专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种半导体器件的制造方法-CN201310164714.1在审
  • 周鸣 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2013-05-07 - 2014-11-12 - H01L21/768
  • 本发明涉及一种半导体器件的制造方法,包括:在半导体衬底上沉积形成多孔K材料层的步骤;选用三烷基羟基硅烷对所述多孔K材料层进行固化处理的步骤。本发明中在沉积形成多孔的K、超低K介材料后或者执行完干法蚀刻、湿法清洗之后,通入三甲基羟基硅烷在紫外线(UV)光能照射下对所述超低K介材料进行处理,其中所述超低K介材料中的Si-O键和所述三甲基羟基硅烷(hydroxytrimethylsilane)中的羟基发生键合,填充了部分所述K或者超低K介材料中的空隙,使K或者超低K介材料的空隙减小,进而提高了所述K或者超低K介材料中的硬度以及机械加工强度,所述K或者超低K介材料的K值偏移(K-shift)性能提高了5-10%,具有非常显著的效果。
  • 一种半导体器件制造方法
  • [发明专利]一种半导体器件的制造方法-CN201310731501.2在审
  • 周鸣 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2013-12-26 - 2015-07-01 - H01L21/768
  • 本发明提供一种半导体器件的制造方法,包括:提供半导体衬底,在半导体衬底上依次形成蚀刻停止层和多孔k介层;在多孔k介层中形成铜金属互连结构;在铜金属互连结构的侧壁和底部沉积形成铜金属扩散阻挡层;对半导体衬底实施后处理过程,以修复受到损伤的多孔k介层,并提升多孔k介层的机械强度;在铜金属互连结构中填充铜金属互连层。根据本发明,在沉积形成铜金属扩散阻挡层之后,对半导体衬底实施后处理过程,可以修复形成铜金属互连结构时受到损伤的多孔k介层,提升多孔k介层的机械强度,避免器件性能的下降。
  • 一种半导体器件制造方法
  • [发明专利]一种半导体器件的制造方法-CN201110227901.0有效
  • 周鸣 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2011-08-10 - 2013-02-13 - H01L21/768
  • 本发明提供一种半导体器件的制造方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成有铜扩散阻挡层;在所述铜扩散阻挡层上形成k介层;对所述k介层进行氧等离子体处理;去除所述k介层的受损表层;在所述k介层上形成硬掩膜层;对所述半导体衬底进行湿法清洗。根据本发明,利用化学机械研磨去除所述k介层在氧等离子体处理之后受损的表层,在后续的湿法清洗时,可以有效改善k介层与TEOS基体氧化物之间的底切现象,保证后续蚀刻得到的通孔形状满足设计要求。
  • 一种半导体器件制造方法
  • [发明专利]半导体器件的制造方法和半导体器件-CN03140819.2无效
  • 成田雅贵;佐藤兴一;大岩德久 - 株式会社东芝
  • 2003-06-06 - 2004-01-14 - H01L21/768
  • 半导体器件的制造方法,包括:在半导体衬底上形成第1系数绝缘膜,在上述第1系数绝缘膜上形成光刻胶图形,用上述光刻胶图形,刻蚀上述第1系数绝缘膜,在上述第1系数绝缘膜上形成凹部,在除去了上述光刻胶图形后,向上述凹部内埋入导电膜,在埋入了上述导电膜后,在除去上述光刻胶图形时,除去在上述第1系数绝缘膜的凹部的侧壁上形成的变质层,使得把归因于上述变质层的除去而产生的上述凹部侧壁的间隙填埋起来那样地形成第2系数绝缘膜。
  • 半导体器件制造方法
  • [发明专利]封装件及其形成方法-CN202210091693.4在审
  • 余振华;蔡仲豪;王垂堂;陈颉彦 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2022-01-26 - 2022-06-03 - H01L23/538
  • 器件管芯包括:第一半导体衬底;有源器件,位于第一半导体衬底的表面处;多个k介层;第一介层,位于多个k介层中的顶部k介层上方并且与多个k介层中的顶部k介层接触;和第一多个接合焊盘,位于第一介层中电容器管芯包括:第二介层,接合至第一介层;第二多个接合焊盘,位于第二介层中并且接合至第一多个接合焊盘;和电容器,耦接至第二多个接合焊盘。在将电容器管芯接合至器件管芯之后,在电容器管芯上方形成含铝焊盘,含铝焊盘耦接至器件管芯。在含铝焊盘上方形成聚合物层。
  • 封装及其形成方法
  • [发明专利]一种用于风安装平台的打桩装置-CN202211378228.5在审
  • 蔡肇斌;王鹏;贺力;王怀刚;付为新;魏大伟;冯伟 - 三峡物资招标管理有限公司
  • 2022-11-04 - 2023-03-07 - E02D7/06
  • 一种用于风安装平台的打桩装置,包括桩架、风安装平台;所述桩架包括高桩外壳,高桩外壳侧壁设有高桩阀门,高桩阀门对高桩外壳侧壁开口启闭;高桩外壳下方连通有至少一根中间管道,中间管道与桩外壳连通,桩外壳内设有桩阀门,桩阀门使桩外壳上下段断开或连通;桩外壳底端设有弹性件,弹性件对桩基础预夹紧;所述风安装平台包括风安装平台主船体,风安装平台主船体上安装有风安装平台吊架,风安装平台吊架的吊具与活塞连接或放开本发明提供的一种用于风安装平台的打桩装置,可一次性完成打桩作业,提高效率。
  • 一种用于安装平台打桩装置

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