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[发明专利]基于间接可靠性特征量的航天产品可靠性仿真评估方法-CN201510523193.3有效
发明人：李健;张桅;李新波;刘金燕 -专利权人：中国航天标准化研究所
申请日： 2015-08-24 - 公布日： 2018-04-24 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了基于间接可靠性特征量的航天产品可靠性仿真评估方法，通过建立试验测量参数与间接可靠性特征量的函数关系，并采用仿真抽样计算方法，获得间接可靠性特征量的概率分布，进而采用广义应力‑强度模型，评估产品的可靠性；在间接可靠性特征量的计算、单一故障模式发生概率的计算、具有多故障模式产品的可靠性评估中，三次采用抽样仿真方法进行计算，该方法与解析方法相比，更加适用于大型复杂航天产品的可靠性评估，且计算准确性高，易于计算机软件编程实现
基于间接可靠性特征航天产品仿真评估方法

[发明专利]可靠性监测系统、具有可靠性监测功能的转速机架及系统-CN201910358696.8有效
发明人：陈永伟;谢永靖;何思源;邹克峰;索凌平;邱河文;邹洪先;薛震;周小维;郭省军;曾文辉;邹人杰;赵常建 -专利权人：中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司
申请日： 2019-04-30 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G01P3/488 文献下载
摘要：本申请涉及一种可靠性监测系统、具有可靠性监测功能的转速机架及系统。其中，转速机架可靠性监测系统包括信号转接装置和可靠性监测装置。可靠性监测装置包括原始信号输入端和机架信号输入端，原始信号输入端与第一转速信号输出端电连接，机架信号输入端与机架信号转出端的输出端电连接，可靠性监测装置用于根据转速信号和机架信号监测转速机架的可靠性。
可靠性监测系统具有功能转速机架

[发明专利]圆片键合质量可靠性测试结构及可靠性测试方法-CN202010160624.5有效
发明人：董显山;来萍;黄钦文;黄云;杨少华 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2020-03-10 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种圆片键合质量可靠性测试结构及可靠性测试方法；其中，圆片键合质量可靠性测试结构，包括依次相接触串联固定在机械支撑层上的多个圆片键合结构组件；还包括设于首个圆片键合结构组件处的第一测试位点，和设于末端圆片键合结构组件处的第二测试位点
圆片键合质量可靠性测试结构方法

[发明专利]针对仲裁器PUF的可靠性自检电路与可靠性增强方法-CN201911224776.0有效
发明人：贺章擎;陈万博;安扬;徐雄;吴铁洲 -专利权人：湖北工业大学
申请日： 2019-12-04 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06F21/72 文献下载
摘要：本发明涉及电路设计与信息安全领域，公开了一种针对仲裁器PUF的可靠性自检电路，包括仲裁器PUF电路，仲裁器PUF电路包括仲裁器模块、两个延迟链、可靠性标志产生模块、自测试模块和控制逻辑产生模块，自测试模块包括两个二选二多路选择器本发明还公开了基于位自检技术的仲裁器PUF可靠性增强电路的增强方法。本发明针对仲裁器PUF的可靠性自检电路的可靠性增强方法，使仲裁器PUF输出的比特错误率达到10‑9以下，并且具有良好的唯一性和偏置特性，能够直接应用于密钥产生而不需再采用任何纠错模块
针对仲裁 puf 可靠性自检电路增强方法

[实用新型]舰用机柜的可靠性试验夹具和可靠性试验装置-CN202020689792.9有效
发明人：曾庆国;王春辉;陆家乐;张金栋;费清春;宋珂;宋岩;谢章用;江丰;莫咏文;刘文浩 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））;华南理工大学
申请日： 2020-04-29 - 公布日： 2020-12-15 - 主分类号： G01M7/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种舰用机柜的可靠性试验夹具和可靠性试验装置，所述舰用机柜的可靠性试验夹具包括过渡板、横梁及支撑框。过渡板用于装设于振动台上，过渡板用于与舰用机柜的底壁相连。可以根据舰用机柜的数量确定在过渡板上装设的支撑框的数量，并将两个以上舰用机柜同步装设于过渡板上，可以同时对两个以上舰用机柜进行可靠性试验，能减少试验时间，并能提高试验效率，拓展性较强。
机柜可靠性试验夹具试验装置

[发明专利]具有改进的机械可靠性和热可靠性的半导体装置-CN200680028208.8有效
发明人：阿野一章 -专利权人：德州仪器公司
申请日： 2006-08-09 - 公布日： 2008-07-30 - 主分类号： H01L23/48 文献下载
摘要：本发明提供一种具有由特定区域(202)的铜接触垫(210)和在垫区域上以冶金学方式附接到所述铜垫的合金层(301)制成的焊料接点的装置。所述合金层含有包括Cu₆Sn₅金属间化合物的铜/锡合金和包括(Ni，Cu)₆Sn₅金属间化合物的镍/铜/锡合金。包括锡的焊料元件(308)在所述垫区域上以冶金学方式附接到所述合金层。在回流工序之后没有剩下原始薄镍层的任何部分。铜/锡合金有助于改进跌落测试性能，镍/铜/锡合金有助于改进寿命测试性能。
具有改进机械可靠性半导体装置

[发明专利]一种评估准确的车辆可靠性评估系统-CN201710299087.0在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：上海喆之信息科技有限公司
申请日： 2017-04-27 - 公布日： 2017-09-05 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种评估准确的车辆可靠性评估系统，包括子系统评估模块和整车评估模块，所述子系统评估模块用于对车辆各子系统的可靠性进行评估，获取各子系统的可靠性函数，所述整车评估模块根据各子系统可靠性函数对车辆整体的可靠性进行评估本发明的有益效果为实现了对车辆各子系统和车辆整体的可靠性评估。
一种评估准确车辆可靠性系统

[发明专利]可靠性评估测试装置、可靠性评估测试系统、接触器以及可靠性评估测试方法-CN02821110.3无效
发明人：竹腰清;保坂久富;荻原顺一;初鹿国彦;臼井孝公;金子尚史;早坂伸夫;井户义幸 -专利权人：东京毅力科创株式会社;株式会社东芝;IBIDEN股份有限公司
申请日： 2002-11-27 - 公布日： 2005-02-02 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：可靠性评估测试装置(10)，包括晶片存放单元(12)，该存放单元存放晶片(W)，该晶片则处于该晶片上形成的若干器件的电极衬垫与接触器(11)的凸起彼此完全电气接触的状态。该半导体晶片上形成的一层互连膜与绝缘膜的可靠性可以在加速条件下加以评估。
可靠性评估测试装置系统接触器以及方法

[发明专利]一种实现寿命均衡的产品可靠性分配方法-CN201210183515.0有效
发明人：李中凯;程志红;江晓红;刘后广;郝敬宾 -专利权人：中国矿业大学
申请日： 2012-06-06 - 公布日： 2012-10-10 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种实现寿命均衡的产品可靠性分配方法。方法步骤：通过产品的功能和结构分析，建立产品的子功能和子部件库；基于能量的传递、转换和分支关系，对每个子功能，建立多子部件串并联结构的可靠性框图；解析可靠性框图，建立子功能的可靠性最大和串联子系统可靠性方差最小的两目标优化模型，并使用多目标进化算法求解；产品子部件的可靠性取各子功能运算获得的可靠性均值，将可靠性相似的子部件聚类成为模块，获得产品可靠性分配和模块规划方案。针对产品设计时由于子部件的可靠性不均衡而导致产品整体可靠性降低的问题，基于能量流可靠性框图建模，提出了实现部件可靠性均衡和优化的产品可靠性分配方法，获得产品的整体可靠性分配方案。
一种实现寿命均衡产品可靠性分配方法

[发明专利]一种面向软错误的智能系统可靠性分析方法及装置-CN202210175145.X在审
发明人：庄毅;王颖颖;顾晶晶;沈奇 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2022-02-24 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G06F11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种面向软错误的智能系统可靠性分析方法及装置。方法包括：将智能系统划分为不同的功能模块；对功能模块建立面向软错误的可靠性模型FMRM；将可靠性模型转换成评估模型，计算功能模块的可靠性；根据不同功能模块的失效率，获取描述模块间失效率相关性的联合函数；根据功能模块的可靠性概率以及联合函数，建立智能系统整体的概率拓扑关系，建立整体可靠性评估模型MIR‑BN，通过概率推理，获取智能系统整体的可靠性结果；根据反向推理，识别智能系统中的可靠性关键模块。本发明的方法采用分级的方式，对智能系统的可靠性进行分析与评估，模型层次清晰，具有可扩展性，不仅能够进行定性分析，还能进行定量分析，进而提高了可靠性分析与评估的准确性。
一种面向错误智能系统可靠性分析方法装置

[发明专利]结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法-CN201810726731.2在审
发明人：翟国富;叶雪荣;郑博恺;司爽;林义刚 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-07-04 - 公布日： 2018-11-27 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过EDA仿真模型及多物理场耦合模型对电子类单机进行描述，建立电子类单机功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响电子类单机输出特性参数的关键底层单元；然后，对关键底层单元进行失效模式及失效机理分析，结合底层单元工艺数据及加速贮存试验中实测的贮存退化数据，建立具有分布特性的底层单元贮存退化模型；最后，通过可靠性框图对电子类单机结构特征进行描述，并将各底层单元贮存失效率注入其中，完成电子类单机贮存可靠性评估。本发明解决了因进行加速贮存试验时电子类单机样本量过小，而导致的贮存可靠性评估结果准确度较低的问题。
贮存单机底层单元可靠性评估加速贮存试验仿真模型失效机理分析结果准确度灵敏度分析单机功能单机结构多物理场分布特性工艺数据失效模式输出特性退化模型退化数据影响电子耦合模型失效率样本量实测

[发明专利]一种基于用户感知可靠性指标的可靠性电价制定方法-CN201811596480.7在审
发明人：王守相;赵晨睿;谢颂果 -专利权人：天津大学;国网天津市电力公司
申请日： 2018-12-26 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： G06Q30/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于用户感知可靠性指标的可靠性电价制定方法，包括步骤：建立在供电区域内的每个负荷点具有的用户感知可靠性指标对于在供电区域内的每个负荷点，采集该负荷点自身具有的用户分类特征，然后将多个负荷点按照不同的用户分类特征，分别进行聚类，获得分别具有相同用户分类特征的多组负荷点；对于具有相同用户分类特征的每组负荷点，分别进行归一化处理，对应获得虚拟负荷点；对于每组负荷点对应的虚拟负荷点，根据其具有的用户感知可靠性指标以及预设的电网系统的原始基础电价，获得对应的同组负荷点的可靠性电价。本发明能够基于用户感知可靠性指标，来准确描述用户对供电可靠性的需求，从而制定不同用户的可靠性电价。
负荷点可靠性指标用户感知用户分类电价供电区域虚拟负荷供电可靠性归一化处理电网系统原始基础制定聚类同组预设采集

[发明专利]一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备-CN202111349633.X在审
发明人：南海卿;张晓强 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2021-11-15 - 公布日： 2022-01-21 - 主分类号： G06F30/3315 文献下载
摘要：本发明提供了一种可靠性因子确定方法、可靠性评估方法和相关设备，包括：对逻辑单元的信号进行分析，获得逻辑单元发生第一事件的概率；根据对逻辑单元模拟发生第一事件的结果，获得第一事件对逻辑单元性能的影响概率和逻辑单元在第一事件发生时的性能变化；根据发生第一事件的概率、影响概率和性能变化，确定逻辑单元在第一事件发生时的可靠性因子，从而可以通过可靠性因子更加准确地判断第一事件对逻辑单元可靠性的影响，进而可以通过可靠性因子对包括逻辑单元的集成电路的可靠性进行更加准确的评估
一种可靠性因子确定方法评估相关设备

[发明专利]介质层可靠性评估方法和评估介质层可靠性的测试系统-CN202210043050.2在审
发明人：胡健;唐伟;石晓;熊阳 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-01-14 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G01N27/92 文献下载
摘要：本公开实施例涉及半导体领域，提供一种介质层可靠性评估方法和评估介质层可靠性的测试系统，方法包括：提供存储器，存储器包括多个子字线驱动器和多条子字线，每个子字线驱动器包括多个晶体管，每个晶体管包括栅极、源极给至少一个子字线驱动器进行预充电，且所有子字线处于关断状态，至少一个子字线驱动器经历至少一次预充电，实时获取每一预充电所经历的实际时长；进行预充电的子字线驱动器中的介质层为目标介质层，基于实际时长实现对目标介质层的可靠性评估本公开实施例至少可以实现对子字线驱动器中目标介质层的可靠性评估。
介质可靠性评估方法测试系统

[发明专利]一种闪存的可靠性测试方法及可靠性测试装置-CN202211339013.2在审
发明人：袁伟 -专利权人：合肥大唐存储科技有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本文公开一种闪存的可靠性测试方法及可靠性测试装置，包括：对Nand闪存中包含的每一个块分别进行测试操作；根据测试操作获得的Nand闪存的所有块的测试操作结果，确定Nand闪存的可靠性信息；其中，测试操作包括本发明实施例通过对Nand闪存中包含的块进行测试操作的测试操作结果，实现了闪存的可靠性测试，在降低可靠性测试运算量的同时，提升了可靠性测试的稳定性。
一种闪存可靠性测试方法装置