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[发明专利]一种确定介电常数的方法及装置-CN202210435799.1在审
发明人：钱江波;于凌;严仕密;李振宇;张志杰 -专利权人：华北电力大学（保定）
申请日： 2022-04-24 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本申请提供了一种确定介电常数的方法及装置，这种确定介电常数的方法，在获得一个连续电介质的介电常数、至少两个离散电介质的介电常数以及至少两个离散电介质的体积分数等参数后，通过调用混合电介质的介电常数模型对参数进行计算，由于混合电介质的介电常数模型中每一个离散电介质的参考项都是独立的，所以每加入一个新的离散电介质，都是在混合电介质的介电常数模型中加入一个新的离散电介质的参考项，在实现混合电介质的介电常数的计算过程的同时，实现了确定三元及三元以上的混合电介质的介电常数的可能。
一种确定介电常数方法装置

[发明专利]低介电常数介质薄膜处理方法及半导体互连结构制作方法-CN201310287657.6在审
发明人：周鸣 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2013-07-09 - 公布日： 2015-01-14 - 主分类号： H01L21/768 文献下载
摘要：本申请提供了一种低介电常数介质薄膜的处理方法及一种半导体互连结构的制作方法。该低介电常数介质薄膜的处理方法利用非质子溶剂来处理介电常数为K1的低介电常数介质薄膜，处理后的低介电常数介质薄膜介电常数变更为K2，且K2小于K1。利用非质子溶剂去除低介电常数介质薄膜中的水分和氟化物，从而降低了低介电常数介质薄膜的介电常数。该处理方法简单易行，对半导体器件无损伤，逆转了现有制备工艺对低介电常数介质薄膜的破坏性，适于工业化生产。
介电常数介质薄膜处理方法半导体互连结构制作方法

[发明专利]一种不规则非均匀介质体雷达散射截面的计算方法-CN202110632551.X有效
发明人：侯牡玉;叶嘉伟;王瑜;弓树宏;贺钊;暴雅婷 -专利权人：西安电子科技大学;中国电子科技集团公司第二十研究所
申请日： 2021-06-07 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G06F30/23 文献下载
摘要：一种不规则非均匀介质体雷达散射截面的计算方法，步骤如下：建立目标介质体模型，确定目标介质体模型的介电常数空间分布；基于目标介质体的最大介电常数对目标介质体模型进行网格剖分；生成目标介质体模型的介电常数采样点，由介电常数空间分布得到介电常数采样点对应的介电常数值，提取每个剖分单元的顶点坐标，将每个剖分单元的各顶点和目标介质体模型中每个介电常数采样点进行遍历，确定每个剖分单元内的介电常数采样点，将每个剖分单元的所有介电常数采样点的介电常数值求平均，得到的平均值即为该剖分单元的介电常数值；采用矩量法计算目标介质体的雷达散射截面。本发明可以实现对任意不规则外形、复杂非均匀介质体更精确的散射特性分析。
一种不规则均匀介质雷达散射截面计算方法

[发明专利]双频带介质谐振器滤波功分器-CN202310680278.7在审
发明人：徐凯;施金;林垄龙;徐宗铭;路易;赵瑞静;杨永杰 -专利权人：中天射频电缆有限公司;江苏中天科技股份有限公司
申请日： 2023-06-08 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： H01P5/16 文献下载
摘要：一种双频带介质谐振器滤波功分器，包括依次层叠设置的第一金属地、第一低介电常数介质基板、第二低介电常数介质基板、高介电常数介质基板、第三低介电常数介质基板、第四低介电常数介质基板及第二金属地，高介电常数介质基板包括第一、第二带状介质块，第二、第三低介电常数介质基板上均设置有多个通孔，第三低介电常数介质基板相对高介电常数介质基板的面上设有一对平衡式输入端口和一对平衡式输出端口，平衡式输出端口之间连接有电阻。本申请以两个带状介质块加载上下都引入若干通孔的低介电常数基板的谐振器，结合输出端加载隔离电阻的方式，实现了具备低损耗、高频率选择性、低剖面、易集成及高隔离等特点的双频带介质谐振器滤波功分器。
双频介质谐振器滤波功分器

[发明专利]一种修复超低介质常数薄膜侧壁损伤的方法-CN201310525014.0有效
发明人：曾绍海 -专利权人：上海集成电路研发中心有限公司
申请日： 2013-10-30 - 公布日： 2018-10-16 - 主分类号： H01L21/768 文献下载
摘要：本发明公开了一种修复超低介质常数薄膜侧壁损伤的方法，包括在半导体衬底上沉积超低介质常数薄膜；干法刻蚀所述超低介质常数薄膜以在其中形成侧壁结构；采用含‑CH3的不饱和烃的化学药液进行湿法清洗；以及进行紫外线照射本发明能够修复超低介质常数薄膜侧壁的损伤，从而恢复超低介质常数薄膜中的孔径和孔隙率，使有效介质常数保持最小。
一种修复介质常数薄膜侧壁损伤方法

[实用新型]空气净化用等离子体发生器-CN201821294503.4有效
发明人：王诤 -专利权人：得一（杭州）环境科技有限公司
申请日： 2018-08-13 - 公布日： 2019-02-01 - 主分类号： H05H1/24 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种空气净化用等离子体发生器，包括工字型低介电常数介质板、上中介电常数介质管、下中介电常数介质管和针状电极，上中介电常数介质管和下中介电常数介质管的内部分别设有低压端导电板和高压端导电板并对称设置在工字型低介电常数介质板的腹板上下两侧，上中介电常数介质管和低压端导电板上共同开设有供针状电极穿过的通孔，针状电极的固定端与高压端导电板固接，针头端依次穿过腹板和所述通孔凸出于上中介电常数介质管的上方，上中介电常数介质管和下中介电常数介质管的引出端之间施加高压直流电使针状电极的针头端周围形成电场放电
中介电常数介质管针状电极导电板等离子体发生器低介电常数介质空气净化低压端高压端工字型针头端放电腹板通孔等离子体穿过本实用新型臭氧发生率高压直流电对称设置上下两侧电场发生率放电性固定端引出端固接施加

[实用新型]单介质板等离子体发生器-CN201721182922.4有效
发明人：王诤 -专利权人：杭州元睿电子有限公司
申请日： 2017-09-15 - 公布日： 2018-05-08 - 主分类号： H05H1/46 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种单介质板等离子体发生器，包括T型低介电常数介质板、中介电常数介质管和导电体，中介电常数介质管的内部设有导电体，T型低介电常数介质板由底部的基底部和与所述基底部相垂直设置的凸起部构成，两个中介电常数介质管对称设置在凸起部的两侧，中介电常数介质管的内侧端贴靠在基底部上，中介电常数介质管的外侧端与凸起部的外侧端保持齐平或凸出于凸起部的外侧端，中介电常数介质管上穿设有与导电体连接的引出端，引出端之间施加高频电压，两个中介电常数介质管的外侧端靠近凸起部的外侧端的放电介质面之间形成电场放电。其避免了单介质板壁薄易破损的情况，减少臭氧发生率，降低放电电压，具有稳定的放电性。
介质等离子体发生器

[发明专利]介电常数可调的铜互连层间介质之制造方法-CN201310262994.X无效
发明人：曾林华;任昱;吕煜坤;张旭升 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-06-27 - 公布日： 2013-09-25 - 主分类号： H01L21/768 文献下载
摘要：一种介电常数可调的铜互连层间介质之制造方法，包括：步骤S1：依次淀积第一阻挡层、低介电常数介质层，以及覆盖层；步骤S2：通过光刻、刻蚀形成介质层沟槽；步骤S3：对介质层沟槽外围的低介电常数介质层进行氧化处理，获得侧壁氧化膜；步骤S4：在介质层沟槽内形成所述铜互连线；步骤S5：湿法刻蚀去除侧壁氧化膜；步骤S6：在低介电常数介质层一侧淀积第二阻挡层，以形成所述空气隔离。本发明通过设置所述介电常数可调的铜互连层间介质，所述介电常数可调的铜互连层间介质具有厚度可调的空气隔离，其介电常数约为1，较传统介质膜之介电常数更低，进而从整体上降低了所述铜互连层间介质的介电常数，改善了半导体器件之性能
介电常数可调互连介质制造方法

[实用新型]介质透镜及天线-CN201921469533.9有效
发明人：段红彬;吕鹏飞;赖展军 -专利权人：京信通信技术（广州）有限公司
申请日： 2019-09-04 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： H01Q15/08 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种介质透镜及天线，包括柱状介质体和包覆于柱状介质体外侧的环状介质体；柱状介质体由第一材料一体成型，环状介质体由第二材料一体成型，第一材料的介电常数高于第二材料的介电常数；柱状介质体包括中心柱层以及中心柱层向外依次设置的多层第一介质环层，各第一介质环层分别设有用于降低介电常数的第一镂空部，环状介质体包括至少一层第二介质环层，第二介质环层设有用于降低介电常数的第二镂空部；与中心柱层相邻的第一介质环层的等效介电常数低于中心柱层的等效介电常数，各第一介质环层的等效介电常数由内至外逐层降低，第二介质环层的等效介电常数低于相邻的第一介质环层的等效介电常数。
介质透镜天线

[发明专利]一种介质复合型亚太赫兹介质波导传输线-CN202110265310.6有效
发明人：施金;耿昕;张凌燕;刘栩;徐凯;郁梅 -专利权人：南通大学;南通先进通信技术研究院有限公司
申请日： 2021-03-11 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： H01P3/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种介质复合型亚太赫兹介质波导传输线，通过两种低介电常数圆环柱介质沿径向方向的交替分布，其中相邻介质圆柱的介电常数不同，而相隔一层的介质圆柱的介电常数相同，最内层介质圆柱的介电常数大于次内层介质圆柱的介电常数本发明的介质波导传输线，在亚太赫兹工作频带能兼顾尺寸、色散及损耗特性，具有尺寸小、色散低及损耗低的优点。
一种介质复合型亚太赫兹介质波导传输线

[发明专利]电介质谐振器、电介质滤波器、以及多工器-CN202080056790.9有效
发明人：多田齐;山田康雄;山本宗祯 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2020-10-22 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： H01P7/10 文献下载
摘要：实现电介质谐振器的Q值的提高以及电介质滤波器的低损耗化。电介质谐振器具备电介质基板(100)、分布常数元件(231)、以及屏蔽导体部(150)。分布常数元件(2)在电介质基板(100)的内部向X轴方向延伸。屏蔽导体部(150)在从X轴方向俯视分布常数元件(231)时，在电介质基板(100)的表面形成为卷绕分布常数元件(231)。分布常数元件(231)的一端不与屏蔽导体部(150)连接。分布常数元件(231)包含多个导体(241)。
电介质谐振器滤波器以及多工器

[发明专利]介质透镜及基站天线-CN201910585746.6在审
发明人：赖展军;刘培涛;段红彬;吕鹏飞;黄潮生;薛锋章;卜斌龙;孙善球 -专利权人：京信通信技术（广州）有限公司;京信通信系统（中国）有限公司;京信通信系统（广州）有限公司;天津京信通信系统有限公司
申请日： 2019-07-01 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： H01Q15/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种介质透镜，多个介质片及介质片之间的空白区域共同构成介质透镜的整体结构，故介质透镜的等效介质常数将由介质片的介电常数及空白区域的介电常数共同确定。由于在透镜单元内，实体区域与空白区域的体积的比值按预设函数关系变化，故上述介质透镜的等效介电常数也可按对应的规律实现渐变。加工上述介质透镜时，可先根据所选用的介质片的介电常数、所需的介质透镜等效介电常数的渐变规律预先设计出每个介质片的表面形状以及相邻两个介质片所需的夹角，再将多个介质片按照所需的夹角组装即可。因此，上述介质透镜加工更方便。此外，本发明还提供一种基站天线。
介质透镜介质片介电常数空白区域等效介电常数基站天线渐变等效介质关系变化规律实现实体区域透镜单元预设函数预先设计加工组装

[实用新型]介质透镜及基站天线-CN201921008298.5有效
发明人：赖展军;刘培涛;段红彬;吕鹏飞;黄潮生;薛锋章;卜斌龙;孙善球 -专利权人：京信通信技术（广州）有限公司
申请日： 2019-07-01 - 公布日： 2020-03-13 - 主分类号： H01Q15/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种介质透镜，多个介质片及介质片之间的空白区域共同构成介质透镜的整体结构，故介质透镜的等效介质常数将由介质片的介电常数及空白区域的介电常数共同确定。由于在透镜单元内，实体区域与空白区域的体积的比值按预设函数关系变化，故上述介质透镜的等效介电常数也可按对应的规律实现渐变。加工上述介质透镜时，可先根据所选用的介质片的介电常数、所需的介质透镜等效介电常数的渐变规律预先设计出每个介质片的表面形状以及相邻两个介质片所需的夹角，再将多个介质片按照所需的夹角组装即可。因此，上述介质透镜加工更方便。此外，本实用新型还提供一种基站天线。
介质透镜基站天线

[发明专利]测量相对介电常数的方法、其中所用共振器及应用设备-CN200410087767.9无效
发明人：江畑克史 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2004-10-29 - 公布日： 2005-07-20 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：计算由粉末和液体介质组成的混合物质的相对介电常数，然后在混合物质18的相对介电常数变得等于液体介质的相对介电常数时计算混合物质的相对介电常数或液体介质的相对介电常数作为粉末的相对介电常数。因此，即使在超过几GHz的高频带也能高精度地测量粉末的相对介电常数。
测量相对介电常数方法其中所用共振器应用设备

[实用新型]一种毫米波透镜-CN202022277085.1有效
发明人：郑洪振;芦永超;孙耀志 -专利权人：广东福顺天际通信有限公司
申请日： 2020-10-16 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： H01Q15/08 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种毫米波透镜，包括若干个依次包裹的介质层；其中最内侧的介质层为实心体，称为内核体介质层；所述内核体介质层的介电常数最高，往外逐个介质层的介电常数依次递减，位于最外侧的介质层的介电常数最低；所述若干介质层分别是用空心柱状管形的颗粒体填充而成的；所述用于填充介质层的颗粒体，其粒径的大小与其填充的介质层的介电常数成反比，而其管壁厚度与其填充的介质层的介电常数成正比。本实用新型所提供的一种毫米波透镜，具有制作成本低、介质层填充均匀、同一介质层内的介电常数一致性高等优势。
一种毫米波透镜

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