“光学反射率”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1927453个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]光学系统和光学膜-CN201980046388.X在审
发明人：约翰·D·李;貟智省;蒂莫西·L·翁;蒂莫西·J·内维特;亚当·D·哈格;阿瑟·L·科茨 -专利权人： 3M创新有限公司
申请日： 2019-07-11 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：本发明描述了光学膜诸如反射偏振膜，以及包括该光学膜的光学系统。光学系统包括具有至少一个弯曲主表面的一个或多个光学透镜、部分反射器以及反射偏振器。对于在至少从约450nm延伸到约600nm的预先确定的波长范围内的基本上垂直入射光：该部分反射器具有至少30％的平均光学反射率，并且该反射偏振器对于第一偏振态具有平均光学反射率Rs，对于正交的第二偏振态具有平均光学透射率Tp，并且对于该第二偏振态具有平均光学反射率Rp，其中Tp≥80％，Rp≤1％，以及50％≤Rs≤95％。
光学系统光学

[发明专利]一种气溶胶光学厚度反演方法-CN201910571412.3有效
发明人：王庆鑫;王子峰;陈良富;陶金花;张莹;余超;范萌;顾坚斌 -专利权人：中国科学院遥感与数字地球研究所
申请日： 2019-06-26 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：本发明公开一种气溶胶光学厚度反演方法，解决现有方法应用于AHI传感器时受地表角度效应影响大、稳定性差的问题。所述方法，包含：对卫星波段表观反射率剔除内陆水体、冰/雪、云像元；基于MODIS产品MCD19A3历史数据建立双向反射率分布函数参数数据库；结合RTLS模型，进行地表反射率动态计算，得到地表反射率初始值；构建波谱转换模型，将地表反射率初始值转换为地表反射率转换值；对单次散射反照率，剔除沙尘天气对应数据、按季节计算均值，建立6S查找表；在6S查找表中，先查表得到一一对应的表观反射率模拟值与气溶胶光学厚度值，再对所述气溶胶光学厚度值进行插值，得到气溶胶光学厚度反演结果。
一种气溶胶光学厚度反演方法

[发明专利]平面光学元件面形的检测方法-CN201210289617.0有效
发明人：张敏;唐锋;王向朝;戴凤剑 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2012-08-15 - 公布日： 2012-12-12 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种用于反射率>13%的平面光学元件面形的检测方法，该检测方法所使用工具包括：斐索干涉仪、两块4%反射率的平面标准镜、一块4%～13%反射率的平面标准镜、一块透射率介于0.30～0.36之间的反射式或吸收式的衰减片该检测方法首先对4%反射率、4%反射率和4%～13%反射率的三块标准镜进行绝对检验，得到4%～13%反射率平面标准镜的绝对面形；其次在干涉腔内插入衰减片，对4%～13%反射率的平面标准镜进行相对检验，计算出干涉仪系统误差本发明对反射率>13%的平面光学元件面形检测具有较高的检测精度。
平面光学元件检测方法

[发明专利]一种纳米薄膜的测量方法及装置-CN201310743478.9有效
发明人：张增明;宫俊波;代如成;王中平;丁泽军 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2013-12-30 - 公布日： 2017-01-11 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种纳米薄膜的测量方法及装置，其中，纳米薄膜的测量方法包括获得纳米薄膜的透射率测量值或反射率测量值。获得所述纳米薄膜的椭偏参数。预估计所述纳米薄膜的厚度，根据所述椭偏参数以及所述预估计厚度得到所述纳米薄膜的赝光学常数。根据所述预估计厚度以及所述赝光学常数得到所述纳米薄膜的透射率计算值或反射率计算值。将透射率测量值或反射率测量值分别与透射率计算值或反射率计算值进行误差比较，将误差值最小时对应的预估计厚度以及赝光学常数作为所述纳米薄膜的厚度以及光学常数。采用透射率或反射率辅助椭偏法进行分析，引入赝光学常数，采用拟合算法和迭代算法对数据进行处理，精确测量薄膜样品光学常数及厚度。
一种纳米薄膜测量方法装置

[发明专利]光掩模坯料的设计和光掩模坯料-CN201510458035.4有效
发明人：笹本纮平;金子英雄;稻月判臣;深谷创一 -专利权人：信越化学工业株式会社
申请日： 2015-07-30 - 公布日： 2021-07-09 - 主分类号： G03F1/62 文献下载
摘要：提供设计包含透明基材和其上的光学膜的光掩模坯料的方法。所述光掩模坯料被加工成具有光学膜图案的透射性光掩模使得在通过光掩模透射曝光光时可转印该膜图案。使用比反射率作为指标来选择该光学膜，该比反射率等于反射率除以膜厚度。
光掩模坯料设计

[发明专利]光掩模坯料的设计和光掩模坯料-CN202010110602.8有效
发明人：笹本纮平;金子英雄;稻月判臣;深谷创一 -专利权人：信越化学工业株式会社
申请日： 2015-07-30 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G03F1/62 文献下载
摘要：提供设计包含透明基材和其上的光学膜的光掩模坯料的方法。所述光掩模坯料被加工成具有光学膜图案的透射性光掩模使得在通过光掩模透射曝光光时可转印该膜图案。使用比反射率作为指标来选择该光学膜，该比反射率等于反射率除以膜厚度。
光掩模坯料设计

[发明专利]一种显示模组的制作方法、显示模组及显示装置-CN202010790902.5在审
发明人：田雪雁;刘明;李良坚;刘政;陈登云;王纯阳 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：本发明通过提供一显示面板；在显示面板的出光面上形成反射层；在反射层远离显示面板的一侧形成光学结构；其中，光学结构包括至少一层光学膜层，光学膜层被配置为增强蓝光的反射率和/或减小黄绿光的反射率；光学结构是通过沉积工艺或者一次贴附工艺形成在反射层远离显示面板的一侧通过光学结构以增强蓝光的反射率和/或者减小黄绿光的反射率，从而减少黄绿光对人眼的刺激，并且，光学结构通过一次贴附工艺或者沉积工艺形成在反射层远离显示面板的一侧的，避免了多次贴膜易产生气泡，造成膜层脱落的现象
一种显示模组制作方法显示装置

[发明专利]导光板、背光模组及显示装置-CN202280006728.8在审
发明人：方怡雯;陈佳颖;李晏昌;李俊贤 -专利权人：瑞仪光电（苏州）有限公司;瑞仪光电股份有限公司
申请日： 2022-12-05 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G02B6/00 文献下载
摘要：本体(410)具有入光面(411)、侧面(412)以及光学面(413)。入光面(411)与侧面(412)分别连接光学面(413)。光作用膜(420)设置在本体(410)的侧面(412)上。光作用膜(420)的总反射率由扩散反射率与平行反射率组成。平行反射率相较于总反射率的百分率数值大于25、小于45且包含端点值。背光模组(200)和显示装置(100)包括导光板(400)。
导光板背光模组显示装置

[发明专利]一种强各向异性储层焦沥青成熟度表征方法-CN202110551619.1在审
发明人：曹剑;左兆喜;罗冰;王文之 -专利权人：南京大学
申请日： 2021-05-20 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：解决了现有技术中反射率测试技术耗时长，强各向异性导致反射率偏差极大，反射率参数难以代表成熟度的难点。通过试验表明了拉曼光谱可适用于更复杂的反射率的样品，不受光学各向异性的影响。并推导出两大类光学结构反射率的有效性，即拉曼参数分别与沥青反射率均值，均一—轻微马赛克型焦沥青和细马赛克型焦沥青，拉曼参数与沥青暗区，不规则马赛克型、小球型、流线型和纤维型焦沥青反射率相关，采用激光拉曼成熟度测试具有耗时短、无损检测、微区检测，不受样品强光学各向异性的影响，稳定性高。
一种各向异性储层焦沥青成熟度表征方法

[发明专利]图像形成设备及其控制方法-CN200710102067.6无效
发明人：桥爪雄辅;井出直朗;照田裕和 -专利权人：株式会社东芝;东芝泰格有限公司
申请日： 2007-05-14 - 公布日： 2007-11-21 - 主分类号： G03G15/00 文献下载
摘要：将光学反射率不同于文档D的表面的光学反射率的黑色带(61和62)粘在压板盖(3)的下侧。黑色带(61和62)具有不同于文档D的表面的光学反射率的光学反射率。当通过曝光灯(5)曝光放置在文档台(2)上的文档D和黑色带(61和62)时，根据从文档D反射的光量和从黑色带(61和62)反射的光量检测放置在文档台(2)上的文档D的至少一条边和这条边的长度。
图像形成设备及其控制方法

[发明专利]一种立体测绘卫星三线阵CCD相机的大气订正方法-CN201410228861.5有效
发明人：韩启金;王爱春;傅俏燕;闵祥军;潘志强 -专利权人：中国资源卫星应用中心
申请日： 2014-05-27 - 公布日： 2014-11-05 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：一种立体测绘卫星三线阵CCD相机的大气订正方法，(1)计算每个像元的入瞳处辐射亮度；并确立每个像元的地表反射率计算模型；(2)建立不同气溶胶类型和气溶胶光学厚度下的立体测绘卫星三线阵CCD相机每个波段的反演参数查找表；(3)依据Rahman BRDF模型，建立立体测绘卫星前视、后视CCD相机与正视CCD相机地表反射率关系；并利用地表反射率计算模型计算三个相机不同气溶胶类型和光学厚度下的地表反射率；(4)建立最小化判定函数，确定函数的最优解，根据最优解确定三线阵CCD相机的气溶胶类型和光学厚度；(5)对步骤(4)的结果进行修正，获得三线阵CCD相机修正后的气溶胶光学厚度；(6)利用地表反射率计算模型计算得到最终的地表反射率
一种立体测绘卫星三线 ccd 相机大气订正方法

[实用新型]一种灯管聚光装置-CN201921063522.0有效
发明人：邱骏挺 -专利权人：核工业北京地质研究院
申请日： 2019-07-09 - 公布日： 2020-03-17 - 主分类号： F21S8/00 文献下载
摘要：本实用新型属于光学技术领域，具体涉及一种灯管聚光装置。本实用新型包括高反射率罩体、低反射率罩体、平凸柱透镜、低反射率挡板，高反射率罩体和低反射率罩体为同一高反射率铝板弯曲而成，低反射率罩体的外侧留有与轴线平行的凹槽，平凸柱透镜通过插入凹槽的方式与低反射率罩体连接；低反射率罩体的截面留有与轴线平行的凹槽，低反射率挡板通过插入凹槽的方式与低反射率罩体连接。
一种灯管聚光装置

[发明专利]光学多层膜和反射屏-CN200510091371.6无效
发明人：瀬上正晴;守泽和彦;梅屋慎次郎;下田和人;梶谷俊一 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2005-06-20 - 公布日： 2006-01-25 - 主分类号： G02B1/11 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学多层膜和反射屏，所述光学多层膜包括：光学叠层体A，其包括彼此层叠的具有不同折射率的多种类型的光学层，该光学多层膜显示出对于红、绿和蓝波长区域的光具有反射率峰基本相同的反射特性；光学叠层体B，其包括彼此层叠的具有不同折射率的多种类型的光学层，该光学叠层体B具有反射率曲线底部位于绿光波长区域中的反射特性。
光学多层反射

[发明专利]一种多波长光学测量装置及其测量方法-CN201610817235.9在审
发明人：夏国强;田保峡;李天笑 -专利权人：中微半导体设备（上海）有限公司
申请日： 2016-09-09 - 公布日： 2018-03-16 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：本发明提供一种多波长光学测量装置及其测量方法，该多波长光学测量装置包含激光发生组件、光学组件、反射光接收组件、以及控制组件，多波长光学测量装置可以产生两种以上的具有不同波长的激光，不同波长的激光的反射率不会同时小于设定阈值，多波长光学测量装置通过切换不同波长的激光作为入射光源，始终保证当前波长的激光的当前反射率大于设定阈值。本发明利用多种波长的激光交替切换进行光学测量，始终保证正在进行检测的激光的反射率具有较高值，由于确保了不同波长的激光的反射率不会同时接近0，从而确保了在薄膜生长的任何阶段，对翘曲率的测量都是有效的。
一种波长光学测量装置及其测量方法

[发明专利]一种空间频域成像中球型水果表面漫反射率校正测量方法-CN202310378143.5在审
发明人：胡栋;俞盛旗;仇德凯;贾天泽;孙通 -专利权人：浙江农林大学
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明涉及一种空间频域成像中球型水果表面漫反射率校正测量方法，解决在空间频域成像系统中测量球型水果的漫反射时受到样品表面高度、反射角和光线入射角的影响。本方法包括以下步骤：一、投影获取结构光条纹图；二、条纹图白板校正；三、求得水果漫反射率和三维轮廓；四、对漫反射率进行高度校正，并由高度求得球型水果表面反射角；五、对高度校正后的漫反射率进行角度校正，得到球型水果最终的漫反射率；六、对漫反射率进行光学特性反演得到吸收系数和约化散射系数。本方法提出了一种适用于球型水果的漫反射校正方法，校正了由水果表面高度和角度引起的漫反射率测量误差，校正后的水果漫反射率和其反演的光学特性更加符合水果质地均匀的特性。
一种空间成像中球型水果表面漫反射校正测量方法