专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]终端身份证智能扫描方法、装置以及终端-CN201911172655.6在审
  • 黄应祥;金洁;卢宏杰 - 深圳市信联征信有限公司
  • 2019-11-26 - 2020-03-27 - G06K9/20
  • 本发明涉及一种终端身份证智能扫描方法、装置以及终端,方法包括以下步骤:通过终端摄像头持续拍摄身份证,以得到扫描视频流;转换扫描视频流,以得到扫描图像;对扫描图像进行预处理,以得到识别图像;判断识别图像中是否存在对应的身份证特征;若存在,则获取身份证特征在识别图像的坐标信息和占用面积;判断该坐标信息和占用面积是否符合要求;若符合要求,则截取识别图像目标区域以得到身份证图像。本发明通过终端的摄像头扫描身份证图像,并使用识别模型在终端本地对身份证图像进行快速准确的识别,所有操作均在终端本地进行,无需将身份证图像上传到服务器端进行验证识别,更加高效快捷,同时不受终端网络信号影响
  • 终端身份证智能扫描方法装置以及
  • [发明专利]答题卡识别方法、装置、电子设备和存储介质-CN202211430183.1在审
  • 李超 - 广东讯飞启明科技发展有限公司
  • 2022-11-15 - 2023-04-04 - G06V10/44
  • 本发明提供一种答题卡识别方法、装置、电子设备和存储介质,其中方法包括:确定待识别答题卡的模板图像和扫描图像,模板图像中包括定位框;对扫描图像进行轮廓检测,得到多个轮廓图形,对各个轮廓图形和定位框进行匹配,并基于匹配成功的轮廓图形和定位框,确定扫描图像和模板图像之间的变换矩阵;基于变换矩阵,对扫描图像进行坐标系转换,得到扫描定位图像,基于扫描定位图像,进行答题卡识别,通过坐标系转换完成了从扫描图像至模板图像的坐标空间转换,实现了答题卡定位,克服了传统定位方法对于定位元素的要求较高,以及抗干扰能力较差的缺陷,降低了对于定位元素的要求,增强了定位过程的抗干扰能力,实现了定位准确度和识别精确度的提升。
  • 答题识别方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种基于三维模型的自适应扫描测量系统及其控制方法-CN201610704366.6有效
  • 金隼;代勤华;刘顺;屈原;衡德正;陈坤 - 上海交通大学
  • 2016-08-22 - 2019-02-19 - G01B11/00
  • 本发明公开了一种基于三维模型的自适应扫描测量系统,涉及工业自动化领域,包括机器人测量系统、测量控制系统、手动对标装置、测量支架,本发明还公开了一种基于三维模型的自适应扫描测量控制方法,包括以下步骤:将待测工件的三维模型导入中央处理器,中央处理器根据待测工件的三维模型的模型特征和测量要求将待测工件的三维模型转换为网格化区域型的目标测量点云,进而依据目标测量点云制定出符合模型特征和测量要求的自适应扫描策略;进行手动对标;进行自适应扫描测量本发明所述的自适应扫描测量系统可以实现自动快速扫描测量,提高了测量效率;本发明所述的自适应扫描测量控制方法简化了数据处理流程,提高了数据分析的效率。
  • 一种基于三维模型自适应扫描测量系统及其控制方法
  • [发明专利]晶片位置检测方法-CN201610766051.4有效
  • 李靖 - 北京北方华创微电子装备有限公司
  • 2016-08-29 - 2021-10-15 - H01L21/66
  • 本发明公开了一种晶片位置检测方法,包括以下步骤:S1,分别或同时沿两条侧位垂直线扫描各个片槽内的晶片;两条侧位垂直线分别位于片槽的垂直中心线的两侧;S2,将同一晶片的沿两条侧位垂直线的两个扫描结果进行对比,若两个扫描结果一致,则确定晶片位置正常;若两个扫描结果不一致,则确定晶片位置异常。本发明的晶片位置检测方法,只需沿着片槽的侧位垂直线扫描片槽内的晶片即可,对于侧位的扫描位置并没有具体的要求,避免了现有技术中的中心线检测法对于扫描位置必须要严格的正对片槽中心位置的要求,本发明的检测方法具有更高的检测精度
  • 晶片位置检测方法

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