[发明专利]一种样品厚度的确定方法在审
申请号: | 202110296956.0 | 申请日: | 2021-03-19 |
公开(公告)号: | CN113008171A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 刘军;吴诗嫣;魏强民 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 刘恋;张颖玲 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本申请实施例提供一种样品厚度的确定方法,所述方法应用于扫描透射电子显微镜,其中,方法包括:获取参考样品的参考信号强度;根据所述参考信号强度和所述参考样品的参考厚度,确定所述参考样品的信号强度与厚度之间的参考线性关系;通过所述扫描透射电子显微镜获取待测样品的实际信号强度,其中,所述待测样品与所述参考样品由相同的材料构成;根据所述参考线性关系和所述实际信号强度,确定所述待测样品的厚度。 | ||
搜索关键词: | 一种 样品 厚度 确定 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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