[发明专利]一种半导体固体发光器件的质检设备及使用方法在审
申请号: | 202011606002.7 | 申请日: | 2020-12-30 |
公开(公告)号: | CN112808606A | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 赵亮 | 申请(专利权)人: | 赵亮 |
主分类号: | B07C5/02 | 分类号: | B07C5/02;B07C5/342;B07C5/38 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 311200 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及质检设备技术领域,具体的说是一种半导体固体发光器件的质检设备及使用方法,包括支撑组件、质检组件和抓取组件,支撑组件位于质检组件的下方,抓取组件位于质检组件的上方,支撑组件包括第一底架、第二底架和第三底架,第二底架位于第一底架和第三底架之间,在第二底架的上方焊接有若干个第一支撑柱,在若干个第一支撑柱远离第二底架的一端焊接有第四固定板,在第四固定板的上方安装有第三电机,在第三电机的一端转动连接有第三转轴,在第三转轴远离第三电机的一端固定连接有打磨头,能够对出现故障的半导体固体发光器件与触点接触的位置进行打磨,去除半导体固体发光器件底部的杂质,对不发光的半导体固体发光器件进行初步修正。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 固体 发光 器件 质检 设备 使用方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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