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[发明专利]防反射膜及光学部件-CN201880024723.1在审
发明人：高桥裕树 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2018-03-23 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： G02B1/115 文献下载
摘要：本发明能够提供一种防反射膜及光学部件。设置于光学部件(1)的光学基材(2)上的防反射膜(3)具备：反射率调整膜(4)，包含第1层(10)、比第1层(10)高折射率的第2层(11)及比第2层(11)低折射率的第3层(12)，且自表面(4a)起的厚度为20nm以上且小于150nm；及光催化膜(5)，包含含有二氧化钛的一层以上的光催化活性层(14)，设置于反射率调整膜(4)与光学基材(2)之间且反射率调整膜侧的界面(5a)配置于自表面(4a)起150nm
反射率调整膜光催化活性层防反射膜光学部件光学基材低折射率二氧化钛高折射率光催化膜配置

[实用新型]高效能闪烁晶体阵列-CN201621461112.8有效
发明人：李国铭;刘冰;边建盟;程娜;程豪妍 -专利权人：三河晶丽方达科技有限公司
申请日： 2016-12-29 - 公布日： 2017-07-04 - 主分类号： G01T1/202 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种高效能闪烁晶体阵列，属于医疗器械设备领域，解决了现有技术中闪烁晶体阵列放光效率下降、阵列物理强度不足、及光学UV胶溢出导致加工难度增加等问题，提供一种放光效率高、强度大、不会污染阵列端面的高效能闪烁晶体阵列它包括闪烁晶体晶条、高反射率反射层，所述高反射率反射层位于闪烁晶体晶条与闪烁晶体晶条之间；所述高反射率反射层包括反射膜、光学UV胶层和涂胶接合处，涂胶结合处位于反射膜两侧的上下两段1/10‑4/9位置，两区域共占反射膜总面积的20‑50％，本实用新型通过减少光学UV胶层量和控制光学UV胶层分布位置可以减少放光损耗，在相同晶体材料、光学UV胶的条件下能提高30％的光输出。
高效能闪烁晶体阵列

[发明专利]一种平面反射镜反射率检测系统-CN201210041307.7无效
发明人：高尚武;刘宏欣;陈志超;刘华;袁海骥 -专利权人：科纳技术(苏州)有限公司
申请日： 2012-02-23 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明揭示了一种对平面反射镜能够在特定的入射角下检测不同波长的反射效率以及在特定的波长下检测不同入射角的反射率的系统，具有成本较低、测试方法简单、测试速度较快等优点，适用于要求检测平面反射镜反射率的各个领域，尤其是适用于大型企业对批量平面反射镜反射率的检测。本发明的使用能够克服现有检测方法中不能测量连续光谱范围的光学元件反射率的缺陷，具有在特定的入射角下检测不同波长的反射效率以及在特定的波长下检测不同入射角的反射率两种检测方式，能够大幅度提高通信、仪器等产业测试平面反射镜反射率的速度
一种平面反射反射率检测系统

[发明专利]光记录介质及信息记录与重放装置-CN89106296.3无效
发明人：前田佳均;生田勳;安藤寿;永井正一;加藤义美;佐藤美雄;坪井信义;峯邑浩行 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 1989-06-24 - 公布日： 1992-09-16 - 主分类号： G11B7/24 文献下载
摘要：本发明提供了一种采用非晶态—晶态相变进行记录和擦除的光记录介质，其中记录膜结构的光学记录介质处于非晶态时的反射率大于记录膜结构的光学记录介质处于晶态时的反射率，或者记录膜结构的光学记录介质处于非晶态时的吸收率于记录模结构的光学记录介质处于晶态时的吸收率
记录介质信息重放装置

[实用新型]一种遮光膜-CN201521070332.3有效
发明人：林霄;王栩冬;洪军可 -专利权人：浙江水晶光电科技股份有限公司
申请日： 2015-12-18 - 公布日： 2016-07-20 - 主分类号： G02B1/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种遮光膜，包括：形成于基片表面的油墨层；形成于所述油墨层上的光学膜，所述光学膜的折射率与所述油墨层的折射率、空气折射率均相匹配。所述光学膜的折射率与油墨层的折射率、空气折射率均相匹配，使得光线从空气到达遮光膜表面的反射率降低，从而降低了遮光膜的光线反射率。
一种遮光

[发明专利]对散纤维颜色测量的方法-CN202110225621.X在审
发明人：沈加加;房安宁 -专利权人：嘉兴学院
申请日： 2021-03-01 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G01J3/46 文献下载
摘要：对散纤维颜色测量的方法，包括一装置，所述装置包括用于放置散纤维的容器；所述容器一端设有光学玻璃；所述容器的侧壁设有体积标尺；所述容器另一端相连盖子；所述校准板为2个或2个以上颜色的校准瓷板，选用的校准瓷板颜色的反射率曲线不能有交叉；2个颜色的校准瓷板包括第一校准瓷板和第二校准瓷板；通过所述校准瓷板获取光学玻璃的透射率T和反射率r；步骤1；采用分光光度计测量第一校准瓷板得到反射率Sa；采用分光光度计第二校准瓷板得到反射率Sb。
纤维颜色测量方法

[发明专利]一种图像式红外反射率和透射率定量检测的装置及方法-CN201310070737.6有效
发明人：卢继兵;张健;秦庆旺;冯治国;邬立勇;张渠;刘李泉;张晓明;冯礼 -专利权人：中国人民银行印制科学技术研究所;中国印钞造币总公司
申请日： 2013-03-06 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：一种图像式红外反射率和透射率定量检测的装置及方法，先对多个不同反射率或透射率的定标卡的反射率和透射率进行标定，然后在红外LED光源照明下采集定标卡和被检测物的反射和透射图像，根据定标卡的反射率值或透射率值进行线性插值得到成像区域内被检测物任意位置的反射率值和透射率值，实现反射率和透射率的定量检测。本发法和装置方便快捷，功能灵活，扩展性强，可以针对不同应用场合调整光学器件和上位机软件配置，达到检测要求。
一种图像红外反射率透射率定量检测装置方法

[发明专利]光学测定系统以及探针-CN202180053824.3在审
发明人：稻野大辅;川口史朗 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：提供一种测定试样的分光反射率的光学测定系统。光学测定系统包括：光源，其产生测定光；受光部，其接收通过将测定光照射于试样而产生的光来作为观测光；探针，其与光源及受光部以光学方式连接，所述探针能够配置于任意位置；以及运算处理部，其基于受光部的检测结果来测定试样的分光反射率，计算基于测定出的分光反射率的测定结果。
光学测定系统以及探针

[发明专利]光学镜头-CN202310323107.9在审
发明人：王书宪;王佳;陈怀玉 -专利权人：诚瑞光学（常州）股份有限公司
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学镜头，其包括多个透镜，多个透镜包括超低反射率透镜和蓝光截止透镜，其中，蓝光截止透镜满足如下条件：对波长范围为500nm‑600nm的光的反射率小于等于5％；对波长范围为400nm‑420nm的光的反射率大于等于30％；对波长范围为500nm‑600nm的光的透过率大于等于90％；透过率为50％的点对应的波长范围为400nm‑440nm；所述超低反射率透镜满足如下条件：对波长范围为380nm‑720nm的光的反射率小于等于0.8％；对波长范围为420nm‑680nm的光的反射率小于等于0.5％；对波长范围为380nm‑720nm的光的透过率大于等于90％；对波长范围为420nm‑680nm的光的透过率大于等于95％。本发明提供的光学镜头可以改善拍摄画质偏蓝色的问题，降低短波长的光线或高能量蓝光对镜头的损害，且拍摄画面发雾的现象可以明显改善。
光学镜头

[发明专利]照明光学装置及内窥镜-CN202010087591.6在审
发明人：大桥永治 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2020-02-11 - 公布日： 2020-08-18 - 主分类号： A61B1/00 文献下载
摘要：本发明提供一种能够抑制内窥镜前端部的温度上升的照明光学装置及内窥镜。在内窥镜(11)的前端部(16a)安装有照明光学装置(20)。照明光学装置(20)通过在镜筒(43)的内周从后端侧朝向前端侧依次容纳光学棒(40)、第1透镜(41)、间隔环(44)、第2透镜(42)而构成。镜筒(43)由金属形成，镜筒(43)的内周实施研磨处理而反射率得到提高。如此，通过与以往相反地反而提高镜筒(43)的内周的反射率，能够抑制温度上升。并且，以往，以反射光存在为前提进行了设计，因此即便提高反射率，也无需进行大幅的设计变更。
照明光学装置内窥镜

[发明专利]大口径反射光学元件高反射率扫描测量多波长集成方法-CN201210172475.X有效
发明人：李斌成;曲哲超 -专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日： 2012-05-27 - 公布日： 2012-10-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：大口径反射光学元件高反射率扫描测量多波长集成方法，根据光腔衰荡技术原理，将第i束激光(i＝1，…N，N＞2)注入由高反射镜构成稳定的第i个初始光学谐振腔，记录光腔衰荡信号，并利用单指数函数拟合得到第i个初始光学谐振腔在第i束激光波长处的衰荡时间τ0i；同样，在初始光学谐振腔内根据使用角度加入待测大口径反射光学元件构成稳定的第i个测试光学谐振腔，待测大口径反射光学元件置于二维位移平台上，记录光腔衰荡信号，并利用单指数函数拟合得到第i个测试光学谐振腔在第i束激光波长处的衰荡时间τi，通过τ0i和τi可得到待测高反射镜在第i束激光波长处的反射率Ri，通过移动二维位移平台可以对待测大口径反射光学元件实现反射率二维成像测量。
口径反射光学元件反射率扫描测量波长集成方法

[发明专利]多层光学薄膜-CN95196882.3无效
发明人： J·M·琼扎;M·F·韦伯;A·J·奥德柯克;C·A·斯托弗 -专利权人：美国3M公司
申请日： 1995-12-19 - 公布日： 1998-01-14 - 主分类号： B32B7/02 文献下载
摘要：布儒斯特角(p偏振光的反射率趋向于零的角度)很大或不存在的双折射光学薄膜(10,12,14)。由此可制得多层反射镜和偏振器,它们对p偏振光的反射率随入射角偏离法向而缓慢减小,或者与入射角无关,或者随入射角偏离法向而增大。结果可得到在阔的带宽范围内具有高反射率的多层膜(10)(在反射镜的情况,对两种偏振面在任何方向入射时都具有高反射率;在偏振器的情况,是在选定的方向上具有高反射率)。
多层光学薄膜

[发明专利]大口径光学元件反射率测量系统-CN202210128072.9有效
发明人：高磊;龙宇;彭琛;朱涛 -专利权人：重庆大学
申请日： 2022-02-11 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种大口径光学元件反射率测量系统，该系统中第一光束调节装置将宽光谱超快激光转换为线型光束或矩形光束；初始光学谐振腔内不包括光学元件，线型光束或矩形光束在光学谐振腔内衰荡，形成第一衰荡信号；线型光束或矩形光束在包括光学元件的测试光学谐振腔内衰荡，形成第二衰荡信号；根据采集到的所述第一衰荡信号和第二衰荡信号，对应确定初始光学谐振腔的第一衰荡时间和测试光学谐振腔的第二衰荡时间，根据第一衰荡时间、第二衰荡时间、初始光学谐振腔和测试光学谐振腔的腔长，得到光学元件的反射率。本发明可以提高光学元件反射率测量精度和速度。
口径光学元件反射率测量系统

[实用新型]一种镀银型反射膜-CN201320286855.6有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：宁波长阳科技有限公司
申请日： 2013-05-22 - 公布日： 2013-12-11 - 主分类号： G02B5/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及反射膜技术领域，具体涉及一种镀银型反射膜。为了克服现有光学反射膜反射率尚待提高的不足，本实用新型提供一种镀银型反射膜，所述反射膜包括反射聚酯薄膜层、镀银层和保护层，本实用新型提供的反射膜反射率较高。
一种镀银反射

[发明专利]光学构件-CN202310217224.7在审
发明人：关真悟 -专利权人： AGC株式会社
申请日： 2023-03-07 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G02B1/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学构件，提供抑制由视线相对于光学构件的角度的变化引起的光学构件的色调的变化的技术。光学构件具备：透明基板，透射可见光线；及光学多层膜，设置于所述透明基板的至少一个主面。设置于所述透明基板的所述一个主面的所述光学多层膜中，(A)对于入射角为5°且波长为450nm～650nm的光的最大反射率R(5°)450～650max为2.00％以下，(B)对于入射角为30°且波长为450nm～650nm的光的最大反射率R(30°)450～650max为2.00％以下，(C)表现出反射率30％的入射角为5°的光的波长λ(5°)为365nm～425nm，且(D)表现出反射率30％的入射角为30°的光的波长λ(30°)为365nm～425nm。
光学构件