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[发明专利]局部控制背光的显示装置和终端设备-CN201310018040.4有效
发明人：张振华;尚可 -专利权人：联想（北京）有限公司
申请日： 2013-01-17 - 公布日： 2014-07-23 - 主分类号： G09G3/34 文献下载
摘要：提供一种显示装置，其特征在于，包括：背光单元，包括导光板，用于为显示装置提供背光；透射率和反射率可控制膜，包括多个阵列单元，用于实现对所述背光的区域性控制；光学调制层，具有多个像素单元，并且用于调制来自透射率和反射率可控制膜的光；和控制单元，与所述透射率和反射率可控制膜的多个阵列单元连接，用于根据显示内容来控制所述透射率和反射率可控制膜的所述阵列单元在不同状态之间转换，其中，所述透射率和反射率可控制膜位于所述背光单元和所述光学调制层之间
局部控制背光显示装置终端设备

[发明专利]显示装置以及光源模组-CN201510034842.3在审
发明人：伊万·戴杰西·卡扎尔兹·洛佩兹;方嘉骏;李昱麒 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2015-01-24 - 公布日： 2016-08-17 - 主分类号： G02F1/13357 文献下载
摘要：背光模组多个光源、多个光学元件以及电路板。光学元件位于光源发出光线的传输路径上，且与光源的光轴同轴设置。电路板上设置有若干与光学元件对应设置预定区域。光源发出的光线经光学元件部分反射至预定区域，预定区域内有若干光调整图案。部分反射光线经光调整图案反射后传输至光学元件，且光调整图案覆盖处对光线的散射角度或反射率大于位于光调整图案之外的预定区域对光线的散射角度或反射率，以使预定区域内的不同位置呈现不同的散射角度或反射率。
显示装置以及光源模组

[发明专利]镜显示装置-CN202110024442.X在审
发明人：乡原良宽;海野训行;杉野美奈 -专利权人：株式会社村上开明堂
申请日： 2021-01-08 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： G02F1/133 文献下载
摘要：本发明提供一种能够对镜光学元件进行脉冲电压驱动来通过该脉冲电压的占空比使镜模式的反射率有级地或无级地变化的镜显示装置。镜显示装置(10)具有：监视器显示装置(20)；以及镜光学元件(22)，其配置在监视器显示装置(20)前表面侧。镜光学元件(22)具有液晶面板，该液晶面板在背面侧配置有反射型偏振片(P1)。镜光学元件(22)通过向该液晶面板施加的电压来以电驱动方式使反射率和透过率相互向相反方向变化。控制电路(92)利用脉冲电压驱动该液晶面板，并使该脉冲电压的占空比变化来对镜光学元件的反射率和透过率进行可变控制。
显示装置

[发明专利]镀膜玻璃及磁控溅射镀膜的方法-CN202310181980.9在审
发明人：程海;胡远航;韩东成 -专利权人：安徽省东超科技有限公司
申请日： 2023-02-24 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： C03C17/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种镀膜玻璃及磁控溅射镀膜的方法，所述镀膜玻璃包括玻璃和依次镀设在所述玻璃上的光学膜层、金属膜层和保护层，其中，所述镀膜玻璃对可见光的反射率为t，其中，所述t满足：t≥89％。根据本发明的镀膜玻璃包括光学膜层和金属膜层，其中，金属膜层具有较大的消光系数，当光束由空气入射到金属表面时，进入金属内的光振幅迅速衰减，使得进入金属内部的光能相应减少，而反射光能增加。光学膜的折射率高于玻璃的折射率，可以提高镀膜玻璃表面光的反射率。这样，将金属膜层与光学膜层相结合，可以进一步提高镀膜玻璃对光的反射率。保护层还可以防止镀膜过程中铝被氧化，从而得到对光的反射率较高且与氧化膜结合力强的镀膜玻璃。
镀膜玻璃磁控溅射方法

[发明专利]一种用于城市地区的颗粒物光学厚度遥感监测方法-CN201410158796.3无效
发明人：孙林 -专利权人：山东科技大学
申请日： 2014-04-21 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G01S17/95 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于城市地区的颗粒物光学厚度遥感监测方法，其包括以下步骤:MODIS数据的预处理，包括几何纠正，云识别，清晰图像的大气纠正；根据预处理后得到的清晰图像和待反演图像的几何参数，耦合构建的城市地区BRDF模型，获取待反演图像的地表反射率；针对城市地区这一特殊的地表结构，提出改进的结构函数法，计算待反演图像的地表反射率结构函数值和表观反射率的结构函数值；最后根据待反演影像的几何条件构建反演颗粒物光学厚度的查找表，通过该影像的地表反射率及表观反射率的结构函数值查找其气溶胶光学厚度。改进的结构函数计算方法能有效降低由于多幅图像的匹配误差对计算结果的影响，在城市地区具有更高的稳定性，提高了颗粒物光学厚度反演的准确性。
一种用于城市地区颗粒光学厚度遥感监测方法

[实用新型]制品以及包含该制品的玻璃和消费者电子产品-CN201820680925.9有效
发明人： S·D·哈特;K·W·科齐三世;C·A·K·威廉姆斯;L·林;C·A·保尔森;J·J·普莱斯 -专利权人：康宁股份有限公司
申请日： 2018-05-08 - 公布日： 2019-11-26 - 主分类号： G02B1/14 文献下载
摘要：本申请涉及反射性、有色或者色移的耐划痕涂层和制品。描述了耐用的耐划痕制品的实施方式。制品具有涂层，该涂层提供了特定的反射率、透射和/或颜色属性，以及高硬度。一些实施方式具有低反射率和高颜色。一些实施方式具有高反射率和中性颜色。一些实施方式具有高反射率和高颜色。在一些实施方式中，制品可以是具有光学涂层的太阳镜，具有光学涂层的耐划痕镜子或者具有光学涂层的消费者电子产品。所述制品包括：具有主表面的基材；以及布置在所述主表面上的光学涂层，所述光学涂层包括多层干涉堆叠，所述多层干涉堆叠具有与所述主表面相反的外表面；通过布氏压痕计硬度测试，在所述外表面上测得，所述制品沿着约100
光学涂层主表面高反射率耐划痕堆叠多层压痕消费者电子产品太阳镜耐划痕涂层低反射率涂层提供颜色属性硬度测试中性颜色反射率反射性高硬度干涉透射布氏基材色移镜子申请

[发明专利]摄像设备-CN201210021665.1无效
发明人：清田真人 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2012-01-31 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G03B19/12 文献下载
摘要：该摄像设备包括：光圈，用于控制入射光量；可变透射率和反射率元件，用于将入射光的一部分反射至光学取景器并且使入射光的剩余部分透过作为摄像光；以及控制器，用于随着光圈的设置值的增大而增大可变透射率和反射率元件的反射率
摄像设备

[发明专利]光学配件-CN201911054031.4有效
发明人：陈煜东;陈俊荣 -专利权人：恒颢科技股份有限公司
申请日： 2019-10-31 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G02B1/11 文献下载
摘要：本发明提供一种光学配件，用以设置于显示装置的显示面。光学配件包括光学膜堆以及至少一电极元件。光学膜堆包括不同折射率的多个光学膜以及至少一光学调控膜。至少一电极元件对应电性连接于至少一光学调控膜，其中光学膜堆对环境光的反射率小于或等于1％，至少一光学调控膜适于通过被施加电压而提高对环境光的反射率大于或等于1％。
光学配件

[发明专利]光学常数计算方法和基板处理系统-CN200710167543.2无效
发明人：菊池俊彦 -专利权人：东京毅力科创株式会社
申请日： 2007-10-26 - 公布日： 2008-05-14 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供能够计算基底膜的正确的光学常数，从而能够正确地对晶片的表面构造进行确定的光学常数计算方法。在晶片(W)上将各膜叠层后，对在下方成膜有有机绝缘膜(32)的氧化膜(33)的反射率进行测定，并对通过等离子体将氧化膜(33)除去后露出的有机绝缘膜(32)的反射率进行测定，根据这些反射率计算因加热处理而变质的有机绝缘膜(32)的光学常数和因等离子体而变质的有机绝缘膜(32)的光学常数。
光学常数计算方法处理系统

[发明专利]光学镀膜膜厚反射率的测量及显示方法-CN200710054020.7有效
发明人：赵升林;孙龙;菊池和夫 -专利权人：河南中光学集团有限公司
申请日： 2007-02-27 - 公布日： 2007-08-15 - 主分类号： G02B1/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于光学镀膜监控的光学镀膜膜厚反射率的测量及显示方法，它是利用计算机快速准确的数据处理功能，对薄膜蒸镀过程中反射率的变化进行在线测量和实时显示，并依据镀膜曲线峰值或谷值点的反射率值精确地确定蒸镀停止点使用该方法，可以直观、精确地观察当前膜层蒸镀过程，更加快速地计算峰值点处光学基件的实际折射率和实际蒸镀膜厚，并能准确地确定和控制镀膜的停止点，从而获得高精密度的光学镀件。
光学镀膜反射率测量显示方法

[发明专利]粗糙面到光滑表面的反射率谱数值退化方法、系统、介质-CN202110616467.9有效
发明人：牟媛;盛新庆;吴比翼;郭琨毅 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2021-06-02 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明属于粗糙表面反射率谱的应用技术领域，公开了一种粗糙面到光滑表面的反射率谱数值退化方法、系统、介质，测量粗糙样片的反射率谱，结合遗传算法反演粗糙样片表面粗糙度随波长的变化曲线，并采用四次多项式对粗糙度‑波长曲线进行拟合；将拟合后的粗糙度谱代入粗糙面菲涅尔反射率的基尔霍夫表达式中，求解光滑表面的反射率谱。并采用Lorentz函数对求解的光滑面反射率谱进行拟合修正，最终结果与抛光样本的反射率谱吻合。本发明适用于光滑表面反射率谱无法直接试验测量的材料。该方法可通过数值方法获得光滑表面反射率谱，为Kramers‑Kronig关系、振子模型等提取材料光学常数的理论提供基础支撑。
粗糙光滑表面反射率数值退化方法系统介质

[发明专利]用于强吸收性气溶胶情况下的大气校正方法-CN202310420189.9在审
发明人：何贤强;宋梓庚;白雁;龚芳;王迪峰;李腾 -专利权人：自然资源部第二海洋研究所
申请日： 2023-04-19 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于强吸收性气溶胶情况下的大气校正方法，包括：建立强吸收性气溶胶垂直分布的实时预测模型；建立气溶胶分类算法，建立海洋强吸收性气溶胶模型；得到海气耦合矢量辐射传输模型；基于海气耦合矢量辐射传输模型模拟大气顶表观反射率和遥感反射率，得到模拟结果；建立遥感反射率反演模型和吸收性气溶胶分类模型；对获取的大气顶表观辐亮度进行校正，得到校正后的反射率；基于吸收性气溶胶类型将获取的气溶胶光学厚度、几何观测角度和气溶胶均值高度以及校正后的反射率输入到相应气溶胶类型的遥感反射率反演模型中，得到遥感反射率。达到获得准确有效的蓝光波段遥感反射率的目的。
用于吸收性气溶胶情况大气校正方法

[发明专利]一种叶片叶绿素含量的测量装置及反演方法-CN201710427860.7有效
发明人：岑海燕;李晓冉;何勇;徐海霞;方慧 -专利权人：浙江大学
申请日： 2017-06-08 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： G01N21/552 文献下载
摘要：本发明涉及一种叶片叶绿素含量的测量装置及反演方法，属于组织光学技术领域。其中，测量装置包括反射率测量单元及与反射率测量单元通讯连接的处理单元，处理单元包括存储器与处理器，存储器存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时能实现以下步骤：基于叶绿素反演模型，利用反射率测量单元获取叶片的全反射率反演出该叶片的叶绿素含量通过反射率测量单元测得被测叶片的全反射率，处理器单元基于叶绿素反演模型，利用测得的全反射率反演出叶片的叶绿素含量；工作过程，只需测得全反射率并只输出叶绿素含量，与现有技术相比，能有效地简化了测量过程及反演过程
叶绿素反射率测量全反射率叶片计算机程序测量装置处理单元反演模型反演光学技术领域处理器单元处理器执行存储器存储叶片叶绿素测量过程单元获取单元通讯存储器输出有效地处理器

[发明专利]一种基于MODIS数据反演城市大气气溶胶光学厚度的方法-CN201410279448.1在审
发明人：范娇 -专利权人：杭州电子科技大学
申请日： 2014-06-17 - 公布日： 2014-09-03 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开一种基于MODIS数据反演城市大气气溶胶光学厚度的方法。该方法包括：1)根据6S大气辐射传输方程，建立数学模型计算四种基本气溶胶沙尘性、水溶性、海洋性以及煤烟性的体积比浓度，得到自定义的气溶胶类型；2)根据MODIS数据中2.1μm通道的地表反射率与红、蓝通道的地表反射率的关系，得出红、蓝通道的地表反射率的估算值；3)根据6S大气辐射传输方程，结合步骤1中的气溶胶类型，分别建立红通道下气溶胶光学厚度查找表和蓝通道下气溶胶光学厚度查找表；4)对查找表中的数据进行三次样条插值，得出指定地表反射率下的气溶胶光学厚度，完成大气气溶胶光学厚度反演。本发明城市大气气溶胶光学厚度反演方法易于实现，反演精度高，可以有效的用于城区气溶胶监测。
一种基于 modis 数据反演城市大气气溶胶光学厚度方法

[发明专利]用于回放光学记录媒体的装置和方法-CN200480038235.4无效
发明人：斯蒂芬·巴斯勒 -专利权人：汤姆森特许公司
申请日： 2004-11-26 - 公布日： 2007-01-17 - 主分类号： G11B19/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于能够基于一个单个聚焦搜索周期而回放光学记录介质的、从光学记录媒体中读取和/或向光学记录媒体中写入的装置。该装置基于在聚焦搜索操作期间可获得的聚焦误差信号和数据信号而区分光学记录媒体类型。从聚焦误差信号(FE)中得到的S－CurveOK信号用于指示究竟是否加载光学介质。当从数据信号中导出的FocusOK信号对用于高反射率介质的专用设置是有效时，意味着加载了高反射率介质。然而，当FocusOK信号无效时，装置得出加载了低反射率介质的结论。基于S－CurveOK和FocusOK信号的组合，在聚焦搜索期间应用第二类光学记录介质的操作模式。在已经完成聚焦搜索周期之前执行设置的切换。因此，仅需要一个聚焦搜索周期来寻找用于高和低反射率媒体设置二者的焦点。
用于回放光学记录媒体装置方法