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[发明专利]表面形貌分析系统及其分析方法-CN200510033141.4无效
发明人：黄全德 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2005-01-31 - 公布日： 2006-08-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种表面形貌分析系统，其包括一表面轮廓测量仪；一用于安置工件的承载平台；一X－Y－Z平台，用于调整承载平台的空间三维位置；以及一显微观测系统。其中，该显微观测系统包括一反射镜和一显微观测仪器，所述反射镜用于将工件表面形貌影射到显微观测仪器中。本发明还提供利用上述系统的表面形貌分析方法。本发明所提供的表面形貌分析系统通过在工件与显微观测仪器之间设置一反射镜，使显微观测仪器能准确定位待测量的表面区域，以实现表面形貌的定位测量。该表面形貌分析系统可广泛应用在导光板和透镜模仁等工件的表面形貌分析。
表面形貌分析系统及其方法

[发明专利]观测阻变存储器多根导电通道分布和形貌的方法及装置-CN202210615873.8在审
发明人：吴华强;魏甜甜;高滨;唐建石;钱鹤 -专利权人：清华大学
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种观测阻变存储器多根导电通道分布和形貌的方法及装置，其中，方法包括：扫描待观测物体，得到待观测物体的不同深度的电流分布二维切片数据集；对不同深度的电流分布二维切片数据集进行几何模型的三维重构，得到电流分布的三维图(包括彩色图、灰度图等，彩色图可以用来观测导电通道的形貌，灰度图可以用来观测导电通道的数量、分布位置和三维形貌)；调节电流分布的三维图的灰度值和/或透明度，得到待观测物体各导电通道的数量、分布位置和形貌状态。由此，利用cAFM通过层层剥离的方法，重构三维图，以此观测到介质层中各种导电通道的数量、分布位置和各导电通道的三维形貌。
观测存储器导电通道分布形貌方法装置

[发明专利]一种基于涡胞旋转的肿瘤细胞形貌动态观测的微流控芯片装置-CN202111001923.5在审
发明人：申峰;艾明珠;孙鹏程;李宗鹤 -专利权人：北京工业大学
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： C12M3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于涡胞旋转的肿瘤细胞形貌动态观测的微流控芯片装置，由芯片主体结构、入口、主通道、对称分布的圆形和矩形微凹槽结构、出口和下底板组成。利用微凹槽产生的涡胞流场，实现对捕获的循环肿瘤细胞的三维空间旋转运动行为的精准操控，进而进行三维形貌动态追踪观测，克服了传统单细胞观测装置只能观测静止细胞单侧形貌的缺点。该芯片装置结构简单，充分利用微凹槽产生的三维涡胞结构，实现了待测细胞的三维空间旋转观测，可进一步实现CTCs细胞三维形貌重构，满足了血液中CTCs细胞的分选和三维形貌观测一体化操作要求。本发明有利于捕获CTCs细胞形貌的动态观测，为进一步单细胞分析奠定基础，对人类肿瘤疾病的科学研究具有重要意义。
一种基于旋转肿瘤细胞形貌动态观测微流控芯片装置

[发明专利]一种锂离子电池含涂层隔膜的孔隙结构的多维观测方法-CN201910862600.1在审
发明人：李慧芳;陈荣;纪书文;赵培;王睿;伍绍中;周江 -专利权人：天津力神电池股份有限公司
申请日： 2019-09-12 - 公布日： 2020-02-11 - 主分类号： G01N15/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种锂离子电池含涂层隔膜的孔隙结构的多维观测方法，包括步骤：第一步、将待测含涂层隔膜进行平面抛光，然后以扫描电镜对完成平面抛光的待测含涂层隔膜的涂层部分进行形貌观测，获涂层部分的形貌图像；第二步、对含涂层隔膜样品，继续进行平面抛光，然后以扫描电镜对完成平面抛光的基膜部分进行形貌观测，获得基膜部分的形貌图像；第三步、另取一份同样的待测含涂层隔膜样品，对其TD和MD方向的横截面进行抛光处理，然后，以扫描电镜对隔膜TD和MD方向的横截面进行形貌观测，分别获得对应的形貌图像。
隔膜平面抛光扫描电镜形貌观测形貌图像基膜孔隙结构锂离子电池抛光处理全面评价多维电池观测

[发明专利]一种锂电池电极质量的评价方法-CN201910962875.2在审
发明人：陈荣;李慧芳;韩江浩;王睿;伍绍中;周江 -专利权人：天津力神电池股份有限公司
申请日： 2019-10-11 - 公布日： 2020-02-11 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明公开一种锂电池电极质量的评价方法，对待评估电极极片样本的不同深度位置的观测面进行平面抛光，对抛光平面进行形貌及成分分析，获取观测面的形貌及成分分析信息，对比不同深度位置的平面观测结果，考察极片在纵向不同位置平面上的形貌及成分分析信息本发明通过对极片不同深度位置的平面观测，达到对极片纵向涂覆质量的可靠性评价，相比于仅以横截面观测电极纵向质量更具有真实性和较高的测试精度。
形貌成分分析深度位置对极观测涂覆可靠性评价锂电池电极电极极片电极纵向观测结果抛光平面平面抛光位置平面综合评价对电极观测面极片样本真实性测试评估考察

[发明专利]一种微纳米尺度液体浸润形貌观测方法-CN201410046111.6有效
发明人：边捷;葛海雄;袁长胜;陈延峰 -专利权人：南京大学
申请日： 2014-02-10 - 公布日： 2014-05-14 - 主分类号： G01N13/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种微纳米尺度液体浸润形貌观测方法。该方法既可以用于紫外光固化的紫外胶液体，也可以用于与紫外胶不相溶的水滴。对于紫外胶液体可以采用双转移和紫外光固化的方法冻结并用扫描电子显微镜（SEM）观测液体形貌。而对于水滴则采用紫外胶液滴包裹冷凝水滴并用紫外光固化的方法来冻结水滴形貌并用SEM观测。根据本发明的观测方法，可以广泛应用于微纳米尺度各种固体微结构表面浸润性的研究。
一种纳米尺度液体浸润形貌观测方法

[发明专利]利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法-CN201710318464.0有效
发明人：张贵英;惠宁;沈东军;郭泽钦;王志超;丁晓文;曹磊;王小春;牛东升;李珏 -专利权人：北京市化工职业病防治院
申请日： 2017-05-08 - 公布日： 2019-05-14 - 主分类号： G01T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用光学显微镜观测固体核径迹探测器的径迹形貌的方法，包括如下步骤：将固体核径迹探测器制备成方形探测器，并将该方形探测器的四边磨平抛光，并标识观测边；利用粒子束流对方形探测器进行垂直辐照从而形成辐照后的探测器，并且粒子束流的辐照面积大于方形探测器的面积；将辐照后的探测器进行蚀刻，从而形成蚀刻后的探测器，然后将蚀刻后的探测器取出，经过后处理得到待观测的探测器；在取出过程中保证观测边不与硬物接触；将待观测的探测器置于光学显微镜的观测平台上，并使得所述观测边朝向所述光学显微镜的物镜，从而观测径迹形貌。本发明实现了借助光学显微镜实现对径迹形貌进行观测的目的。
利用光学显微镜观测固体径迹探测器形貌方法

[发明专利]一种观测高于室温状态下嵌段共聚物胶束形貌的方法-CN201810207873.8在审
发明人：姜莹;洪博;张越;赵亚明;郭嘉鹏 -专利权人：长春黄金研究院有限公司
申请日： 2018-03-14 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：本发明属于胶束形貌观测方法技术领域，具体涉及一种观测高于室温状态下嵌段共聚物胶束形貌的方法，是一种针对高于室温状态下的胶束形貌，用液氮冻结高于室温状态下的嵌段共聚物溶液，缩短了降温时嵌段共聚物发生二次聚集的时间，减缓降温过程中嵌段共聚物的结构松弛速率，使嵌段共聚物溶液只进行结构构象上的微调，不影响其高于室温时的形貌观测，本方法能够提高实验的准确性，简化实验程序，操作方便，可实现样品的批量操作，提高工作效率。
室温状态形貌嵌段共聚物胶束嵌段共聚物溶液嵌段共聚物形貌观测胶束观测工作效率降温过程结构构象批量操作实验程序液氮冻结微调松弛

[发明专利]一种用于材料腐蚀形貌准原位表征的方法-CN202310290753.X在审
发明人：姜龙涛;韩慧敏;晁振龙;王春雨;陈国钦;修子扬;武高辉 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2023-03-23 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：一种用于材料腐蚀形貌准原位表征的方法，涉及一种用于材料腐蚀形貌表征的方法。为了解决现有的材料腐蚀形貌原位表征方法存在试验条件苛刻且腐蚀环境受限等问题。方法：待腐蚀样品预处理、待腐蚀样品位置标记、在腐蚀之前将已经做位置标记的样品进行微观形貌表征、对样品进行腐蚀、将步骤四腐蚀后的样品进行清洗再次进行微观形貌表征形貌的动态观测。本发明用维氏硬度计的菱形压痕作为标记位置，材料在腐蚀性气氛中腐蚀多个时间段，可实现对材料某一区域的腐蚀形貌动态观测。该方法的腐蚀形貌表征效果近似于原位腐蚀表征，而所需实验条件简单且腐蚀气氛不受限制，需样品数量少，效率高。
一种用于材料腐蚀形貌原位表征方法

[发明专利]一种颗粒粒度和形貌的在线测量装置-CN201910520996.1在审
发明人：黄青山;肖航;陈阿强;杨超 -专利权人：中国科学院青岛生物能源与过程研究所;中国科学院过程工程研究所
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2019-08-23 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种颗粒粒度和形貌的在线测量装置，其包括全自动的取样系统、稀释系统、在线观测系统、图像处理系统等。其取样系统包括蠕动泵和取料管，将取得的样品输送至稀释系统，稀释系统包括储液槽及稀释槽，稀释系统将样品稀释至适宜在线观测系统观测的浓度，在线观测系统包括高清相机或显微镜、观测台及电脑，输送至观测台的样品经过高清相机或显微镜实时拍照并储存在电脑上，通过电脑程序可以详细观察颗粒的形貌及其大小，图像处理系统为本专利发明人具有自主知识产权的图像处理程序，该程序将高清相机或显微镜拍摄到的图片实时处理并经过数据统计后得到颗粒的粒度分布和具体形貌特征。
稀释系统形貌高清相机在线观测显微镜图像处理系统在线测量装置颗粒粒度取样系统观测台图像处理程序电脑程序粒度分布实时处理数据统计系统观测形貌特征样品输送样品稀释储液槽取料管蠕动泵稀释槽电脑拍照储存知识产权拍摄观察图片

[发明专利]研究注浆与裂隙形貌交互影响的可视化测试装置及方法-CN202310591734.0在审
发明人：李博;霍红燕;唐敏;蒋宇静 -专利权人：同济大学
申请日： 2023-05-24 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N3/56 文献下载
摘要：本发明公开了一种研究注浆与裂隙形貌交互影响的可视化测试装置及方法，涉及模拟岩体注浆设备技术领域，包括：观测模型，观测模型包括两个透明板，两个透明板的一面上均设有多个爆破颗粒，爆破颗粒内设有荧光溶液，两个透明板上的爆破颗粒之间形成注浆通道；观测台，观测模型放置于观测台上；监测模块，监测模块用于监测爆破颗粒爆裂后流出的荧光溶液；注浆模块，注浆模块能够与注浆通道的进浆口相连通，注浆模块用于向注浆通道进行注浆；收集模块，收集模块能够与注浆通道的出浆口相连通本发明可以清楚地观测浆液的冲刷对裂隙表面形貌的影响，得到裂隙表面形貌对浆液渗流特性的影响。
研究裂隙形貌交互影响可视化测试装置方法

[发明专利]光学元件激光损伤阈值的探测方法及其装置-CN200810007917.9有效
发明人：高智星;汤秀章;向益淮 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2008-02-19 - 公布日： 2008-07-23 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供的光学元件激光损伤阈值的探测方法及其装置，利用激光器发出的激光辐照在被测光学元件表面所产生的荧光，观测光学元件表面的形貌变化，该激光器是KrF激光器，通过观测光学元件表面荧光强度分布的畸变来观测光学元件表面的形貌变化该探测方法及装置可直观观测损伤的产生和发展过程，适于各类紫外光学元件表面损伤的在线测试，且灵敏度较高。
光学元件激光损伤阈值探测方法及其装置

[发明专利]一种初步检测三元正极材料前驱体颗粒形貌的方法-CN202110433518.4在审
发明人：刘尧;朱金玉;马学为;马荣刚;冯银恒 -专利权人：山东鲁北国际新材料研究院有限公司;山东鲁北企业集团总公司
申请日： 2021-04-19 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G01N15/10 文献下载
摘要：本发明属于锂离子电池正极材料技术领域，具体涉及一种初步检测三元正极材料前驱体颗粒形貌的方法，包括如下步骤：稀释浆料：采用稀释液将从反应釜取出的三元正极材料前驱体浆料稀释；观测样品的制备：采用移液管或滴管将步骤(1)中稀释后的浆料滴入载玻片，然后滴加三乙醇胺，盖上盖玻片；观测样品：调整对应的物镜和焦距，对样品进行观测，观测其颗粒是否发生团聚以及形貌是否为类球型。该方法可有效防止浆料中前驱体颗粒的团聚，从而通过光学显微镜可以检测到三元正极材料前驱体的准确形貌，提升了检测速度。
一种初步检测三元正极材料前驱颗粒形貌方法

[发明专利]GTAW焊接过程中熔池三维形貌观测装置及方法-CN201410249929.8无效
发明人：李海超;高洪明;金泽石;贾国庆;吕明达 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2014-06-06 - 公布日： 2014-09-03 - 主分类号： B23K9/095 文献下载
摘要：GTAW焊接过程中熔池三维形貌观测装置及方法，属于自动化焊接技术领域。本发明为了解决现有基于视觉传感的熔池观测方法只能获得熔池的二维信息的问题。它基于GTAW焊接装置实现，观测装置包括激光器、网格衍射光栅、像屏、滤光片、CCD摄像机和图像采集卡；方法为通过网格衍射光栅形成网格结构光，来照射熔池表面，网格结构光通过熔池反射并在像屏上成像，对图像数据进行处理后，最终通过提取焊接熔池三维信息获得熔池的三维形貌，实现对焊接熔池的实时监测，从而控制整个焊接过程。本发明用于焊接过程中熔池三维形貌观测。
gtaw 焊接过程熔池三维形貌观测装置方法

[发明专利]一种基于晶粒形貌预测确定增材制造成形工艺参数的方法-CN202111088031.3有效
发明人：吴倩茹;唐文来;夏俊 -专利权人：南京智能高端装备产业研究院有限公司
申请日： 2021-09-16 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： B22F10/85 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于晶粒形貌预测确定增材制造成形工艺参数的方法，通过建立有限元热模型；仿真增材制造过程，获得成形零件的瞬态温度场分布结果；基于零件的瞬态温度场分布结果，提取观测点瞬态温度变化结果；计算观测点的冷却速度、温度梯度和凝固速度；将计算得到的观测点的温度梯度和凝固速度值绘制到凝固图上，预测晶粒形貌，最后根据预测晶粒形貌结果确定增材制造成形的最佳工艺参数。本发明相比于其他增材制造晶粒形貌模拟方法计算量较小，更为快捷方便，从而实现增材制造工艺参数优化，细化成形零件晶粒具有重要意义。
一种基于晶粒形貌预测确定制造成形工艺参数方法

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