专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光斑位置控制设备和光斑位置控制方法-CN201010156990.X无效
  • 堀米顺一 - 索尼光领公司
  • 2010-04-02 - 2010-10-13 - G11B7/007
  • 本发明公开一种光斑位置控制设备和方法。光斑位置控制设备包括:第一光源;第二光源;分束器,将第二光源的光束分为m个光束;光学系统,使第一光源的第一光束和m个光束通过共同物镜照射盘形记录介质,其中交替形成具有相等宽度的凹槽和槽脊以形成螺旋形状/同心形状的凹槽,光学系统使m束光束照射盘形记录介质,以使m个光束光斑的间隔为1/m轨道间距;跟踪控制机构,通过改变光轴和记录介质间的关系跟踪控制光束;光接收单元,分别接收m个光束;误差信号生成器,基于接收信号生成表示m束光束的光斑位置相对轨道的径向位置误差的误差信号;误差信号选择器,选择至少一个误差信号;及伺服控制器,基于误差信号控制跟踪控制机构以跟踪伺服光束。
  • 光斑位置控制设备方法
  • [发明专利]光斑位置控制装置和光斑位置控制方法-CN201110348428.1无效
  • 堀米顺一;出冈良彦 - 索尼公司
  • 2011-11-03 - 2012-05-23 - G11B7/007
  • 本发明涉及光斑位置控制装置和光斑位置控制方法,该光斑位置控制装置包括:光照射与光感应单元,其利用经由物镜的第一光照射光记录介质,并且感应来自该光记录介质的第一光的反射光,该光记录介质具有将一个圆周上的凹坑可成形位置之间的间隔限定为第一间隔的凹坑串;跟踪机构单元,用以使该物镜平移;时钟生成单元,用以生成与该凹坑可成形位置之间的间隔相对应的时钟;定时选择器信号生成单元,用以生成多个定时选择器信号;跟踪误差信号生成单元,用以生成多个跟踪误差信号;线性跟踪误差信号生成单元
  • 光斑位置控制装置方法
  • [发明专利]盘状记录介质、光斑位置控制装置、光斑位置控制方法-CN201080011429.0无效
  • 堀米顺一 - 索尼光领公司
  • 2010-03-09 - 2012-02-08 - G11B7/09
  • 本发明涉及盘状记录介质、光斑位置控制装置、光斑位置控制方法。在通过照射第一光在信息记录层上执行记录和再现并通过对与信息记录层分开设置的位置控制信息记录层照射第二光来控制信息记录层上的记录和再现位置时,可高精度校正由第一和第二光光轴偏离引起的记录和再现位置间偏离。凹坑可形成位置间隔限于预定第一间隔的凹坑列以螺旋或同心状形成并布置在半径方向,凹坑可形成位置在凹坑列形成方向上的间隔设定成偏离预定第二间隔以形成具有多个凹坑列相位的盘状记录介质。因此在使用把循轨伺服应用到根据再现位置的校正量而选择的凹坑列的校正方法时,可进行比一个轨道宽度更窄的宽度的高精度校正。
  • 记录介质光斑位置控制装置方法
  • [发明专利]检测手柄图像中光斑标识的方法及电子设备-CN202211390797.1在审
  • 史灿灿;黄志明 - 海信电子科技(深圳)有限公司
  • 2022-11-07 - 2023-07-14 - G06T7/70
  • 本申请提供检测手柄图像中光斑标识的方法及电子设备,用于提高光斑标识的检测效率。包括:将目标手柄图像中的各光斑分别与其相邻的各目标光斑连接得到各平面图形;将任一平面图形中各相邻光斑分别和手柄的各实际相邻光斑集合中各实际光斑匹配,得到各相邻光斑匹配对;基于各相邻光斑匹配对中各相邻光斑位置和各实际光斑位置,得到手柄的多个预测位置;基于各预测位置和各实际光斑位置分别将手柄中的各实际光斑投影到指定图像中,得到各投影光斑位置;通过各投影光斑位置对投影光斑与指定图像中其他各光斑匹配,得到各其他光斑匹配对;基于各其他光斑匹配对和各光斑匹配对,确定各光斑标识。
  • 检测手柄图像光斑标识方法电子设备
  • [发明专利]发光元件的透镜耦合方法及装置-CN202010284245.7有效
  • 段吉安;徐聪;马铭涵 - 中南大学
  • 2020-04-13 - 2021-06-29 - G02B6/42
  • 本发明提供了一种发光元件的透镜耦合方法,包括:将透镜移动至与发光芯片耦合的位置,在近点对透镜和发光芯片进行光斑检测,并调整透镜倾斜角度进行耦合,直至光斑为圆形;在近点检测光斑的坐标位置,然后在远点进行光斑检测,确认远点检测的光斑坐标位置;调整透镜位置进行耦合,使远点检测的光斑靠近并逐渐与近点检测的光斑位置重合;多次改变远点检测位置与近点检测位置的距离,确认变化的远点检测光斑与近点检测的光斑位置是否都保持重合本发明依次、分别地进行了透镜角度和位置的耦合,且在完成透镜角度耦合后可以直接进行透镜位置耦合,并采用了近点与远点光斑坐标位置的差值比较方式,提升了透镜耦合精度。
  • 发光元件透镜耦合方法装置
  • [发明专利]一种基于交叉迭代自动位置矫正的波前检测方法-CN202110460914.6有效
  • 白剑;赵磊;费文辉 - 浙江大学
  • 2021-04-27 - 2023-04-25 - G01J9/02
  • 本发明公开一种基于交叉迭代自动位置矫正的波前检测方法,通过正傅里叶变换和逆傅里叶变换求解关于衍射光斑位置的解析梯度。在使用相位恢复算法进行波前迭代重建过程前,首先对衍射光斑位置进行粗矫正,然后在波前重建的过程中对衍射光斑位置不断细矫正,克服由于计算的衍射光斑与采集到的衍射光斑不一致导致的光斑位置矫正不准确。本发明通过交叉迭代优化同一个目标函数实现了衍射光斑位置矫正和待测波前的重建,克服了计算衍射光斑与采集衍射光斑不一致带来的位置矫正误差和衍射光斑位置误差导致的待测波前重建精度的降低。
  • 一种基于交叉自动位置矫正检测方法

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