[发明专利]一种减少石墨包裹物的碳化硅晶体的生长方法在审

专利信息
申请号: 202110709969.6 申请日: 2021-06-25
公开(公告)号: CN113445121A 公开(公告)日: 2021-09-28
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司
主分类号: C30B23/00 分类号: C30B23/00;C30B29/36
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 赵君
地址: 150000 黑龙江省哈尔滨市松北区智谷二街3*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种减少石墨包裹物的碳化硅晶体的生长方法,它属于碳化硅晶体生长技术领域。本发明要解决的技术问题为晶体生长过程中减少石墨包裹物的生成。本发明将碳化硅粉料放入石墨坩埚内,然后放入多孔石墨片,然后将将籽晶固定于石墨坩埚内的上盖中心位置,将密封好的石墨坩埚放入单晶生长炉内,抽真空至1×10‑5‑6×10‑5torr后以1‑8℃/min的速率进行加热;当单晶生长炉加热温度至1000‑1500℃后通入惰性保护气体将气压调整至1‑20torr,继续升温至1700‑2000℃保持恒温,长晶时间为30‑150h,降温后完成一种减少石墨包裹物的碳化硅晶体的生长。本发明消除晶体生长产生的石墨包裹物。
搜索关键词: 一种 减少 石墨 包裹 碳化硅 晶体 生长 方法
【主权项】:
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