专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种用于测量磁性分子磁矩的磁强计-CN201710238853.2有效
  • 赵永建;索亦双;张向平 - 金华职业技术学院
  • 2017-03-29 - 2023-10-13 - G01R33/12
  • 本发明涉及微纳系统和磁探测领域,一种用于测量磁性分子磁矩的磁强计,主要包括激光器、显微镜、平面镜、力感应器、微位移平台、亥姆霍兹线圈、透镜、四象限光电探测器、基于光线偏向的测量系统、控制系统、样品台,力感应器包括一个半径为R的微型开口环、微型开口环开口处的一对梁和连接于微型开口环圆弧端的微型反射器,微型开口环和一对梁均为柔性的,调节微位移平台使力感应器移动,将微型开口环置于待测的磁性分子上方一定距离z0处,控制系统对力感应器加电流I,微型开口环与磁性分子之间的磁力使力感应器形变而产生zc的偏差,控制系统运用磁矩计算公式对实验中测得的数据进行处理后,能够得出磁性分子磁矩
  • 一种用于测量磁性分子磁强计
  • [实用新型]一种用于测量磁性分子磁矩的磁强计-CN201720363909.2有效
  • 索亦双;张向平;赵永建 - 金华职业技术学院
  • 2017-03-29 - 2017-12-08 - G01R33/12
  • 本实用新型涉及微纳系统和磁探测领域,一种用于测量磁性分子磁矩的磁强计,主要包括激光器、显微镜、平面镜、力感应器、微位移平台、亥姆霍兹线圈、透镜、四象限光电探测器、基于光线偏向的测量系统、控制系统、样品台,力感应器包括一个半径为R的微型开口环、微型开口环开口处的一对梁和连接于微型开口环圆弧端的微型反射器,微型开口环和一对梁均为柔性的,调节微位移平台使力感应器移动,将微型开口环置于待测的磁性分子上方一定距离z0处,控制系统对力感应器加电流I,微型开口环与磁性分子之间的磁力使力感应器形变而产生zc的偏差,控制系统运用磁矩计算公式对实验中测得的数据进行处理后,能够得出磁性分子磁矩
  • 一种用于测量磁性分子磁强计
  • [发明专利]一种使用磁强计测量磁性分子磁矩的方法-CN201710238854.7有效
  • 张向平;赵永建;索亦双 - 金华职业技术学院
  • 2017-03-29 - 2023-10-10 - G01R33/12
  • 本发明涉及微纳系统和磁探测领域,一种使用磁强计测量磁性分子磁矩的方法,通过亥姆霍兹线圈来产生Z轴方向的均匀外磁场Bz0;激光器发出一束激光照射在所述微型反射器上,反射光再依次通过平面镜、透镜进入四象限光电探测器,信号输入测量系统处理后,得到力感应器在Z轴方向的位置信息;调节微位移平台使力感应器移动,将微型开口环置于待测的磁性分子上方一定距离z0处且磁性分子位于微型开口环之中,通过控制系统对力感应器加电流I,微型开口环与磁性分子之间的磁力使力感应器形变而产生与其原位置的偏差zc;力感应器在Z轴方向移动并在不同z0条件下测量,控制系统通过以下公式计算出磁矩#imgabs0#
  • 一种使用磁强计测量磁性分子团簇磁矩方法
  • [发明专利]量子测量方法及装置-CN202310041537.1在审
  • 刘小康;吴昶亮;展丙男;韦建卫;付敏 - 重庆理工大学
  • 2023-01-11 - 2023-04-28 - G01R33/032
  • 所述方法包括:对原子进行处理,以使所述原子磁矩进行匀速圆周旋转运动,并获取所述原子磁矩的角速度;布置第一探测光和第二探测光,所述第一探测光和所述第二探测光用于检测所述原子磁矩;获取所述第一探测光检测到所述原子磁矩时的第一时刻以及所述第二探测光检测到所述原子磁矩时的第二时刻;基于所述第一时刻、所述第二时刻以及所述原子磁矩的角速度,确定所述第一探测光和所述第二探测光之间的角度。
  • 量子测量方法装置
  • [发明专利]飞秒激光尺寸的标定方法-CN201310145187.X有效
  • 张辉;卢海洋;李松;李儒新 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2013-04-24 - 2013-08-07 - G01B15/00
  • 一种用于飞秒激光相互作用中飞秒激光尺寸的标定方法,包括下列步骤:根据激光相互作用实验中获得的离子飞行时间谱推导实验上的离子能谱;模拟尺寸的对数正态分布;模拟半径的分布;模拟的离子能谱;确定最终的半径分布和尺寸分布;完成了尺寸的标定。实验表明,本发明可以探测的尺寸范围很大,能够对平均尺寸实现绝对标定,并且可以得到尺寸分布的准确信息,是一种非常有效的诊断尺寸的方法。
  • 激光尺寸标定方法
  • [发明专利]POI推荐方法、装置、设备及计算机可读存储介质-CN201710208068.2有效
  • 刘红霞 - 百度在线网络技术(北京)有限公司
  • 2017-03-31 - 2021-06-11 - G06F16/9537
  • 本发明实施例通过根据所获取的用户感兴趣的目标POI,获得所述目标POI所属的目标POI,进而根据所述目标POI标签,获得与所述目标POI标签相同或相近似的推荐标签,使得能够将标签为所述推荐标签的同质POI,推荐给所述用户,所述同质POI与所述目标POI之间具有同质关联关系,由于采用全局同质关联关系的挖掘,并且能够对POI进行语义化获得每个POI标签,使得所划分的每个POI能够满足用户的特定需求,因此,适合作为推荐的基础处理单元,精确地向用户推荐该用户可能感兴趣的POI或者需要了解的POI,从而提高了POI推荐的成功率。
  • poi推荐方法装置设备计算机可读存储介质
  • [发明专利]单一尺寸强流脉冲束产生方法-CN201811569589.1有效
  • 韩民;刘飞;邵伟 - 南京大学
  • 2018-12-21 - 2020-07-10 - H05H3/02
  • 本发明公开了单一尺寸强流脉冲束产生方法,所述方法选择单一尺寸的沉积于基座表面,基座保持低温并喷射氙气,形成团嵌埋于固态氙气膜中的靶;脉冲激光照射靶,释放单一尺寸强流脉冲束。本发明所述方法能够在保证束流中尺寸高度均一的情况下,实现极强的瞬时束流强度;本发明所述方法产生的束的品质不受先驱物材料性质的影响,是一种简单、普适、高稳定的脉冲束,能够应用于所有常温下为固体的物质;本发明所述脉冲束的形成中不含成核生长的过程,因此可以在源尺寸、脉冲频率和脉冲宽度的选择上具有更大的自由度,满足更多的应用需求。
  • 单一尺寸强流团簇脉冲产生方法
  • [发明专利]一种能量逐级递减的离子束表面抛光方法-CN202110687568.5在审
  • 瓦西里·帕里诺维奇;曾晓梅;付德君;杨兵 - 武汉大学深圳研究院
  • 2021-06-21 - 2021-10-01 - B24B1/00
  • 本发明涉及离子应用领域,具体涉及一种能量逐级递减的离子束表面抛光方法。离子束对靶材抛光过程中,靶材表面会产生半球形结构孔洞,对于硬度一致的靶材,能量越高,遗留的孔洞直径也越大,而低能溅射率太低,很难除去表面凸起,靶材表面粗糙度难以达到预期。本发明提供的方法在对靶材进行抛光时,采用能量呈阶梯状逐级递减的离子束对靶材抛光,对于靶材上的细高凸起采用高能离子束,宽矮凸起采用中能离子束,最后使用低能离子束除去中高能离子束对靶材造成的孔洞损伤,优化表面形状;对于不同粗糙程度的靶材,还可选择能量阶梯递减的减幅梯度,更符合现场需求,抛光效率及效果好。
  • 一种能量逐级递减离子束表面抛光方法

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