明专利]FRET检测方法及装置-CN200780053717.0无效
发明人：木村宪明;中田成幸;土井恭二 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2007-08-30 - 公布日： 2010-03-31 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：一种FRET检测方法及装置，其在短时间对多个由供体分子和受体分子组成的样品进行FRET检测时，首先，将以频率f+Δf进行强度调制的、用于激发供体分子的第一激光照射在供体分子上，且将以频率f进行强度调制的用于激发受体分子的第二激光照射在受体分子上，接收所述受体分子发出的荧光。从接收的荧光的荧光信号中提取所述受体分子通过FRET而发出荧光的第一信号成分和所述受体分子通过所述第二激光照射而激发的受体分子发出荧光的第二信号成分。然后计算出被提取的所述第一信号成分的相位滞后与被提取的所述第二信号成分的相位滞后，并根据这些相位滞后判断出是否有FRET的发生。
fret 检测方法装置

[发明专利]FRET检测方法及装置-CN200780053706.2无效
发明人： 中田成幸;木村宪明 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2007-08-30 - 公布日： 2010-03-31 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：一种FRET检测方法和检测装置，其中，在去除荧光检测信息的不确定因素并定量地测量出FRET效率时，获得预先被存储在存储装置的校准信息，所述校准信息至少包括：测量对象样品的荧光中，供体分子发出的供体荧光成分的漏泄率、受体分子发出的受体荧光成分的漏泄率、以及在不发生FRET的情况下的供体荧光成分的非FRET荧光寿命。另外，利用测量对象样品的荧光的荧光强度信息和相位信息、供体荧光成分的漏泄率和受体荧光成分的漏泄率，求出供体荧光成分的FRET荧光寿命，且求出FRET效率。
fret 检测方法装置

[发明专利]具有细胞分级分离处理功能的流式细胞仪以及活细胞分级分离处理方法-CN200880006269.3无效
发明人： 中田成幸;木村宪明;伊藤彰英;安田贤二 -专利权人：三井造船株式会社
申请日： 2008-06-11 - 公布日： 2010-01-06 - 主分类号： C12N5/00 文献下载
摘要：一种具有细胞分级分离处理功能的流式细胞仪和活细胞分级分离处理方法，其中，朝向含有活细胞群的样品液流照射测量用激光，接受测量用激光的照射，分别获取由样品液流的各个活细胞分别所发出的散射光和荧光中的至少一种光信息，根据所获取的光信息，分别判别出与各个光信息相对应的活细胞是不需要的活细胞还是目标活细胞，根据判别结果，仅对在样品液的活细胞群中被判别为不需要的活细胞的活细胞施加脉冲电压，使不需要的活细胞受到损伤而变为死细胞。
具有细胞分级分离处理功能以及方法

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