[发明专利]一种HfO2在审

专利信息
申请号: 202310051946.X 申请日: 2023-02-02
公开(公告)号: CN116313814A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 廖敏;蒋拥权;曾斌健 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: H01L21/34 分类号: H01L21/34;H01L29/78;H01L29/51
代理公司: 深圳市温斯顿专利代理事务所(普通合伙) 44686 代理人: 徐员兰
地址: 4111*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种HfO2基铁电场效应晶体管存储器件均一性优化方法,包括:制备一个圆柱状的绝缘层,在所述绝缘层外围上增加一个空心圆柱状的沟道层,在所述沟道层外围上增加一个空心圆柱状的第二绝缘层,在所述第二绝缘层外围上增加一个空心圆柱状的HfO2基铁电薄膜层,在所述绝缘层两端,分别增加空心圆柱状的源极层、空心圆柱状的漏极极层;形成HfO2基铁电场效应晶体管存储器件。本发明所述的HfO2基铁电场效应晶体管存储器件均一性优化方法可以有效的改变阈值的漂移、存储窗口的变化,从而改良HfO2基铁电场效应晶体管存储器的均一性。
搜索关键词: 一种 hfo base sub
【主权项】:
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