专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种目标温度的测量方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211167571.5在审
  • 余瑾;陈松林;裴国超;吴辉阳 - 杭州微影软件有限公司
  • 2022-09-23 - 2023-02-03 - G01J5/48
  • 本发明实施例提供了一种目标温度的测量方法、装置、电子设备及存储介质,方法包括:获取待处理热图像以及待处理热图像包括的目标的待补偿温度,确定目标在待处理热图像中的目标成像特征,其中,目标成像特征用于表征目标的形状和/或成像大小,基于目标成像特征、目标的待补偿温度和预设映射关系,确定目标的测量温度,预设映射关系为成像特征、待补偿温度与测量温度之间的对应关系。由于目标成像特征可以表征目标的形状和/或成像大小,因此在获取目标的待补偿温度和目标成像特征后,可以基于对应关系准确确定目标的测量温度,可以补偿目标的形状和/或成像大小对测温的影响,从而提高热成像测温的测温精度
  • 一种目标温度测量方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种等离子体光刻成像方法及装置-CN202211405494.2在审
  • 丁虎文;韦亚一;刘丽红;董立松;李梓棋 - 中国科学院微电子研究所
  • 2022-11-10 - 2023-04-28 - G03F7/20
  • 本申请实施例提供一种等离子体光刻成像方法及装置,包括:获取等离子体光刻成像目标成像结构,目标成像结构包括呈周期性变化的目标掩模图形,将目标掩模图形输入快速成像模型,得到目标掩模图形对应的目标等离子体光刻成像,快速成像模型是利用目标成像结构的训练掩模图形和训练掩模图形对应的训练等离子体光刻成像训练得到的,本申请中通过目标成像结构的训练掩模图形以及训练掩模图形对应的训练等离子体光刻成像训练快速成像模型,这样该模型就可以后续用于快速输出目标掩模图形对应的目标等离子体光刻成像,提高对于等离子体光刻成像的输出效率,为后续对等离子体光刻成像进行研究提供了有效模型,极大地方便了对于等离子体光刻技术的研究。
  • 一种等离子体光刻成像方法装置
  • [发明专利]一种星载SAR多目标成像参数设计方法-CN202310265593.3有效
  • 邓云凯;吕继宇;邱劲松;王伟 - 中国科学院空天信息创新研究院
  • 2023-03-20 - 2023-06-09 - G01S13/90
  • 本发明公开了一种星载SAR多目标成像参数设计方法。所述方法以高分辨率和高时效性成像为设计目标,以滑动聚束模式为基本成像模式,满足高分辨率成像需求,利用斜视成像联合高优先级目标成像,相同优先级目标先方位向由近及远再距离向由近及远的目标筛选原则,提高观测时效性方法根据卫星精确轨道预报数据和目标区域信息,结合星载SAR斜视滑动聚束模式成像原理,快速确定可成像目标位置,准确获取各目标区域成像需要的关键时间和斜视角参数,使波束指向在指定的成像时刻精确指向目标区域,满足高分辨率SAR卫星多目标成像工程实现和高时效性观测应用需求。
  • 一种sar多目标成像参数设计方法
  • [发明专利]显微成像装置的对焦方法、显微成像装置及存储介质-CN202210796010.5在审
  • 刘伟生 - 深圳禾思众成科技有限公司
  • 2022-07-07 - 2022-11-22 - G02B21/24
  • 本申请提供一种显微成像装置的对焦方法、显微成像装置、系统及计算机可读存储介质,该方法包括:获取目标曲线函数,所述目标曲线函数用于指示显微成像装置在预设平面上的水平位移信息,和显微成像装置与目标物体的距离之间的对应关系,预设平面与所述目标物体所在平面平行;确定所述显微成像装置在所述预设平面上的目标水平位移信息;基于所述目标曲线函数,确定所述目标水平位移信息对应的所述显微成像装置与所述目标物体的目标距离;根据所述目标水平位移信息和所述目标距离确定所述显微成像装置的目标位置,获取所述显微成像装置在所述目标位置时拍摄的图像。本申请可以提高显微成像的对焦实时性和精度。
  • 显微成像装置对焦方法存储介质

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