本发明提供一种降低损耗谱纹波的试验方法,其用于降低基于硅基液晶(Liquid Crystal On Silicon,LCOS)光器件中的损耗谱波纹,所述降低损耗谱纹波的试验方法包括以下步骤:选取LCOS及相应光器件建立光路以使入射光的波长透射到LCOS的不同区域;计算入射光基于衍射效应的入射光与经过LCOS相位调制的出射光的耦合及入射光与LCOS的直接空隙间反射的出射光的耦合之和;根据所计算的耦合效应之和计算能量耦合效率;根据所计算的能量耦合效率调整各光学器件形成的光路以使入射光投射到LCOS的光斑所覆盖的像素个数大于等于2。该方法在选定LCOS及光学器件通过计算入射光能量耦合效应来设置各光器件之间形成的光路以使像素覆盖率大于等于2,从而减小谱线纹波。