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[发明专利]影像坏点像素实时检测方法-CN200610156386.0有效
发明人：詹振宏 -专利权人：华晶科技股份有限公司
申请日： 2006-12-29 - 公布日： 2008-07-02 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种影像坏点像素实时检测方法，应用于数字相机中，用以于数字相机取得影像时，对于影像中所存在的坏点像素进行实时检测，以找出需要修复的像素。通过实时检测，可以减少以往在数字相机生产在线必须花费在坏点校正程序上的生产人力与工时，也可以减少数字相机储存坏点像素信息所占用的大量储存空间；更重要的是在检测过程中，能够因应影像的不同属性而动态调整阈值来判断坏点像素，能够更准确掌握坏点像素可能发生的情况达到辅助提升影像质量的效果。
影像像素实时检测方法

[发明专利]一种利用区域连通动态去除伪坏点的方法-CN202110869003.9在审
发明人：梁川;刘学臻;邹清平 -专利权人：浙江天铂云科光电股份有限公司
申请日： 2021-07-30 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种利用区域连通动态去除伪坏点的方法，采用如下步骤：1)首先使用某种坏点扫描算法，扫描出此红外图像的所有坏点，坏点包括真实坏点和伪坏点，记坏点集合为B＝{b1，b2，b3，...}；2)然后根据坏点与坏点之间的相邻性，通过算法将B划分为若干个不同的区域，相互相邻的坏点构成一个区域，记为A1，A2，A3，...；3)最后设定一个常数k(默认值为3)，将坏点个数大于k的所有区域全部删除，剩下区域中的坏点就是真实坏点，本发明对坏点检测方便、简单，能准确找出伪坏点，实现动态去除坏点。
一种利用区域连通动态去除伪坏点方法

[发明专利]像素坏点矫正方法及装置、电子设备、存储介质-CN202310800038.6在审
发明人：高志晔 -专利权人：上海闻泰电子科技有限公司
申请日： 2023-06-30 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： H04N25/60 文献下载
摘要：一种像素坏点矫正方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：确定原始图像中的像素坏点；确定像素坏点对应的至少一个相邻像素点，并分别计算各个相邻像素点对应的最小梯度，该最小梯度用于表征相应的相邻像素点上的光感信号变化趋势最均匀的方向上的变化程度；从各个相邻像素点对应的最小梯度中，确定出目标矫正梯度；获取目标矫正梯度对应的原始梯度方向，并根据该目标矫正梯度以及上述原始梯度方向，计算像素坏点对应的矫正像素值，该矫正像素值用于对像素坏点进行坏点矫正处理实施本申请实施例，能够准确、有效地矫正电子设备成像过程中的像素坏点，从而有利于提升电子设备进行图像拍摄的准确性。
像素矫正方法装置电子设备存储介质

[发明专利]可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质-CN202010689894.5有效
发明人：魏烨;卢小银;秦少谦;万钟霖;雷秀军;严德斌;金一 -专利权人：合肥富煌君达高科信息技术有限公司
申请日： 2020-07-17 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： H04N5/367 文献下载
摘要：本发明公开了一种可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质，包括：基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入第一次校正，否则进入第二次校正条件的判断，判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入第二次校正，本发明通过对待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布第一断层和第二断层的分布情况进行分析判断，进行两次校正过程，同时实现了图像传感器坏点校正和抑制像元波动。
可以抑制波动校正方法装置存储介质

[发明专利]纠正坏点的方法、坏点纠正装置和显示装置-CN201510869368.6在审
发明人：文檜植;柳炳奭 -专利权人：三星显示有限公司
申请日： 2015-12-02 - 公布日： 2016-06-15 - 主分类号： G09G3/36 文献下载
摘要：一种坏点纠正装置包括第一坏点纠正部分和第二坏点纠正部分。第一坏点纠正部分被配置用来纠正具有2N*2N(N为自然数)像素区域的第一纠正区域单元的第一尺寸的第一坏点。第二坏点纠正部分被配置用来纠正具有L*M(L和M均为自然数且L和M中的至少一个与2N不同)像素区域的第二纠正区域单元的不同于第一尺寸的第二尺寸的第二坏点。因此，可以容易地改善显示装置的显示质量。
纠正方法装置显示装置

[发明专利]一种图像传感器坏点检测校正装置及方法-CN201710917170.X在审
发明人：曾勇;周晓亚;王军;肖文勇 -专利权人：杭州雄迈集成电路技术有限公司
申请日： 2017-09-30 - 公布日： 2018-01-19 - 主分类号： H04N5/357 文献下载
摘要：本发明公开了一种图像传感器坏点检测校正装置及方法，包括图像输入单元、增益及曝光时间控制单元、坏点检测单元、坏点位置存储单元、坏点校正单元、图像校正输出单元；图像输入单元确定输入图像格式；在不同增益及曝光时间组合下多次对中性灰卡进行数据采集，获得多组图像数据；坏点检测单元对多组图像数据进行离线坏点检测判断，获得最终坏点位置信息，并送入坏点位置存储单元；坏点校正单元通过坏点位置信息进行坏点校正，得到坏点校正数据送入图像校正输出单元处理后输出本发明通过离线坏点检测准确获得图像传感器坏点位置信息，通过在线坏点校正去除坏点，在线校正无需遍历全部像素点，只对确定的坏点位置进行校正，提高处理速度。
一种图像传感器检测校正装置方法

[实用新型]一种图像传感器坏点检测校正装置-CN201721279598.8有效
发明人：曾勇;周晓亚;王军;肖文勇 -专利权人：杭州雄迈集成电路技术有限公司
申请日： 2017-09-30 - 公布日： 2018-04-27 - 主分类号： H04N5/357 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种图像传感器坏点检测校正装置，包括图像输入单元、增益及曝光时间控制单元、坏点检测单元、坏点位置存储单元、坏点校正单元、图像校正输出单元；图像输入单元确定输入图像格式；在不同增益及曝光时间组合下多次对中性灰卡进行数据采集，获得多组图像数据；坏点检测单元对多组图像数据进行离线坏点检测判断，获得最终坏点位置信息，并送入坏点位置存储单元；坏点校正单元通过坏点位置信息进行坏点校正，得到坏点校正数据送入图像校正输出单元处理后输出本实用新型通过离线坏点检测准确获得图像传感器坏点位置信息，通过在线坏点校正去除坏点，在线校正无需遍历全部像素点，只对确定的坏点位置进行校正，提高处理速度。
一种图像传感器检测校正装置

[发明专利]坏点校正方法、装置、终端设备及存储介质-CN202211691060.3在审
发明人：郭慧;张见;戚涛;姚毅 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： H04N25/68 文献下载
摘要：本申请涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种坏点校正方法、装置、终端设备及存储介质，一定程度上可以解决图像传感器获得的待处理图像中存在坏点或坏簇无法校正的问题。通过预设扫描顺序，从第一起点(非坏点)对待处理图像中像素点逐个进行扫描，可确定扫描到的待处理图像中的第一个坏点为第一目标点；基于预设尺寸判定窗口，可确定以第一目标点为中心的第一目标区域，进而可确定第一目标区域中的判定子区域；进一步若判定子区域中存在非坏点，通过判定子区域中的非坏点，确定第一目标点的校正值，并通过校正值对第一目标点进行校正；实现对图像传感器获得的待处理图像中各坏点的校正。
校正方法装置终端设备存储介质

[发明专利]一种坏点检测校正方法及装置-CN202010922827.3有效
发明人：宋博;王勇;温建新 -专利权人：成都微光集电科技有限公司
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H04N25/68 文献下载
摘要：本发明提供了一种坏点检测校正方法及装置，该方法包括：在图像数据中确定出预定像素点；确定预定像素点是否为坏点或者是否为疑似坏点；当预定像素点为坏点时，对预定像素点的像素值执行第一校正操作；当预定像素点为疑似坏点时，判断预定像素点在图像数据中的所属图像区域，当判断出预定像素点位于图像数据的平坦区域时，确定预定像素点为坏点，对预定像素点的像素值执行第二校正操作，当判断出预定像素点位于图像数据的边缘区域时，再次判断预定像素点是否为坏点，当判断出预定像素点为坏点时，对预定像素点的像素值执行所述第二校正操作。
一种检测校正方法装置

[实用新型]一种液晶显示器坏点修复装置-CN201920503987.7有效
发明人：郭明森;曾沙;艾晓国;何云;尹建刚;高云峰 -专利权人：大族激光科技产业集团股份有限公司
申请日： 2019-04-12 - 公布日： 2020-06-02 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种液晶显示器坏点修复装置，用于修复液晶显示器的坏点，解决了现有技术中液晶显示器坏点修复的费用高及难度大的问题，其包括：机体；滑动装配在机体上的滑动板；固定装配在滑动板上的液晶显示器按压组件；固定装配在滑动板上并与液晶显示器按压组件电连接的液晶显示器标准点定位组件；固定装配在滑动板上并与液晶显示器按压组件电连接的坏点信息读取组件；在整个坏点修复过程中，只需操作信息读取组件、液晶显示器标准点定位组件及液晶显示器按压组件即可完成对坏点的修复，操作简单，并且本申请提供的液晶显示器坏点修复装置，结构简单，造价低廉，因此减少了液晶显示器坏点修复的费用。
一种液晶显示器修复装置

[发明专利]一种干涉成像光谱仪的高光谱数据坏点检测与修正方法-CN201310101010.X有效
发明人：王超;施润和;吴昀昭;陈韵竹;沈仙霞;李镜尧;景卓鑫;翟天勇 -专利权人：华东师范大学
申请日： 2013-03-26 - 公布日： 2013-07-24 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种干涉成像光谱仪的高光谱数据坏点检测与修正方法，包括：选取一个像元作为待判定点，计算待判定点光谱和邻近像元中值光谱之间的光谱角和欧式距离，直至遍历所有像元计算获得所有像元的光谱角矩阵和欧式距离矩阵；分别计算光谱角矩阵和/或欧式距离矩阵的阈值对所有像元进行坏点判定，生成坏点标记矩阵；对坏点标记矩阵中的坏点进行修正。本发明的阈值具有更高的精度，提高了坏点的检测与修正效率。
一种干涉成像光谱仪光谱数据检测修正方法

[发明专利]确定指纹可输入区域的方法及装置-CN201710843284.4有效
发明人：刘楠 -专利权人：北京小米移动软件有限公司
申请日： 2017-09-18 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：所述方法包括：对触摸屏进行坏点检测；在检测出有坏点时，确定坏点位置；根据预设的单位区域大小和所述坏点位置，对触摸屏进行遍历，确定每个单位区域内坏点的数量；针对每个单位区域，确定坏点数量超过预设的数量阈值的第一单位区域；将所述触摸屏中除所述第一单位区域以外的区域确定为指纹可输入区域。
确定指纹输入区域方法装置

[实用新型]摄像模组组装前污点测试结构-CN201720351650.X有效
发明人：姚立锋;丁余辉;钟宝 -专利权人：宁波舜宇光电信息有限公司
申请日： 2017-04-06 - 公布日： 2018-02-13 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种摄像模组组装前污点测试结构，本实用新型通过在摄像模组组装机台之前上放上一个镜头/镜片模拟实际成品测试，实现组装前污坏点测试功能，实时检出不良，提升设备直通率，降低模组组装后的污坏点不良本实用新型的结构不局限应用于AA设备中的污坏点测试，只要带有芯片开图功能测试污坏点的方法/设备，如COB测试污坏点、外购设备增加污坏点测试，都可应用本实用新型的结构。
摄像模组组装污点测试结构

[发明专利]一种基于动态刷新机制的坏点检测电路-CN200610012124.7有效
发明人：杨柱;刘健;高晓宇;周天夷 -专利权人：北京中星微电子有限公司
申请日： 2006-06-06 - 公布日： 2007-01-03 - 主分类号： H04N17/02 文献下载
摘要：一种坏点检测方法及其电路，用于对图像传感器采集的大小为m×n的图像进行坏点检测，该电路包括同步检测模块、检测控制模块、像素保存模块、坏点检测运算模块和坏点位置保存模块。先选定对每帧图像处理的列数q和坏点运算矩阵大小K×K且K＝2k+1，S(j)＝q×(j－1)－2k(j－1)和0中的大值，E(j)＝q×j－2k(j－1)－1和m中的小值；从第1帧图像开始，在收到第j帧图像的数据时，将该帧图像的前2k行从S(j)到E(j)列的数据保存在存储器中，构成矩阵Q；再将矩阵Q和该帧第i行从S(j)到E(j)列的数据组成一K×q矩阵，完成坏点检测，然后用第i行数据替换存储器中的第i－2k行数据；对多帧图像处理后，就完成了整个图像的坏点检测。本发明可实时进行坏点检测，电路规模较小。
一种基于动态刷新机制检测电路

[发明专利]图像处理方法、装置、电子设备和存储介质-CN202080004421.5有效
发明人：周杰旻;江君 -专利权人：深圳市大疆创新科技有限公司
申请日： 2020-04-13 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： H04N25/68 文献下载
摘要：本公开的一个方面提供了一种图像处理方法，包括：获得待处理图像，所述待处理图像是根据图像传感器采集的图像信息生成的；确定所述待处理图像中的被污染像素，所述被污染像素包括在根据所述图像信息生成所述待处理图像的过程中，像素值受到待处理图像中至少一个图像坏点影响的像素；基于所述被污染像素的信息，将所述图像传感器的坏点信息由第一坏点信息更新为第二坏点信息；以及基于所述第二坏点信息，对所述待处理图像进行处理，以便校正所述图像坏点的像素值
图像处理方法装置电子设备存储介质