专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]掩膜组件及套准量测方法-CN201811379700.0在审
  • 不公告发明人 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2018-11-20 - 2020-05-26 - G03F1/42
  • 本发明提供一种掩膜组件及套准量测方法,掩膜组件包括:第一掩膜、第二掩膜及第三掩膜,第一掩膜内形成有第一标记图形,第一标记图形包括第一标记图形及第二标记图形;第二掩膜内形成有第二标记图形,第二标记图形对应于第一标记图形的一侧,且与第一标记图形具有间距;第二标记图形包括第三标记图形及第四标记图形;第三掩膜内形成有第三标记图形,第三标记图形包括第五标记图形、第六标记图形、第七标记图形及第八标记图形。本发明的掩膜组件中的标记图形可以减小标记图形在晶圆上所占的面积;同时在光刻后进行套准量测时还可以显著降低所需量测的次数,提高套准量测的效率。
  • 组件套准量测方法
  • [实用新型]掩膜组件-CN201821905728.9有效
  • 不公告发明人 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2018-11-20 - 2019-06-04 - G03F1/42
  • 本实用新型提供一种掩膜组件,掩膜组件包括:第一掩膜、第二掩膜及第三掩膜,第一掩膜内形成有第一标记图形,第一标记图形包括第一标记图形及第二标记图形;第二掩膜内形成有第二标记图形,第二标记图形对应于第一标记图形的一侧,且与第一标记图形具有间距;第二标记图形包括第三标记图形及第四标记图形;第三掩膜内形成有第三标记图形,第三标记图形包括第五标记图形、第六标记图形、第七标记图形及第八标记图形。本实用新型的掩膜组件中的标记图形可以减小标记图形在晶圆上所占的面积;同时在光刻后进行套准量测时还可以显著降低所需量测的次数,提高套准量测的效率。
  • 标记图形主标记掩膜掩膜组件量测本实用新型套准光刻减小晶圆
  • [发明专利]双面光刻机的对位结构及对位方法-CN201210369733.3有效
  • 徐春云 - 无锡华润上华半导体有限公司
  • 2012-09-28 - 2014-04-09 - G03F9/00
  • 本发明公开了一种双面光刻机的对位结构及对位方法,该对位标记包括“+”字型的对位标记及若干对称设于对位标记上下左右的辅助对位标记,所述“+”字型的对位标记由水平对位标记和垂直对位标记垂直交叉形成,所述辅助对位标记为阶梯状,每个辅助对位标记由若干宽度相同、长度成等差数列的长方形组成。本发明通过采用“+”字型的对位标记对位标记上下左右的辅助对位标记进行对位,有利于肉眼分辨对位位置,提供了对位精度,减少手动对位引起的误差,提高了生产效率。
  • 双面光刻对位结构方法
  • [发明专利]三维实时定位方法-CN201911317005.6有效
  • 胡博期;陈彦廷;林治中;黄文辉;林庚达 - 财团法人金属工业研究发展中心
  • 2019-12-19 - 2023-10-17 - A61B34/20
  • 一种三维实时定位方法包括:将立体标记装置固定在手术部位上;架设光学定位系统;启动六自由度计算模块;确认副摄影装置均能够辨识到多面立方体;判断多面立方体是否被遮蔽,而造成摄影装置无法拍摄;当多面立方体没有被遮蔽时,则以摄影装置进行拍摄多面立方体;当多面立方体有被遮蔽时,则切换以副摄影装置进行拍摄多面立方体;判断标记是否被遮蔽,而造成或该副摄影装置无法拍摄;当标记没有被遮蔽时,则标记提供空间坐标信息;以及当标记有被遮蔽时,则利用三个副标记推算出标记的空间坐标信息。
  • 三维实时定位方法
  • [发明专利]对位标记及基板对位方法-CN201710258537.1有效
  • 龚成波 - 武汉华星光电技术有限公司
  • 2017-04-19 - 2018-07-10 - G03F9/00
  • 本发明提供一种对位标记及基板对位方法。所述对位标记包括:条状的对位标记、以及与所述对位标记垂直相交的多个条状的辅助对位标记,所述多个辅助对位标记包括:一第一辅助对位标记、至少两个宽度不同的第二辅助对位标记、以及至少两个宽度不同的第三辅助对位标记,所述第二辅助对位标记和第三辅助对位标记相对于对位标记的位置不同,在基板对位时,可通过任意一个辅助对位标记对位标记的交汇区域的中心点坐标求出对位标记整体的中心点坐标,以完成对位标记中心点的定位,能够在对位镜头的视野不变的情况下,增大对位标记的可检测范围,减少基板对位时间,提升基板对位效率。
  • 对位标记辅助对位基板对位中心点坐标垂直相交对位镜头交汇区域可检测中心点视野
  • [实用新型]一种高精度光学跟踪工具-CN201620272039.3有效
  • 李寅岩;徐进;王彬彬;张维军 - 北京天智航医疗科技股份有限公司
  • 2016-04-05 - 2016-10-19 - A61B34/20
  • 本实用新型一种高精度光学跟踪工具,它包括刚性支架、标记点群和第二标记点群;其中,标记点群包括三个以上第一标记点,各第一标记点均设置在刚性支架上;第二标记点群包括一个或两个第二标记点,当高精度光学跟踪工具安装在需要定位的设备上时第二标记点与每一第一标记点间的距离均大于当本实用新型在手术机器人上应用时,标记点群通过刚性支架安装在手术机器人本体上,第二标记点群设置在末端工具上其中,由于第二标记点群中的标记点更接近末端工具的特定点,因此定位精度可以得到显著的提高。另外可以通过改变第二标记点群的结构,与标记点群构成不同的形状,实现对第二标记点群的识别。再者若第二标记点群与标记点群安装不正确,系统可利用两标记点群位置规则识别出这种错误,提醒使用者。
  • 一种高精度光学跟踪工具

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