专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]坏点自检测装置及芯片-CN202122435214.X有效
  • 孟祥隆;张竞成;谢晓;王豪杰 - 思特威(上海)电子科技股份有限公司
  • 2021-10-09 - 2022-06-14 - G11C29/56
  • 本实用新型提供了一种静态随机存取存储器的坏点自检测装置及芯片。坏点自检测装置包括:控制器,用于实现对静态随机存取存储器的读写控制;自检测器,包括:监测单元,用于对静态随机存取存储器的工作状态进行监测;通知单元,连接监测单元,用于在静态随机存取存储器处于空闲状态的情况下,将待测存储地址及标准数据发送给控制器,控制器据此对待测存储地址对应的存储单元进行数据读写;检测单元,用于判断从待测存储地址读取的读取数据与标准数据是否一致,进而判断待测存储地址对应的存储单元是否存在坏点本技术方案能够实现对于芯片中静态随机存取存储器的各个存储单元的坏点自检测,提升搭载有静态随机存取存储器的芯片的工作可靠性。
  • 检测装置芯片
  • [发明专利]显示屏坏点检测方法、装置、计算机设备和存储介质-CN201910226784.2有效
  • 徐倩茹;邱又海;赵平林 - 深圳市洲明科技股份有限公司
  • 2019-03-25 - 2021-10-26 - G06T7/00
  • 本申请提供一种显示屏坏点检测方法、装置、计算机设备和存储介质,其中,一种显示屏坏点检测方法,包括:获取显示屏的原始图像;对原始图像进行二值化处理,得到第一二值化图像;对第一二值化图像进行轮廓查找,得到每一个灯珠在图像对应的面积;对原始图像进行均值滤波处理,得到均值滤波后的图像;对均值滤波处理后的图像进行二值化处理,得到第二二值化图像;将第二二值化图像进行反向处理;对反向处理后的第二二值化图像进行轮廓查找,得到死灯在图像的总面积;根据每一个灯珠在图像的面积以及死灯在图像的总面积计算得到死灯数量,实现显示屏坏点检测,无需人工肉眼检测,提高检测效率及检测精度。
  • 显示屏检测方法装置计算机设备存储介质
  • [发明专利]一种防伪标记物及其制造方法-CN200710041821.X无效
  • 龚辉 - 上海镭立激光科技有限公司
  • 2007-06-08 - 2008-12-10 - G09F3/00
  • 一种防伪标记物,由玻璃块构成,玻璃块的内部设置有复数个激光破坏点。复数个激光破坏点排列在一个平面或者两个以上的平面。玻璃块内掺杂有金属。制造上述防伪标记物的方法包括一个利用激光器在玻璃块的内部产生复数个激光破坏点的过程,在激光器和玻璃块之间设置振镜和F-Theta透镜,将振镜与计算机的数据输出接口连接,在计算机根据雕刻图案预设雕刻路径本发明可将商标或者识别标记雕刻在玻璃块,防伪效果好。
  • 一种防伪标记及其制造方法
  • [发明专利]一种摄像头坏点检测方法及装置-CN202111657024.0在审
  • 胡露;何健;袁岩松;林映庭;宋凯静 - 江西盛泰精密光学有限公司
  • 2021-12-30 - 2022-03-25 - H04N17/00
  • 本发明涉及图像处理技术领域,具体为一种摄像头坏点检测方法及装置,该方法包括以下内容:获取包含兴趣图案的检测图像;分析检测图像生成兴趣图案的边缘坐标;根据预设的划分信息将检测图像划分为多个图像块;根据边缘坐标获取图像块下兴趣图案各像素点预设通道的通道数据,并计算图像块的多个通道平均值;根据像素点的通道数据和像素点所在图像块对应通道的通道平均值,判断所述像素点是否为坏像素点;根据判断结果判断兴趣图案所在图像块是否为坏点。采用本方案能够提高坏点检测效率,且准确、灵活地对坏点进行检测。
  • 一种摄像头检测方法装置
  • [发明专利]一种用于计算机显示器坏点检测方法-CN202310347586.8有效
  • 韩蔚;张福美 - 莱芜职业技术学院
  • 2023-04-04 - 2023-10-03 - G06T7/00
  • 本发明涉及图像处理领域,具体涉及一种用于计算机显示器坏点检测方法,包括:获取计算机显示器的屏幕图像;根据屏幕图像的行和变化曲线以及列和变化曲线的趋势项,得到对应的趋势值,进而得到干扰区域以及无干扰区域;根据各个像素点的灰度值得到各个像素点的异常点评估指标;根据各个像素点的异常点评估指标得到各个异常点;根据干扰区域以及无干扰区域的各个异常点得到计算机显示器的各个坏点。本发明根据坏点以及摩尔纹的分布特征,对计算机显示器的坏点缺陷进行识别,且更加准确、可靠。
  • 一种用于计算机显示器检测方法
  • [发明专利]一种NOR Flash坏点补偿的方法-CN202011229468.X有效
  • 林嘉顺;谭睿;许文焕 - 深圳市民德电子科技股份有限公司
  • 2020-11-06 - 2023-02-03 - G06F3/06
  • 本发明公开了一种NOR Flash坏点补偿的方法,包括固件存储步骤、固件加载步骤以及固件纠错步骤;其中,固件纠错步骤包括:完成固件加载后,固件纠错开始,加载纠错码表;通过纠错码表对固件数据的完整性进行检测,若检测到固件被破坏,则根据纠错码表逐个对纠错单元的固件数据进行纠正,并对纠错单元进行纠正,建立纠错单元与备份单元的映射关系,填充至映射集合;将纠正后的固件数据保存于与纠错单元具有映射关系的备份单元通过采用本发明的NOR Flash坏点补偿的方法,可以在NOR Flash出现坏点时,使用新的备份单元进行替换,确保数据完整无损,提高数据使用的可靠性。
  • 一种norflash补偿方法
  • [发明专利]一种用于检测激光坏点的方法、装置、介质及设备-CN202210983441.2在审
  • 燕宇 - 昆山丘钛光电科技有限公司
  • 2022-08-16 - 2022-11-29 - G06T7/00
  • 本发明提供了一种用于检测激光坏点的方法、装置、介质及设备,方法包括:获取发射激光器的发光点图像,确定所述发光点图像的目标像素,根据所述目标像素获得待检测图像;创建高斯卷积核模型,基于所述高斯卷积模型对所述待检测图像进行卷积处理,获得特征图;对所述特征图进行非极大值抑制处理,确定出多个参考局部极大值;对所述多个参考局部极大值进行筛选,获得目标极大值;所述目标极大值对应的像素点为坏点;如此,无论是何种型号何种种类的发射激光器,只需获取到发射激光器的发光点图像,利用高斯卷积核模型即可确定出坏点;该测试方法通用性较好,可提高测试效率。
  • 一种用于检测激光方法装置介质设备
  • [发明专利]指纹传感器功能的验证方法及终端-CN201780064703.2有效
  • 高伟强;崔闯 - 华为技术有限公司
  • 2017-08-31 - 2021-12-28 - G06K9/00
  • 所述指纹传感器功能的验证方法包括如果检测到手指接触指纹传感器,就采集手指的指纹信息,该手指的指纹信息包括指纹传感器的坏点信息;若匹配阈值满足预设的安全门限值,则根据手指的指纹信息和已存储的指纹模板,计算匹配度;根据匹配度和匹配阈值确定验证结果;其中,匹配阈值根据指纹传感器的坏点信息和指纹传感器的信息确定,指纹传感器的信息包括指纹传感器的尺寸和像素。在本发明实施例,实现了对指纹传感器功能设置条件,分别进行判定,解决了指纹传感器坏点超过一定范围时,全部禁用指纹传感器功能的问题。
  • 指纹传感器功能验证方法终端

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