专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种动态校准方法、设备及计算机可读存储介质-CN202011354229.7有效
  • 张立振;杨宪昌;邓永庆 - 杨新芳
  • 2020-11-27 - 2022-12-16 - G01R35/00
  • 本发明公开了一种动态校准方法、设备及计算机可读存储介质,其中,该方法包括:识别到当检测到频段切换时,检测电容传感器内部的寄生电容值和天线寄生电容值;然后,比较所述寄生电容值和所述天线寄生电容值;当所述寄生电容值与所述天线寄生电容值相同时,将所述寄生电容值作为工作基准值;当所述寄生电容值与所述天线寄生电容值不同时,获取所述寄生电容值与所述天线寄生电容值的差值,并将所述寄生电容值与所述差值的和作为所述工作基准值。实现了一种当天线频率进行切换时,降低天线寄生电容对SAR传感器寄生电容的影响,以确保SAR传感器工作在正常状态。
  • 一种动态校准方法设备计算机可读存储介质
  • [发明专利]电池包冷却液泄漏检测方法、电路及具有其的车辆-CN202210895385.7在审
  • 李超 - 小米汽车科技有限公司
  • 2022-07-26 - 2022-11-01 - G01M3/40
  • 其中,该方法包括:对电池包的第一寄生电容和第二寄生电容分别进行充电;其中,第一寄生电容由电池包中的主正极与电池包壳体构成,第二寄生电容由电池包中的主负极与电池包壳体构成;检测第一寄生电容的充电时间和第二寄生电容的充电时间;根据第一寄生电容的充电时间和第二寄生电容的充电时间,检测电池包的冷却液是否发生泄漏。本公开通过对电池包的第一寄生电容和第二寄生电容分别进行充电,检测第一寄生电容和第二寄生电容的充电时间,确定电池包的冷却液是否发生泄漏,可在少量冷却液泄漏且未造成绝缘失效的情况下,准确检测电池包的冷却液泄漏情况
  • 电池冷却液泄漏检测方法电路具有车辆
  • [发明专利]功率模块装置-CN201980037589.3在审
  • 郑芸;熊谷隆;山本和也;侯虎翼 - 三菱电机株式会社
  • 2019-06-17 - 2021-01-26 - H01L25/07
  • 功率模块装置具备:功率模块(23)、配线导体(1)、散热器(11)、将模块底板(3)和散热器(11)绝缘的绝缘片(10)以及连接在配线导体(1)与模块底板(3)之间的具有静电电容或者寄生电容的构件。模块内绝缘片(2)的寄生电容(C1)与具有静电电容或者寄生电容的构件的静电电容或者寄生电容并联连接,模块内绝缘片(2)的寄生电容(C1)与绝缘片(10)的寄生电容(C2)串联连接,具有静电电容或者寄生电容的构件的静电电容或者寄生电容与绝缘片(10)的寄生电容(C2)串联连接。
  • 功率模块装置
  • [发明专利]模数转换电路与电子装置-CN202010514815.7有效
  • 许莱 - 高拓讯达(北京)科技有限公司
  • 2020-06-08 - 2021-07-16 - H03M1/12
  • 本申请提供了一种模数转换电路与电子装置,该模数转换电路具有电压正输入端、电压负输入端、参考电压端和接地端,还包括采样电容阵列、采样开关阵列、至少一个比较器、第一下极板开关、第二下极板开关、第一寄生电容和第二寄生电容,应用本方案的模数转换电路,在转换阶段完成以后,第一寄生电容的两端均接地端连接,第二寄生电容的两端均接地端连接,第一寄生电容上的电荷不会受到电压正输入端的电压的影响,第二寄生电容上的电荷不会受到电压负输入端的电压的影响,从而避免了第一寄生电容和第二寄生电容对模数转换电路转换结果的影响,即本方案的模数转换电路对寄生电容不敏感。
  • 转换电路电子装置
  • [发明专利]MOSFET驱动回路寄生电感的确定方法-CN202210544654.5在审
  • 赵凤俭 - 飞锃半导体(上海)有限公司
  • 2022-05-19 - 2022-08-16 - G01R31/26
  • 本申请技术方案提供一种MOSFET驱动回路寄生电感的确定方法,包括:提供MOSFET驱动回路的RLC二阶等效电路,所述RLC二阶等效电路包括电连接的驱动信号源、驱动电阻、驱动回路寄生电感以及所述MOSFET的栅源寄生电容、栅漏寄生电容和漏源寄生电容;使所述MOSFET的栅源寄生电容值、栅漏寄生电容值及漏源寄生电容值达到稳定值;将所述RLC二阶等效电路由过阻尼状态转变为欠阻尼状态,期间所述MOSFET不开通,并获得所述栅源寄生电容的端电压与时间的关系;基于所述栅源寄生电容的端电压与时间的关系,获得震荡周期及幅值,进而获得驱动回路寄生电感值。本申请技术方案在不对器件造成损害的情况下,解决了MOSFET驱动回路寄生电感难以获取的问题。
  • mosfet驱动回路寄生电感确定方法
  • [发明专利]半导体测试结构-CN201911201825.9在审
  • 钱仕兵 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2019-11-29 - 2021-06-01 - H01L21/66
  • 本发明涉及一种半导体测试结构,用于在测试MOS器件的栅电容时作为栅电极的引出端与外部测试结构连接。所述半导体测试结构包括衬底,所述衬底上设有待测试的MOS器件;焊盘,用于连接外部测试结构;顶层金属层,与所述焊盘和待测试的MOS器件的栅电极均连接;底层金属层,所述底层金属层与所述衬底、焊盘和顶层金属层均不互连本发明的技术方案通过串联连接多个寄生电容的方法,减小了与栅电容并联连接的总寄生电容,从而降低了总寄生电容对栅电容测试结果的影响,获得了准确的栅电容测试结果。
  • 半导体测试结构
  • [发明专利]一种触摸屏电容检测电路-CN202011566325.8有效
  • 张瑛;周梦波;蒋文超;张靖宇 - 南京邮电大学
  • 2020-12-25 - 2023-08-08 - G01R27/26
  • 一种触摸屏电容检测电路,包括主放大单元和寄生电容校准回路,主放大单元将输入的电容量转化为电压量,寄生电容校准回路消除寄生电容带来的影响;检测电路的输入为待测电容Cx寄生电容Cpar,待测电容Cx输入路中设有开关K1;其中,主放大单元包括运算放大器、并联在反相输入端和输出端之间的分路以及同相输入端的接地支路和参考电压输入支路;寄生电容校准回路包括依次相连的补偿电路、运算放大器、校准电路和比较器。本电容检测电路,通过增加的寄生电容校准回路能够完全消除输入端寄生电容的影响,即使输入端寄生电容随环境发生变化,也能准确测量输入端电容的变化量。
  • 一种触摸屏电容检测电路
  • [发明专利]带通滤波器-CN200810107921.2有效
  • 李宝男 - 日月光半导体制造股份有限公司
  • 2008-05-21 - 2008-09-24 - H03H5/02
  • 带通滤波器包括一输入端、一第一电感、一第一电容、一第一寄生电容、一第二电容、一第二电感、一第二寄生电容、一第三电感、一第三寄生电容以及一输出端。输入端、第一电感、第一电容、第二电容、第三电感以及输出端依序电性串联。第一寄生电容产生于第一电感以及第一电容与接地端之间。第二电感与第一电容、第二电容及接地端电性连接。第二寄生电容产生于第二电感、第一电容以及第二电容与接地端之间。第二寄生电容电性并联于第二电感。第三寄生电容产生于第三电感以及第二电容与接地端之间。
  • 带通滤波器
  • [发明专利]一种晶圆的电容测试方法和测试装置-CN201711465714.X有效
  • 王俊美;郝瑞庭;尹诗龙 - 北京华峰测控技术股份有限公司
  • 2017-12-28 - 2020-07-17 - G01R27/26
  • 本发明公开了一种晶圆的电容测试方法和测试装置。测试方法包括获取对应晶圆第一测试位置处的误差寄生电容,误差寄生电容电容测试设备中测试线路的寄生电容;获取第一测量电容;根据晶圆第一测试位置处的误差寄生电容和第一测量电容获取晶圆第一测试位置处的实际被测电容;更新晶圆第一测试位置处的误差寄生电容至晶圆第二测试位置处的误差寄生电容;获取第二测量电容;根据更新后的误差寄生电容和第二测量电容获取晶圆第二测试位置处的实际被测电容,直至获取晶圆的所有测试位置的实际被测电容通过本发明的技术方案,提高了晶圆各测试位置的实际电容的测试准确性。
  • 一种电容测试方法装置

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