专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]投影系统及其制备方法-CN202011503641.0在审
  • 郎海涛;桑鹏鹏;张恩鑫;张鹤腾;杨佳;樊坚 - 宁波舜宇车载光学技术有限公司
  • 2020-12-18 - 2022-06-21 - G03B21/20
  • 本申请提供一种投影系统以及制备方法,该系统包括:镜头模块、光源模块和至少一个坏点抑制器。镜头模块包括投影镜头。光源模块包括LED芯片,LED芯片设置于投影镜头的焦平面处,用于提供携带包括图像信息的光。至少一个坏点抑制器设置在投影镜头的光轴上。坏点抑制器包括多个微透镜阵列,微透镜阵列包括多个微透镜。imgFormat="JPEG" orientation="portrait" inline="yes" />使投影系统的焦平面与投影镜头的焦平面之间的距离D在投影镜头的焦深Z的范围内,以减弱或消除LED芯片的像素坏点和像素之间的间隙,从而抑制由LED芯片的像素间隙导致的投影图像上的黑色线条,以及由像素坏点导致的投影图像画面的缺失,以实现高成像的投影效果。
  • 投影系统及其制备方法
  • [发明专利]基于摄像头的产线静态坏点校准方法、装置、终端及介质-CN202011430188.5有效
  • 苏洪静;张伟 - 深圳创维-RGB电子有限公司
  • 2020-12-09 - 2023-05-02 - H04N17/00
  • 本发明公开了基于摄像头的产线静态坏点校准方法、装置、终端及介质,所述方法包括:摄像头通过USB线连接上位机电脑;摄像头在上位机电脑以无线网卡RNDIS网络设备呈现;上位机电脑与摄像头建立网络连接成功,发送预定的坏点校准命令给摄像头,分别校准摄像头在亮场和暗场下的暗点和亮点;将校准结果存储在摄像头端系统内,用于摄像头每次启动后设置静态坏点默认值。本发明通过USB连接方式,连接摄像头和上位计算机,摄像头在上位机以无线网卡RNDIS网络设备呈现,上位机在成功与摄像头建立网络连接后,通过发送预定的坏点校准命令,分别校准摄像头在亮场和暗场下的暗点和亮点,并将校准结果存储在摄像头端系统内,方便摄像头每次启动后设置静态坏点默认值。
  • 基于摄像头静态校准方法装置终端介质
  • [发明专利]投射型模组坏点检测方法和装置-CN202111569753.0在审
  • 王国庆;王旭阳;冯传涛;杨海欣;刘振业;王一琪 - 宁波舜宇光电信息有限公司
  • 2021-12-21 - 2023-06-23 - H04N17/04
  • 本发明提供一种投射型模组坏点检测方法和装置,其中所述坏点检测装置包括信号输入模块、图像采集模块以及图像处理模块,其中所述信号输入模块分多次将预设的点阵检测图像输入至所述投射模组,以供所述投射模组基于所述点阵检测图像以相互间隔的方式点亮各像素其中所述图像采集模块与所述图像处理模块相通信地连接,所述图像采集模块采集到的图像信息被传输至所述图像处理模块,由所述图像处理模块对采集到的分割行、列区域,并以区域交集的方式检测像素对应的亮度,并通过邻域均值分割坏点和输出坏点合束及其坐标信息
  • 投射模组检测方法装置
  • [发明专利]发光二极管测试电路、发光二极管测试方法及制造方法-CN202110163422.0在审
  • 蔡佳珍;涂嘉良;李奇霖 - 晶元光电股份有限公司
  • 2021-02-05 - 2021-08-13 - H01L33/00
  • 一种发光二极管测试电路、发光二极管测试方法及制造方法,该制造方法包含提供基板,将基板的上表面分配为多个区域,其各设有发光二极管群组包含多个发光二极管,多个发光二极管群组包含第一发光二极管群组,多个发光二极管包含坏点发光二极管;形成测试电路于基板上,将多个发光二极管并联或串并联;用测试电路对第一发光二极管群组光电测试;记录坏点发光二极管的位置;提供终端载板或模块载板;及通过坏点发光二极管的位置,实施任一步骤:将坏点发光二极管自基板移除,再转移其他发光二极管至终端载板或模块载板;不转移坏点发光二极管,转移其他发光二极管至终端载板或模块载板;或转移发光二极管至终端载板或模块载板且修补坏点发光二极管。
  • 发光二极管测试电路方法制造
  • [发明专利]一种LED显示屏坏点检测电路及检测方法-CN201010279665.2无效
  • 陈杰;丁文权 - 南京通用电器有限公司
  • 2010-09-13 - 2011-02-02 - G09G3/00
  • 本发明涉及一种LED显示屏坏点检测电路及检测方法,包括LED显示单元、控制电路、驱动电路,所述驱动电路包括行驱动电路和列驱动电路;所述LED显示单元由M×N个LED组成,M≥1,N≥1,M、N均为整数,在驱动电路设有采样电阻及A/D转换器,采样电阻两端与A/D转换器输入端连接。其工作原理为通过设置在LED显示屏驱动电路的采样电阻,利用A/D转换器检测其电压大小,以计算出流过每个LED的电流,再与LED的正常工作电流进行比较,当某个LED电流值与正常工作电流发生偏差时,可判断该LED为坏点。与现有技术相比,本发明的优点是电路简单、可靠,可以快速、精确的找出坏点,既适用于LED显示屏的生产过程,也适用于已安装使用的LED显示屏的远程在线检测,极大地提高检测效率。
  • 一种led显示屏检测电路方法

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