[发明专利]厚度测量装置和厚度测量方法在审
| 申请号： | 201710105804.1 | 申请日： | 2017-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN107305118A | 公开（公告）日： | 2017-10-31 |
| 发明（设计）人： | 本胁淑雄 | 申请（专利权）人： | 发那科株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙)11343 | 代理人： | 尚志峰,汪海屏 |
| 地址： | 日本国山梨县南都留*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 无论移动装置的动作精度如何，都能够高精度地对测量对象物的厚度进行测量。提供一种厚度测量装置(1)，其包括机架(4)，其包括用于设置测量对象物的设置面(2)和相对于设置面(2)隔开间隔并与其大致平行的对置面(3)；测距装置(5)，能够分别测量完全相反的两个方向到物体的距离；移动机构(6)，将测距装置(5)配置在设置面(2)与对置面(3)之间的测量点上，并使测量方向同设置面(2)与对置面(3)的间隔方向相一致；以及运算部(7)，计算在设置面(2)上未设置测量对象物(O)的状态下测距装置(5)在测量点处测量出的两个方向的距离的总和，与在设置面(2)上设置了测量对象物(O)的状态下测距装置(5)测量出的两个方向的距离的总和之差。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种厚度测量装置，其包括：机架，其包括用于设置测量对象物的设置面和配置为相对于所述设置面隔开间隔并与其平行的对置面；测距装置，能够分别测量完全相反的两个方向到物体的距离；移动机构，使测量方向同所述设置面与所述对置面的间隔方向相一致地将所述测距装置配置在所述设置面与所述对置面之间的测量点上；以及运算部，计算在所述设置面未设置所述测量对象物的状态下所述测距装置在所述测量点处测量出的两个方向的距离的总和与在所述设置面设置了所述测量对象物的状态下所述测距装置测量出的两个方向的距离的总和之差。
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