[发明专利]半导体结构及半导体结构的制造方法在审
申请号: | 202310215736.X | 申请日: | 2023-03-02 |
公开(公告)号: | CN116801616A | 公开(公告)日: | 2023-09-22 |
发明(设计)人: | 刘翔;邓杰芳 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H10B12/00 | 分类号: | H10B12/00 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本公开实施例提供一种半导体结构及半导体结构的制造方法,半导体结构包括:多个沿第一方向及第二方向间隔排布的有源柱,每一有源柱沿第三方向延伸,且包括位于有源柱中的沟槽以及由沟槽分隔成的两个分立的有源部,有源柱具有相对的第一面和第二面,有源部的顶面为第一面,有源柱的底面为第二面;多个存储电容,每一存储电容与一有源部的顶面电连接;字线,字线沿第二方向延伸,且绕沿第二方向排布的一列有源部的部分侧壁设置;位线,位线沿第一方向延伸,且与沿第一方向延伸的一列有源柱的第二面电连接;导电互连层,导电互连层位于位线背离有源柱的上方,且导电互连层与存储电容位于位线相对的两侧。本公开实施例至少可以提高半导体结构的性能。 | ||
搜索关键词: | 半导体 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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