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- [发明专利]支承体及基板收纳容器-CN200980123876.2有效
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大贯和正;志田启之;小田岛智
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信越聚合物株式会社
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2009-06-12
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2011-06-01
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H01L21/673
- 提供一种能够抑制防止较薄的晶片或大口径的晶片振动、或接触而损伤等、并且能够安全地取放这些晶片的支承体及基板收纳容器。在容器主体的两侧壁内面上，分别安装支承Φ450mm的半导体晶片(W)的分体的支承体(40)，将各支承体(40)通过从框体(41)向横向突出而水平地支承半导体晶片(W)的至少周缘部的侧部前方的前部支承片(52)、和从框体(41)向横向突出而水平地支承半导体晶片(W)的至少周缘部的侧部后方的后部支承片(57)形成。将前部支承片(52)通过从框体(41)的前部向半导体晶片(W)的周缘部前方方向延伸的突出部(53)、和从突出部(53)向后方延伸以使其沿着半导体晶片(W)的周缘部的弯曲部(54)形成。
- 支承收纳容器
- [发明专利]晶片检查用接口和晶片检查装置-CN201210517530.4有效
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山田浩史
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东京毅力科创株式会社
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2012-12-05
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2013-06-19
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G01R1/04
- 本发明提供一种晶片检查用接口，当进行形成在多个半导体元件的电特性检查时能够防止晶片弯曲。晶片检查用接口（18）包括：配置有多个探针（25）的探针卡（20）；保持该探针卡（20）的固定环（21）；夹着晶片（W）使其与探针卡（20）相对的吸盘（23）；密封由固定环（21）、探针卡（20）和吸盘（23）包围的外侧空间（27）的外侧密封环（24）；对外侧空间（27）进行减压的外侧减压路径（29）；密封由探针卡（20）和晶片（W）包围的内侧空间（28）的内侧密封环（26）；对内侧空间（28）进行减压的内侧减压路径内侧空间（28）被包含于外侧空间（27）且晶片（W）配置于内侧空间（28）内。
- 晶片检查接口装置
- [实用新型]一种表晶-CN201320616873.6有效
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蔡国旺
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浙江一晶电子科技有限公司
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2013-09-27
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2014-04-23
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H03H9/02
- 本实用新型涉及一种表晶，包括表晶本体，所述表晶本体包括外壳、基座、晶片和引线，所述外壳呈U形，所述基座置于U形外壳开口的端部，基座与外壳形成一个密封腔，所述晶片置于密封腔内，所述密封腔外还设有金属外壳，所述引线呈弯曲状且贯穿基座与晶片连接。本实用新型通过设置引线为弯曲状，便无需工作人员自己动手去修剪引线，减少了工作人员的工作量，提高了工作效率；且在表晶本体外壳上还设有由铁衣制成的金属外壳，加大了对表晶本体的保护，防止因电流过大，表晶外壳被击穿
- 一种
- [发明专利]搬运装置-CN201510477861.3在审
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大西健太;万德公丈;冈田繁史;占部裕之;渡边勇辉
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株式会社迪思科
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2015-08-06
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2016-03-02
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H01L21/677
- 本发明提供一种搬运装置，其能够适当地吸引保持弯曲的晶片，能够易于应对直径不同的晶片。搬运装置(6)将收纳于盒(8a、8b)中的晶片(11)从盒中搬出或将晶片搬入盒中，其具有：吸引保持晶片的保持部(42)；以及使保持部移动的驱动部(44)，保持部具有：保持部主体(46)；在保持部主体的正面(46c)开口且彼此远离的多个吸引口(48a、48b)；与吸引源(52)连接并对吸引口传递负压的负压传递路(50)；以及配设于吸引口的由弹性材料构成的吸附盘(54)，多个吸引口被设置为在晶片的径向上彼此远离
- 搬运装置
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