[发明专利]一种用于激光测距的方法、装置及设备有效
| 申请号： | 202110341755.8 | 申请日： | 2021-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN112799086B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 黎龙飞;赖敏;于远芳;夏吴斌;陈士凯;林凌;黄珏珅 | 申请（专利权）人： | 上海思岚科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10;G01S17/36;G01S7/495 |
| 代理公司： | 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 | 代理人： | 王奎宇;朱永海 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请通过一种激光测距的方法、装置及设备，首先基于获取的基准反射激光信号及预设参考阈值，确定环境模式鉴别阈值，其中，所述基准反射激光信号包含环境的光强度信息；接着获取测距激光信号的发射时间数据；然后获取所述测距激光信号的反射激光信号；再基于所述反射激光信号、所述环境模式鉴别阈值及所述发射时间数据，确定所述测距激光信号的飞行时间数据；最后基于所述飞行时间数据，确定被测目标的距离。通过该方法可根据激光测距设备的实际工作环境场景，对激光测距设备的鉴别阈值进行自适应设置，以保证激光测距设备在实际工作环境下抑制环境光噪声影响，确保测距极限和精度的平衡。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 激光 测距 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海思岚科技有限公司，未经上海思岚科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110341755.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种物料跟踪方法和系统
- 下一篇：一种物联网照明控制装置及系统
