|
钻瓜专利网为您找到相关结果 1495373个,建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]有源光罩除尘设备-CN200510091960.4有效
-
吴兆明
-
友达光电股份有限公司
-
2005-08-15
-
2006-02-22
-
G02F1/1335
- 本发明公开了一种有源光罩除尘设备,其包括异物扫描仪及除尘气刷,它们位于光罩的同一表面,以清除该光罩表面上的异物同时检测光罩表面的清洁度。该设备还可安装位于光罩另一表面的另一异物扫描仪与另一除尘气刷,以去除光罩另一表面的异物。当光罩表面安装有保护膜时,此除尘设备亦可利用除尘气刷与异物扫描仪进行保护膜上异物的清除与检查。采用本发明的有源光罩除尘设备可同时除尘和检测光罩表面的异物,不仅可有效提高光罩表面的清洁度,且可节省清洁和检查光罩所需的工时,因而可提高面板的产量。
- 有源除尘设备
- [实用新型]一种测试光罩-CN201420443996.9有效
-
凌文君;王勤勇
-
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
-
2014-08-07
-
2014-12-03
-
G03F1/26
- 本实用新型提供一种测试光罩,用于测试光罩缺陷扫描机的Cr残留缺陷捕捉能力,所述测试光罩包括相移材料图形区域,所述测试光罩中形成有至少一种类型的Cr残留缺陷,每一种类型的Cr残留缺陷至少具有一种尺寸规格;采用所述测试光罩,可以测试光罩缺陷扫描机的Cr残留缺陷捕捉能力,若测得光罩缺陷扫描机能够捕捉到所有会影响最终成像效果的Cr残留缺陷,就可以省略相移光罩的STARLight检测步骤,在DD/DB检测图形缺陷的同时检测相移光罩的Cr残留缺陷,从而节省光罩生产时间的5~10%,大幅提高相移光罩产能。
- 一种测试
- [实用新型]光罩盒的定位结构-CN200620122147.9无效
-
邱铭乾
-
家登精密工业股份有限公司
-
2006-06-30
-
2007-10-24
-
B65D77/26
- 本实用新型为一种光罩盒的定位结构,该光罩盒具有可容置光罩的容置空间,该容置空间设置有数个定位件,各定位件的基部通过定位手段固定于容置空间中,并于基部的顶面设有向上延伸且反转朝向基部的弯折部,且基部与弯折部之间具有可供弯折部变形位移的缓冲空间,而弯折部的自由端依序设有抵压部与抵持部,并于弯折部的外侧设有导引面,当光罩置入光罩盒的容置空间时,先通过各定位件的导引面导正光罩的位置,以避免光罩发生偏位,利用各定位件的抵压部与抵持部顶持光罩,让光罩于光罩盒内呈一定位,且定位件顶持光罩时仅于自由端产生变形位移,不但可有效降低光罩于光罩盒内摇晃的程度,且可防止光罩磨损及避免产生粉尘。
- 光罩盒定位结构
- [发明专利]光罩检测方法及透明光罩保持容器-CN202111564258.0在审
-
陈啓仲
-
陈啓仲
-
2021-12-20
-
2023-06-23
-
G03F1/84
- 本发明公开一种光罩检测方法及透明光罩保持容器,其包含有使用一透明光罩保持容器收纳一光罩,将上述透明光罩保持容器移入一视觉检测设备中,由透明光罩外部提供上述光罩两个侧表面一光源,使用上述视觉检测设备由上述透明光罩保持容器外部检视上述光罩两个侧表面,以及使上述视觉检测设备显示出上述光罩两个侧表面的特定污染物,以此,让光罩能在被保护于透明光罩保持容器内部时进行污染物检测,而提高对于光罩的保护需求,以降低检测中因提取光罩所造成的意外污染。
- 检测方法透明保持容器
|