专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果3828679个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种光刻投影物镜系统波像差测量装置与方法-CN201410185411.2有效
  • 卢增雄;齐月静;苏佳妮;丁功明;周翊;王宇 - 中国科学院光电研究院
  • 2014-05-04 - 2017-01-18 - G03F7/20
  • 该装置主要由准分子激光器、直角棱镜组、匀光聚焦物镜系统、光纤耦合物镜、多模光纤、成像物镜、照明掩模板、准直物镜及夏克‑哈特波前传感器组成;其中,从准分子激光器输出的狭长的矩形光斑经直角棱镜组扩束后得到方形光斑方形光斑经过匀光聚焦物镜系统和光纤耦合物镜后被耦合入多模光纤中;由多模光纤出射的发散球面波经成像物镜后成像到照明掩模板上产生多个非相干球面波,这些非相干球面波经过投影物镜系统后携带其波像差信息,再经过准直物镜后成为平面波,平面波被夏克‑哈特波前传感器的微透镜阵列分成多个子光束,这些子光束聚焦到夏克‑哈特波前传感器的探测器上,测得投影物镜系统的波像差信息。
  • 一种光刻投影物镜系统波像差测量装置方法
  • [发明专利]基于哈特波前传感器的光力学红外成像仪-CN200810113462.9无效
  • 马晓燠;饶长辉;樊志华 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2008-05-28 - 2008-10-15 - G01J5/00
  • 基于哈特波前传感器的光力学红外成像仪,包括红外成像系统、焦平面阵列、冷光源系统,光学读出系统、IR图像复原器,红外物体通过红外成像系统成像到焦平面阵列上,红外热辐射使得焦平面阵列中的FPA单元发生微小变形,然后用冷光源系统发出标准平面波通过分光镜照射到FPA单元上发生反射,使带有微小面形变化的波前信息通过分光镜进入光学读出系统,由光学读出系统中的哈特波前传感器进行波前探测,再由IR图像复原器根据相关算法从光学读出系统探测到的波前中提取出每个FPA单元的热致转角信息后重构为被探测物体的红外图像;本发明利用哈特波前传感器能够高精度、高帧频探测波前信号的优点,提高了光力学红外成像仪系统灵敏度,从而得到质量更好的红外图像。
  • 基于哈特曼波前传感器力学红外成像
  • [实用新型]一种太赫兹透镜检测系统-CN201720382468.0有效
  • 申彦春;赵国忠;周璐 - 首都师范大学
  • 2017-04-13 - 2018-01-12 - G01N21/3586
  • 本实用新型公开了一种太赫兹透镜检测系统,该系统包括太赫兹波源、准直扩束系统、高阻硅片、氩离子激光器、第一离轴抛物面镜、第二离轴抛物面镜、哈特板、太赫兹透镜、第三离轴抛物面镜、太赫兹波探测器和计算机;所述太赫兹波源发射出的光束依次通过所述准直扩束系统、所述高阻硅片、所述第一离轴抛物面镜、所述第二离轴抛物面镜、所述哈特板、所述太赫兹透镜和所述第三离轴抛物面镜,所述太赫兹波探测器接收从所述第三离轴抛物面镜汇聚的所述光束,所述太赫兹波探测器与所述计算机电连接本实用新型用于利用哈特板检测太赫兹透镜的性能,并且利用氩离子激光是否照射到高阻硅片上,实现对检测装置的开、关控制。
  • 一种赫兹透镜检测系统

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top