“像面检”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果1850470个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种眼底照相机-CN201310630177.5无效
发明人：金成鹏;金霓海 -专利权人：温州雷蒙光电科技有限公司
申请日： 2013-11-28 - 公布日： 2014-02-26 - 主分类号： A61B3/15 文献下载
摘要：包括检偏振片及沿摄影光路依次设置的接目镜、中空反光镜、调焦物镜、成像物镜和数码照相机组成的摄影系统和起偏振片及沿照明光路依次设置的第一光源、第一集光镜、环形光栏、聚光镜前组、聚光镜后组、中空反光镜和接目镜组成的照明系统，所述检偏振片和起偏振片的偏振方向相差90°设置。这样从照明系统发出的光线经过接目镜和角膜时反射回来的光线就成为线偏振光，当设置在摄影光路中的检偏振片的偏振方向与其呈垂直时，就可以将这些反射回来的杂光完全阻拦，不会到达照相机像面，从而彻底消除了杂光的影响
一种眼底照相机

[实用新型]一种广角微型内窥镜光学成像系统-CN202120172601.6有效
发明人：张智;崔德贤;陈弈蓉;迟锋;易子川;杨健君;水玲玲 -专利权人：电子科技大学中山学院
申请日： 2021-01-21 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G02B23/24 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种广角微型内窥镜光学成像系统，沿光轴从物方到像方依次排序有：第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜；第一透镜的物面侧为平面，像面侧为凹面；第二透镜的物面侧为凸面，像面侧为凸面；第三透镜的物面侧为平面，像面侧为凸面；第四透镜的物面侧为凹面，像面侧为凹面；第五透镜的物面侧为凸面，像面侧为平面；第六透镜的物面侧为凸面，像面侧为平面，本发明广角微型内窥镜光学成像系统成像清晰，通过将第一透镜至第六透镜进行合理的搭配，利用各个镜片自身的特点，修正球差、色散、场曲、畸变等，使镜头的视场角达到50°，在像面的1/4英寸CCD上成像，可以观察到大范围的画面。
一种广角微型内窥镜光学成像系统

[发明专利]波像差测量装置与方法-CN201510731101.0有效
发明人：马明英;葛亮 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2015-10-30 - 公布日： 2019-03-12 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种波像差测量装置与方法，包括：光源、照明系统、物面模块和像面探测单元，其中，所述物面模块包括物面光栅和物面级次选择板，所述像面探测单元包括像面光栅、像面级次选择板和探测器，所述物面光栅和像面光栅均采用二元相移光栅本发明的物面光栅和像面光栅采用二元相移光栅，其衍射光中没有零级光，仅有正负1级光，提高了用于测量的光强，物面级次选择板不再考虑0级衍射光滤除作用，降低了工艺难度；物面模块采用物面光栅与物面级次选择板，物面光栅的透过率远大于初始针孔，可降低像面采集时间，提高信号强度，提高测量速度与精度。
光栅物面像面选择板波像差测量装置二元相移探测单元衍射光测量针孔工艺难度照明系统零级光透过率探测器光强滤除光源采集

[发明专利]一种显示装置和交通工具-CN202210074276.9在审
发明人：赵晗;方元戎;赵晴 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2022-01-21 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：该装置包括：第一像源、第二像源、第一曲面镜、半透半反元件、防尘罩。其中，第一像源，用于生成包含第一图像信息的第一成像光，并向第一曲面镜投射第一成像光。第一曲面镜，用于透射第一成像光至半透半反元件，还用于反射来自半透半反元件的第一成像光和第二成像光至防尘罩。第二像源，用于生成包含第二图像信息的第二成像光，并向半透半反元件投射第二成像光。半透半反元件，用于反射第一成像光至第一曲面镜，以及透射第二成像光至第一曲面镜。防尘罩，用于透射第一曲面镜反射的第一成像光和第二成像光。第一像源位于第一曲面镜的外侧。
一种显示装置交通工具

[发明专利]一种显示装置和交通工具-CN202211102727.1在审
发明人：赵晗;方元戎;赵晴 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2022-01-21 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G02B27/01 文献下载
摘要：该装置包括：第一像源、第二像源、第一曲面镜、半透半反元件、防尘罩。其中，第一像源，用于生成包含第一图像信息的第一成像光，并向第一曲面镜投射第一成像光。第一曲面镜，用于透射第一成像光至半透半反元件，还用于反射来自半透半反元件的第一成像光和第二成像光至防尘罩。第二像源，用于生成包含第二图像信息的第二成像光，并向半透半反元件投射第二成像光。半透半反元件，用于反射第一成像光至第一曲面镜，以及透射第二成像光至第一曲面镜。防尘罩，用于透射第一曲面镜反射的第一成像光和第二成像光。第一像源位于第一曲面镜的外侧。
一种显示装置交通工具

[发明专利]微透镜阵列曝光装置以及微透镜阵列曝光方法-CN202310459191.7在审
发明人：请求不公布姓名 -专利权人：智慧星空（上海）工程技术有限公司;深圳智达星空科技（集团）有限公司
申请日： 2023-04-26 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种微透镜阵列曝光装置以及微透镜阵列曝光方法，属于曝光机技术领域，装置包括照明系统、掩膜版、成像系统以及感光基板，成像系统具有第一成像镜头组和第二成像镜头组，第一成像镜头组和第二成像镜头组沿中间像面镜像对称，第一成像镜头组和第二成像镜头组均为规则排布的微透镜镜头组；照明系统提供曝光光束，曝光光束照射掩模版的图案，并经过第一成像镜头组形成中间像面，再通过第二成像镜头组曝光于感光基板；第一成像镜头组的物面对应掩模版，第一成像镜头组的像面对应中间像面；第二成像镜头组的物面为中间像面，第二成像镜头组的像面对应于感光基板。
透镜阵列曝光装置以及方法

[实用新型]屏幕模组分层漏光检测的取像装置及其检测系统-CN201821214136.2有效
发明人：余凌云;杨铠康;张永恒;连泽钦;冯国杨 -专利权人：惠州旭鑫智能技术有限公司
申请日： 2018-07-27 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：一种屏幕模组分层漏光检测的取像装置及其检测系统，包括：底板，限位组件及反射组件，底板上设置有屏幕放置区。限位组件包括多个限位块，各限位块分别设置在底板上。反射组件包括第一反射条、第二反射条、第一反射片及第二反射片，第一反射条与第二反射条分别设置在底板上，第一反射条靠近屏幕放置区的一侧面上设置有第一反射面，第一反射片安装在第一反射面上，第二反射条靠近屏幕放置区的一侧面上设置有第二反射面本实用新型的屏幕模组分层漏光检测的取像装置通过设置第一反射片及第二反射片对漏出的光束进行反射操作，由此将光束反射至对应的工业相机上，从而能够检对屏幕模组进行分层漏光不良的检测操作。
反射片反射条底板屏幕模组分层漏光屏幕放置取像装置反射反射组件检测系统限位组件反射面限位块检测本实用新型工业相机光束反射检测操作漏出

[实用新型]外观数据采集装置及工件检测系统-CN201822221748.0有效
发明人：黄永祯;周运超;王凯 -专利权人：银河水滴科技(北京)有限公司;中科水滴科技（深圳）有限公司
申请日： 2018-12-27 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：该外观数据采集装置包括面检模组、线扫模组、角检模组、边检模组和弧面检模组；线扫模组、角检模组、弧面检模组和边检模组围绕面检模组分布，且角检模组位于线扫模组与边检模组之间；面检模组包括从上至下依次布置的第一相机、第一镜头和第一环形光源；线扫模组包括第二相机以及两个线性光源，两个线性光源位于第二相机的相对的两侧；角检模组、边检模组和弧面检模组均包括第三相机、第三镜头和第三光源。
模组采集装置外观数据工件检测相机弧面本实用新型线性光源手机检测技术领域从上至下环形光源手机外观依次布置镜头碰伤搬运光源

[发明专利]风管风压烟检严密性测试方法及其风压烟检测试系统-CN201310322044.1有效
发明人：杨汉林;赵钟;王欢 -专利权人：中国五冶集团有限公司
申请日： 2013-07-29 - 公布日： 2013-11-13 - 主分类号： G01M3/28 文献下载
摘要：本发明公开了风管风压烟检严密性测试方法及其风压烟检测试系统，风管风压烟检严密性测试方法，包括烟检漏检测方法，利用烟雾在高压作用下向漏孔位置逸散，从而可方便的、直观的观察到该漏孔，方便可靠，同时也不会像水压测试一样造成不良后果
风管风压严密性测试方法及其检测系统

[发明专利]一种锥齿轮卡簧槽高度的检具及检测方法-CN202211186290.4有效
发明人：徐树存;申卫东;张军;袁雨峰;浦浩 -专利权人：江苏太平洋精锻科技股份有限公司;江苏太平洋齿轮传动有限公司
申请日： 2022-09-28 - 公布日： 2022-12-27 - 主分类号： G01B5/02 文献下载
摘要：本发明涉及检具技术领域，特别涉及一种锥齿轮卡簧槽高度的检具及检测方法，检具包括中间检体、第一检体和第二检体，中间检体安装在锥齿轮的基准端面上，中间检体上设有参照面；第一检体安装在中间检体的参照面上，第一检体上设有通端测量端面，通端测量端面用于靠近待检测面以检测基准端面与待检测面之间的待测距离是否大于最小极限尺寸；第二检体安装在中间检体的参照面上，第二检体上设有止端测量端面，止端测量端面用于靠近待检测面以检测基准端面与待检测面之间的待测距离是否小于最大极限尺寸，本申请采用机械测量结构，中间检体、第一检体和第二检体配合，即可测得某一待检测面与基准端面的测量，使得测量过程简单，效率高。
一种齿轮卡簧高度检测方法

[实用新型]一种天窗遮阳板的检测装置-CN201120449911.4有效
发明人：朱嘉斌;杜英梅;孙明伟 -专利权人：烟台正海汽车内饰件有限公司
申请日： 2011-11-15 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01B21/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种天窗遮阳板的检测装置，它包括检具平台（1），其特点是检具平台（1）上设检具本体（2），检具本体（2）上设检具型面（3），检具型面（3）上设定位销，在检具型面（3）下方的检具本体（2）中部的两侧设滑道（4）；采用一套检具可以实现制造状态和装配状态的型面、大面弧度、边缘，长度等全部检测，从而减少工人的劳动强度，方便检验，同时提高检测效率，检具存放节省了空间。
一种天窗遮阳板检测装置

[实用新型]检具结构-CN202221426385.4有效
发明人：王占全;袁世军 -专利权人：合众新能源汽车有限公司
申请日： 2022-06-07 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种检具结构。检具结构用于检测冲压件的模具，冲压件为梁类冲压件，模具包括模具顶面、模具侧壁面和模具法兰面。检具结构包括检具顶面、检具侧壁面和检具法兰面，检具顶面包括多个临贴面，临贴面用于检测模具顶面与检具顶面的贴合率。本实用新型实施方式的检具结构，检具顶面包括多个临贴面，从而可以通过临贴面检测的贴合率对模具进行调试以缩短模具调试周期。
结构

[发明专利]一种高像素全景光学系统及摄像模组-CN202110836375.1在审
发明人：席爱平;李岳璁;尹小玲;林勝龙;赵治平;杨文冠;刘洪海 -专利权人：广东弘景光电科技股份有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2021-11-05 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：本发明公开一种高像素全景光学系统及摄像模组，所述光学系统包括沿光轴从物面到成像面依次分布的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜、第七透镜，第一透镜物面侧为凸面，像面侧为凹面；第二透镜的物面侧为凸面，像面侧为凹面；第三透镜的物面侧为凸面，像面侧为凹面；第四透镜的物面侧和像面侧中的一个为凸面，另一个为凸面或平面；第五透镜物面侧为凸面或平面，像面侧为凸面，或物面侧为凸面，像面侧为凹面；第六透镜的物面侧为凹面或凸面，像面侧为凹面；第七透镜的物面侧为凸面，像面侧为凹面。本发明在合理光学构型基础上，采用七枚镜片和一枚反射元件组合，实现了具有高像素、大靶面、小体积的光学系统及摄像模组。
一种像素全景光学系统摄像模组

[实用新型]一种高像素全景光学系统及摄像模组-CN202121686780.1有效
发明人：席爱平;李岳璁;尹小玲;林勝龙;赵治平;杨文冠;刘洪海 -专利权人：广东弘景光电科技股份有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G02B13/00 文献下载
摘要：本申请公开一种高像素全景光学系统及摄像模组，所述光学系统包括沿光轴从物面到成像面依次分布的第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、第六透镜、第七透镜，第一透镜物面侧为凸面，像面侧为凹面；第二透镜的物面侧为凸面，像面侧为凹面；第三透镜的物面侧为凸面，像面侧为凹面；第四透镜的物面侧和像面侧中的一个为凸面，另一个为凸面或平面；第五透镜物面侧为凸面或平面，像面侧为凸面，或物面侧为凸面，像面侧为凹面；第六透镜的物面侧为凹面或凸面，像面侧为凹面；第七透镜的物面侧为凸面，像面侧为凹面。本申请在合理光学构型基础上，采用七枚镜片和一枚反射元件组合，实现了具有高像素、大靶面、小体积的光学系统及摄像模组。
一种像素全景光学系统摄像模组

[发明专利]检测系统和检测方法-CN202011312617.9在审
发明人：陈鲁;李海卫;张鹏斌;董坤玲;金建高;范铎 -专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日： 2020-11-20 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：承载装置用于承载待检测件，承载装置设有贯穿孔，待检测件包括相背的第一待检面和第二待检面；探测装置包括第一检测单元和第二检测单元，第一检测单元和第二检测单元设置在承载装置的相背两侧，第一检测单元与第一待检面相对，第二检测单元与第二待检面相对，第二检测单元用于对第二待检面中与贯穿孔对应的第一待检区域进行检测处理，第一检测单元用于对第一待检面中的第二待检区域进行检测处理，第一待检区域与第二待检区域位置对应。检测系统和检测方法能够同时对第一待检面和第二待检面进行检测，检测效率较高。
检测系统方法