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[实用新型]显示设备-CN201220259206.2有效
发明人：刘俊峰 -专利权人：联想（北京）有限公司
申请日： 2012-06-01 - 公布日： 2013-01-16 - 主分类号： G09F9/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种显示设备，包含：显示构件，具有一显示表面；以及光学构件，位于光学构件第一侧的第一表面和位于光学构件第二侧的第二表面，第一表面具有第一反射率和第一透射率，第二表面具有第二反射率和第二透射率，从第一表面外侧向所一表面入射的第一光线，由第一表面或第二表面反射，形成进入第一表面外侧的第一反射光线；同时从第二表面外侧向所述第二表面入射的第二光线，依次通过第二表面和第一表面，形成进入第一表面外侧的第一透射光线；第一反射率、第一透射率、第二反射率和第二透射率满足第一预定条件，使得位于所述第一表面外侧的观察者能够同时看到第一反射光线和第一透射光线。
显示设备

[发明专利]一种低反射率光学系统波像差的动态干涉测量方法-CN202310052050.3在审
发明人：韩志刚;阮博维;杨振营;朱日宏;葛佳妮;刘明;何勇 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2023-02-02 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种低反射率光学系统波像差动态干涉测量方法，首先建立单频半导体激光器不同温度及电流工作点的功率和纵模数量数据库；然后对待测低反射率光学系统进行评估，得到振动环境下取得良好对比度动态干涉图的激光器功率阈值；接着从激光器的功率和纵模数量数据库中动态筛选出阈值功率以上且单纵模运转的温度和电流工作点，从而实现低反射率光学系统波像差进行动态干涉测量。本发明可以有效解决动态干涉仪在对低反射率光学系统波像差进行测量时因光源纵模及线宽特性差、功率低而导致的动态测量失效问题。
一种反射率光学系统波像差动态干涉测量方法

[发明专利]使用者可配戴的光学制品、用于生产光学制品的方法以及使用光学制品的眼睛配戴物-CN202080051912.5在审
发明人：刘宇;符致燿;Y·费克莱蒂尼;丁星兆 -专利权人：依视路国际公司
申请日： 2020-08-05 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G02C7/10 文献下载
摘要：一种使用者可配戴的光学制品，包括光学基材和干涉涂层。干涉涂层可以被设置在基材上并且可以被配置为选择性地反射入射光在近红外光谱中的至少一个波长范围的光。在光学制品的基本上法向上测得的峰值反射率可以是至少70％。还披露了一种包括光学制品的眼睛配戴物和一种用于生产光学制品的方法。该方法可以包括提供光学基材和提供被设置在光学基材上的干涉涂层。干涉涂层可以选择性地反射入射光在近红外光谱中的至少一个波长范围的光。峰值反射率可以是至少70％，并且该干涉涂层在可见光范围内具有小于1.5％的平均反射率。
使用者配戴光学制品用于生产方法以及使用眼睛

[发明专利]光学层叠体及其制造方法以及用途-CN202310787850.X在审
发明人：尾道浩 -专利权人：株式会社大赛璐
申请日： 2021-06-11 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G02B1/118 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供可抑制低波长区域的反射率、能够降低光反射率、从而提高图像的黑度感的防反射膜。为此，本发明提供在基材层的至少一面依次层叠防眩层、低折射率层而成的光学层叠体，其中，将上述低折射率层表面的偏度Rsk调整为小于0，将在380～780nm的波长范围的光谱反射率的标准偏差σ调整为0.5以下，将光反射率调整为2.5以下。可以是，上述低折射率层表面的算术平均粗糙度Ra为0.01～0.5μm、轮廓曲线的最大截面高度Rt为0.1～1μm、轮廓曲线要素的平均长度RSm为1～50μm。可以是，上述光学层叠体的雾度为30％以下、全光线透过率可以为90％以上。上述光学层叠体的光泽度60°可以为50％以下。
光学层叠及其制造方法以及用途

[发明专利]光学层叠体及其制造方法以及用途-CN202110651730.8有效
发明人：尾道浩 -专利权人：株式会社大赛璐
申请日： 2021-06-11 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G02B1/118 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供可抑制低波长区域的反射率、能够降低光反射率、从而提高图像的黑度感的防反射膜。为此，本发明提供在基材层的至少一面依次层叠防眩层、低折射率层而成的光学层叠体，其中，将上述低折射率层表面的偏度Rsk调整为小于0，将在380～780nm的波长范围的光谱反射率的标准偏差σ调整为0.5以下，将光反射率调整为2.5以下。可以是，上述低折射率层表面的算术平均粗糙度Ra为0.01～0.5μm、轮廓曲线的最大截面高度Rt为0.1～1μm、轮廓曲线要素的平均长度RSm为1～50μm。可以是，上述光学层叠体的雾度为30％以下、全光线透过率可以为90％以上。上述光学层叠体的光泽度60°可以为50％以下。
光学层叠及其制造方法以及用途

[发明专利]一种由大气层顶反射率直接反演地表归一化植被指数的方法-CN202310523361.3在审
发明人：何涛;邬晴玮;陆俊 -专利权人：武汉大学
申请日： 2023-05-10 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06F18/27 文献下载
摘要：本发明公开了一种由表观反射率直接反演地表归一化植被指数的方法，利用Ross‑Li核驱动模型得到目标光学传感器的地表反射率进而计算目标光学传感器地表归一化植被指数，同时利用6S辐射传输模型模拟目标光学传感器在不同预设气溶胶光学厚度参数下的大气层顶反射率，之后建立大气层顶反射率转换为地表归一化植被指数的多元线性回归模型系数查找表从而实现由真实观测得到表观反射率直接反演出地表归一化植被指数。此外，该方法具有较强的扩展性，能够实现其他光学卫星传感器的地表归一化植被指数的直接反演。
一种大气层反射率直接反演地表归一化植被指数方法

[发明专利]一种复合光学反射膜及其制备方法-CN201310129691.0有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：宁波长阳科技有限公司
申请日： 2013-04-12 - 公布日： 2013-06-26 - 主分类号： G02B5/08 文献下载
摘要：本发明涉及光学薄膜技术领域，具体涉及一种应用于背光源系统的复合光学反射膜及其制备方法。为了克服现有光学反射膜反射率较低，容易变形的缺陷，本发明提供一种复合光学反射膜及其制备方法，所述反射膜包括透明膜片和反射膜片，所述反射膜片和透明膜片通过粘合剂粘接在一起，所述反射膜片的另一面涂布有反射涂层本发明提供的复合光学反射膜的尺寸稳定性好，不易发生翘曲变形，具有较高的反射率，其制备方法工艺简单，易于操作。
一种复合光学反射及其制备方法

[发明专利]高光谱地表反射率和大气参数一体化反演方法及装置-CN202210473418.9在审
发明人：刘耀开;马灵玲;钱永刚;王宁;李坤;邱实 -专利权人：中国科学院空天信息创新研究院
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本申请提供一种高光谱地表反射率和大气参数一体化反演方法及装置，该方法包括：获取高光谱载荷观测到的入瞳处辐亮度的观测值和前向模型模拟的入瞳处辐亮度的模拟值；将所述观测值和所述模拟值输入一体化反演模型，得到目标参数的值；其中，所述目标参数包括：地表反射率，气溶胶光学厚度，水汽含量；在所述一体化反演模型中待反演的地表反射率由基于主成分变换的光谱稀疏进行表征的。本申请提供的高光谱地表反射率和大气参数一体化反演方法及装置，用于有效解决目前高光谱地表反射率、气溶胶光学厚度和水汽含量参数分级逐步反演方法的苛刻假设条件以及相互依赖等问题，提升高光谱地表反射率定量反演精度
光谱地表反射率大气参数一体化反演方法装置

[发明专利]一种利用射频标尺法测量高反射率的方法-CN201110131297.1无效
发明人：陈玉华 -专利权人：上海市宝山区青少年科学技术指导站
申请日： 2011-05-20 - 公布日： 2012-11-21 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用射频标尺法测量高反射率的方法，其实施步骤为将待测反射率的反射镜制作成光电谐振腔；搭建光路；对入射激光进行光电相位调制，产生正负一级边带；通过锯齿波扫描光学谐振腔，得到光谱；将载波和一级边带之间的频率间距作为射频标尺，按比例测出载波的半峰全线宽；利用腔精细度与腔透射光谱的谱线宽度及反射率的关系公式，计算出反射镜的反射率；上述技术方案的测量方法，可以测定高反射率(R＝99.6％)，方法简单。
一种利用射频标尺测量反射率方法

[发明专利]光学镜头-CN202310332404.X在审
发明人：王书宪;王佳 -专利权人：诚瑞光学（常州）股份有限公司
申请日： 2023-03-29 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种光学镜头，其包括多个透镜，多个透镜包括超低反射率透镜和滤光膜镀膜透镜，其中，所述超低反射率透镜满足如下条件：对波长范围为380nm‑720nm的光的反射率小于等于0.8％；对波长范围为420nm‑680nm的光的反射率小于等于0.5％；对波长范围为380nm‑720nm的光的透过率大于等于90％；对波长范围为420nm‑680nm的光的透过率大于等于95％；所述滤光膜镀膜透镜满足如下条件：对波长范围为500nm‑600nm的光的透过率大于等于90％；透过率为50％的点对应的短波区域波长范围是400nm‑440nm；透过率为50％的点对应的长波区域波长范围是660nm‑700nm。本发明提供的光学镜头可以取消掉平面玻璃滤光膜以避免玻璃滤光片易碎的问题，也减小镜头模组的总高度，而且还可以使光学镜头的透过率处于合理的水平以及改善滤光膜反射率太高造成的杂光现象。
光学镜头

[发明专利]电子器件-CN200810149790.4有效
发明人：上田知史;高桥岳雄;松本刚;横山刚;宓晓宇 -专利权人：富士通媒体部品株式会社;富士通株式会社
申请日： 2008-09-27 - 公布日： 2009-06-03 - 主分类号： H01F17/00 文献下载
摘要：一种电子器件，所述电子器件包括：基板；线圈，所述线圈具有螺旋形状，并设置在所述基板上；以及导电图案，所述导电图案设置在所述线圈内部，并具有高于所述线圈的表面的光学反射率的光学反射率，所述导电图案分割成多片
电子器件

[实用新型]一种光学元件透射反射率测量仪-CN201620028828.2有效
发明人：贾宝申;吕海兵;苗心向;周国瑞;牛龙飞;刘昊;邹睿;李可欣 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2016-01-13 - 公布日： 2016-07-06 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种光学元件透射反射率测量仪，本实用新型采用斩光器对激光信号进行调制后经分光棱镜分为参考光和入射光，入射光照射光学元件产生透射光和反射光，光电二极管采集参考光、透射光和反射光信号并转换为电信号，电信号经过前置放大器放大后进入锁相放大器，锁相放大器输出与光强成正比的直流电压，透射光和反射光对应的直流电压与参考光对应的直流电压比对，得到光学元件的透射率和反射率。本实用新型通过设置光学标准片，对测量仪信号放大单元的放大倍数进行校正。本实用新型结构简单，使用方便，尤其适合在线测量较大尺寸光学元件的透射率和反射率。
一种光学元件透射反射率测量仪

[发明专利]薄膜的检测方法-CN202110870592.2在审
发明人：顾硕峰;孙洪福;项贤晓 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2021-07-30 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种薄膜的检测方法，通过对外围区域的待测薄膜进行光学检测，可得到所述外围区域的待测薄膜的最大的光反射率和最小的光反射率；并通过比较所述外围区域的待测薄膜的最大的光反射率和最小的光反射率之间的差值因此，本发明通过检测待测薄膜的最大的光反射率和最小的光反射率，可实现检测所述待测薄膜的位置是否发生偏移，且检测精度更高，便于实时的对所述待测薄膜进行检测，从而可实时辨识薄膜的异常情况，提升产品的良率。
薄膜检测方法

[发明专利]一种超低反射率的光学增透膜-CN202011228090.1在审
发明人：陈建军;于百华;吕强;朱晓强;孔旭东;王玉;姚宏辉;王浩 -专利权人：中山联合光电研究院有限公司
申请日： 2020-11-05 - 公布日： 2021-01-08 - 主分类号： G02B1/115 文献下载
摘要：本发明公开一种超低反射率的光学增透膜，超低剩余反射率的光学增透膜包括用于固定至光学玻璃的增透膜主体，增透膜主体具有用以固定至光学玻璃的近端、以及远离光学玻璃的远端；增透膜主体包括十三层膜层，十三层膜层包括七层氟化镁膜层以及六层钛酸镧膜层采用13层膜设计，钛酸镧膜层和氟化镁膜层两种高低折射率膜层交替分布。具有剩余反射率低，膜层敏感性低、无薄层，膜系工艺稳定性好的优点。
一种反射率光学增透膜

[实用新型]一种超低反射率的光学增透膜-CN202022543653.8有效
发明人：陈建军;于百华;吕强;朱晓强;孔旭东;王玉;姚宏辉;王浩 -专利权人：中山联合光电研究院有限公司
申请日： 2020-11-05 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G02B1/115 文献下载
摘要：本实用新型公开一种超低反射率的光学增透膜，超低剩余反射率的光学增透膜包括用于固定至光学玻璃的增透膜主体，增透膜主体具有用以固定至光学玻璃的近端、以及远离光学玻璃的远端；增透膜主体包括十三层膜层，十三层膜层包括七层氟化镁膜层以及六层钛酸镧膜层采用13层膜设计，钛酸镧膜层和氟化镁膜层两种高低折射率膜层交替分布。具有剩余反射率低，膜层敏感性低、无薄层，膜系工艺稳定性好的优点。
一种反射率光学增透膜

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