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[发明专利]基于屏幕边缘像素坏点调整屏幕显示画面的方法及系统-CN202211460498.0在审
发明人：刘文滔 -专利权人：惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司
申请日： 2022-11-17 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G09G5/14 文献下载
摘要：本发明属于屏幕显示技术领域，具体涉及一种基于屏幕边缘像素坏点调整屏幕显示画面的方法，该方法包括实时扫描屏幕，判断屏幕内是否存在像素坏点；根据距离屏幕边缘的尺寸将屏幕画面划分成可调整区域和不可调整区域；根据距离屏幕边缘的尺寸将可调整区域划分成至少两个可调整子区域；根据像素坏点所落入的可调整子区域，采取适应性的补救措施来调整屏幕的显示画面。本发明提供了一种基于屏幕边缘像素坏点调整屏幕显示画面的方法，通过检测屏幕像素坏点、判断像素坏点所落入屏幕边缘内的区域，采取适应性的补救措施来调整屏幕的显示画面，改善视觉体验、延长屏幕的使用寿命。
基于屏幕边缘像素调整显示画面方法系统

[实用新型]平面显示器面板坏点检测及定位系统-CN200720183448.7有效
发明人：黄俊荣;吴政鸿;蔡瑞彬 -专利权人：均豪精密工业股份有限公司
申请日： 2007-11-26 - 公布日： 2008-12-24 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种平面显示器面板坏点检测及定位系统，其用于检测并定址一液晶显示面板上的坏点，其包含一具有定址功能的影像撷取装置、一提供信号使该液晶显示面板显示坏点的信号输入装置、一显示该影像撷取装置所撷取影像的屏幕以及一显示于该屏幕上可计算取得相对该影像撷取装置的位置信息的指针位移装置，该液晶显示面板设置至少两个标点，以通过移动影像撷取装置抓取标点而计算取得液晶显示面板的精确位置，并再移动让坏点于该屏幕上显示出来，即可通过该指针位移装置标定坏点而取得坏点的位置而加以记录。
平面显示器面板检测定位系统

[实用新型]LED芯片检修装置-CN202022962024.9有效
发明人：张汉春;江忠永 -专利权人：杭州美卡乐光电有限公司
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： H01L33/48 文献下载
摘要：本实用新型提供的一种LED芯片检修装置，包括承载LED芯片的基板，多个LED芯片以非焊接的方式放置在所述基板上；控制部件，与坏点芯片去除部件、正常芯片安装部件连接，所述控制部件读取检测数据并输出第一信号和第二信号；所述坏点芯片去除部件，根据所述第一信号将基板上的坏点芯片自坏点位置取走；以及，所述正常芯片安装部件，根据所述第二信号拾取正常芯片并将所述正常芯片安装到所述坏点位置。采用LED芯片检修装置，修复芯片时不需要重新添加锡膏或助焊剂，无需使用推刀、激光器等昂贵器材，不会损坏基板和坏点周边的芯片，价格便宜，更换便捷。
led 芯片检修装置

[实用新型]一种LED显示屏点检模组-CN202223327393.6有效
发明人：蒲长清 -专利权人：深圳市维纳光电有限公司
申请日： 2022-12-09 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种LED显示屏点检模组，属于LED显示屏领域，常规技术手段现有的LED显示模组无法检测坏点，当LED显示模组内有坏点时不仅会影响LED的正常显示更有可能会通过坏点损坏整个模组，本申请通过由驱动IC芯片检测LED灯模块并亮起坏点提示灯，其包括包括外壳、LED电路板以及多个LED灯模块，所述LED电路板与多个所述LED灯模块均固定连接在所述外壳上，所述LED电路板与所述LED灯模块电性连接，且所述LED电路板包括用于检测所述LED灯模块是否故障的驱动IC芯片，本申请主要应用于LED显示屏出现坏点并需要检修的情况，具有改善LED模组无法检测坏点而影响模组的效果。
一种 led 显示屏点检模组

[发明专利]坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质-CN202110937969.1在审
发明人：李骏;杨志强;刘晓沐 -专利权人：浙江大华技术股份有限公司
申请日： 2021-08-16 - 公布日： 2021-11-19 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质。用于检测出图像中的坏点。本申请实施例中，根据目标图像中的像素点确定以目标像素点为中心的第一窗口和第二窗口；根据第一窗口内的像素点的灰度值确定局部方差；并根据第二窗口内的像素点的灰度值，确定第二窗口内的各个像素点的灰度值分别与目标像素点的灰度值的第一差值；根据第一差值和第一比较结果确定目标像素点是否为坏点。
检测方法装置电子设备存储介质

[发明专利]存算一体的冗余替换电路、芯片及计算装置-CN202111136019.5在审
发明人：索超;司鑫;闫永志;吴强 -专利权人：上海后摩智能科技有限公司
申请日： 2021-09-27 - 公布日： 2021-12-28 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：本公开实施例公开了一种存算一体的冗余替换电路、芯片、计算装置，其中，该电路包括：存算单元阵列、数据输入单元阵列、冗余使能信号产生单元和逻辑控制单元，存算单元阵列包括常规存算单元和冗余存算单元；逻辑控制单元用于根据坏点地址，将对包含坏点的常规存算单元的操作替换为对冗余存算单元的操作；冗余使能信号产生单元用于根据坏点地址，设置输入目标数据输入单元的冗余使能信号；数据输入单元包括冗余使能信号检测模块，用于根据对应的冗余使能信号确定是否将输入数据输入冗余存算单元本公开实施例实现了出现坏点时将存储数据和输入数据同时替换到冗余存算单元中，输入数据由冗余路径直接传送到冗余存算单元中，可以降低数据延迟。
一体冗余替换电路芯片计算装置

[发明专利]一种路面平整度维护方法、系统、检测终端、服务器-CN202210660264.4在审
发明人：张金友;柳江;彭轩 -专利权人：深圳市妙严科技有限公司
申请日： 2022-06-10 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G06K9/00 文献下载
摘要：一种路面平整度维护方法、系统、检测终端、服务器，方法包括：安装在车辆中的检测终端获取车辆行驶过程中的轨迹数据，所述轨迹数据由轨迹点组成，每一个轨迹点包括颠簸、晃动的传感器数据；根据检测终端所处的环境信息对轨迹点进行甄别，剔除掉没有颠簸、晃动的轨迹点，保留有效的轨迹点；从有效的轨迹点提取颠簸和晃动的特征参数，基于提取的特征参数初步识别出路面的预估损坏点，将预估损坏点相关的信息上报至服务器；服务器接收多个车辆的上报信息，并结合相应的路面损坏认定标准对预估损坏点重新评估是否为确认损坏点；如此，本发明可以帮助实现全面的路面平整度维护，既可以减小服务器的处理压力，又可以提高计算可靠性。
一种路面平整维护方法系统检测终端服务器

[发明专利]一种电缆本体修复方法及设备-CN202211506995.X在审
发明人：彭向阳;黄上师;吴吉;何金良;于是乎;李琦;余欣;范亚洲;黄剑平;黄振;胡世勋;董新华;程海涵;谭天 -专利权人：广东电网有限责任公司;广东电网有限责任公司电力科学研究院
申请日： 2022-11-28 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： H02G1/16 文献下载
摘要：本发明公开了一种电缆本体修复方法及设备，包括：采集待修复电缆的温度参数和距离参数，并根据所述温度参数和距离参数，对待修复电缆进行破坏点的定位；对待修复电缆的破坏点进行破坏等级判断，并对破坏点进行预处理；其中，所述破坏等级包括：低等级破坏、中等级破坏和高等级破坏；根据待修复电缆的破坏等级，待修复电缆的材料以及所述温度参数和距离参数，从预设设置参数表中检索出对应的参数设置方案；根据检索出的参数设置方案，设置运行参数，并根据所述运行参数对待修复电缆的破坏点依次进行修复，从而完成对电缆的修复。本发明解决了现有技术中对电缆采用中间接头的修复、导致修复后的位置存在电场分布不均的技术问题。
一种电缆本体修复方法设备

[发明专利]用于晶圆上坏点的失效分析的方法-CN201510107417.2有效
发明人：杜杳隽;张士健 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2015-03-11 - 公布日： 2019-12-17 - 主分类号： G03F1/36 文献下载
摘要：本发明提供一种用于晶圆上坏点的失效分析的方法，所述方法包括：对晶圆坏点所对应的问题光罩图案进行直接模拟；以及基于模拟结果与生成所述问题光罩图案所基于的原始光学邻近修正版图的模拟的比较确定所述晶圆坏点是否起因于光罩错误本发明所提供的用于晶圆上坏点的失效分析的方法可以将光学邻近修正过程可能的错误与光罩错误各自产生的影响分离开来，准确确定晶圆坏点产生的根本原因是否在于光罩错误。
用于晶圆上坏点失效分析方法

[发明专利]基于温度数据处理的部件热害评估方法、系统和存储介质-CN202110273183.4在审
发明人：唐海国;倪柏靖;张光亚;彭婧;段大禄 -专利权人：上汽通用五菱汽车股份有限公司
申请日： 2021-03-12 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G06K9/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于温度数据处理的部件热害评估方法、系统和存储介质，方法包括：读取零部件的热害试验温度数据作为第一热害试验温度数据；获取零部件的坏点剔除温度阈值和耐温阈值；根据坏点剔除温度阈值剔除第一热害试验温度数据中的坏点数据，将第一热害试验温度数据中的剩余数据作为第二热害试验温度数据；确定第二热害试验温度数据的最高温度数据；根据最高温度数据、零部件的耐温阈值和第二热害试验温度数据计算零部件的超温时间；根据零部件的超温时间对零部件进行热害评估本发明无需人工查找数据坏点位置，即能有效剔除坏点数据，从而有效降低工作人员的工作量，提高数据处理结果的准确度。本发明可广泛应用于数据处理技术领域。
基于温度数据处理部件热害评估方法系统存储介质

[实用新型]可用于实现容错功能的小容量OTPROM存储器及芯片-CN201721426368.X有效
发明人：张敏;曹旺;冯雪阳 -专利权人：无锡华润矽科微电子有限公司
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G06F11/14 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种可用于实现容错功能的小容量OTPROM存储器及其芯片，其中容错功能基于小容量OTPROM存储器中划分的具有用于对存储数据的主存储模块、用于对主存储模块中的坏点进行备份的备份存储模块，以及用于将主存储模块中的坏点地址对应至备份存储模块中的对应地址的出错地址映射模块来实现，小容量OTPROM存储器通过该容错功能在被读取的过程中将主存储模块中的坏点地址替换为备份存储模块中的对应地址，采用本实用新型的可用于实现容错功能的小容量OTPROM存储器及其芯片，在现有小容量OTPROM存储器基础上增加容错功能，将小容量OTPROM存储器的主存储模块中出现的坏点映射到功能正常的备份存储模块的对应地址，使存储器整个空间功能都正常，达到节省成本、提升效率等目的。
存储器小容量容错功能主存储模块备份存储坏点可用本实用新型芯片读取出错地址存储数据地址对应地址替换映射模块整个空间备份映射

[发明专利]一种电源常开芯片中的存储器内建自测试方法和系统-CN201810804252.8有效
发明人：马国富;张楠赓 -专利权人：嘉楠明芯（北京）科技有限公司
申请日： 2018-07-20 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G11C29/18 文献下载
摘要：本发明提供了一种电源常开芯片中的存储器内建自测试方法和系统，其中所述一种电源常开芯片中的存储器内建自测试方法包括：对至少一个存储器中的指定地址执行写操作；对所述至少一个存储器的所述指定地址执行读取操作；根据从所述指定地址读取出的数据和写入的数据是否一致判断所述至少一个存储器是否有坏点；如果判断至少一个所述存储器有坏点，则将修复信号存储在寄存器中，并将所述修复信号通过所述寄存器发送到被判断为有坏点的至少一个所述存储器中以修复坏点
一种电源常开芯片中的存储器测试方法系统

[发明专利]图像检测、修复方法和图像检测、修复装置-CN200810114921.5有效
发明人：谌安军 -专利权人：北京中星微电子有限公司
申请日： 2008-06-13 - 公布日： 2008-11-05 - 主分类号： H04N5/14 文献下载
摘要：本发明提出一种图像坏点检测方法，包括：对至少三帧连续的图像进行缓存，包括本帧图像、至少一前帧图像和至少一后帧图像；确定本帧图像中像素点分别相对于前帧图像的前向运动矢量和相对于所述后帧图像的后向运动矢量；根据前向运动矢量和后向运动矢量确定本帧图像中像素点分别相对于前帧图像的前帧运动补偿点和相对于后帧图像的后帧运动补偿点；根据所述前帧运动补偿点和所述后帧运动补偿点对所述本帧图像中所述像素点进行坏点检测。本发明考虑了图像在时间上和空间上图像灰度与运动矢量相关的特点，根据运动矢量得到本帧图像中像素点对应前后帧图像中的运动补偿点，从而提高坏点或坏块的检测精度，改进图像中坏点或坏块的修复的准确度。
图像检测修复方法装置

[发明专利]对准器损坏的预测和缓解-CN202310510605.4在审
发明人：王宇翔;罗希特·塔纳古拉;R·施拉兹阿格亚里;安德鲁·姜;李春华;佐藤淳;蔡路遥;V·梅德文斯卡娅;A·库克;A·切尔卡斯;A·阿科波娃;苏康宁 -专利权人：阿莱恩技术有限公司
申请日： 2019-09-27 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： A61C7/08 文献下载
摘要：该方法还包括使用以下中的至少一项对聚合物对准器的数字设计执行分析：a)经训练的机器学习模型；b)数值模拟；c)几何评估器；或d)规则引擎。该方法还可以包括基于该分析来确定聚合物对准器的数字设计是否包括可能的损坏点，其中，对于可能的损坏点，存在将发生破裂、变形或翘曲的阈值概率。该方法还可以包括：响应于确定聚合物对准器的数字设计包括可能的损坏点，基于可能的损坏点执行校正措施。
对准损坏预测缓解

[发明专利]显示屏坏点检测方法、装置、计算机设备和存储介质-CN201910463004.6有效
发明人：徐倩茹;邱又海;赵平林 -专利权人：深圳市洲明科技股份有限公司
申请日： 2019-05-30 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请提供一种显示屏坏点检测方法、装置、计算机设备和存储介质，其中，一种显示屏坏点检测方法，包括：获取显示屏的原始图像；对所述原始图像进行二值化处理，得到二值化图像；对所述二值化图像进行轮廓查找，得到亮灯的轮廓信息；根据亮灯的轮廓信息，对所述二值化图像进行单元格分割，使得每一灯珠与一单元格对应，得到分割后的二值化图像；根据所述分割后的二值化图像中每一单元格的像素值，计算得到死灯数量，实现显示屏坏点检测，无需人工肉眼检测，提高了显示屏坏点的检测效率及检测精度。
显示屏检测方法装置计算机设备存储介质