[发明专利]一种半导体固体发光器件的质检设备及使用方法在审

专利信息
申请号: 202011606002.7 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112808606A 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 赵亮 申请(专利权)人: 赵亮
主分类号: B07C5/02 分类号: B07C5/02;B07C5/342;B07C5/38
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 311200 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及质检设备技术领域,具体的说是一种半导体固体发光器件的质检设备及使用方法,包括支撑组件、质检组件和抓取组件,支撑组件位于质检组件的下方,抓取组件位于质检组件的上方,支撑组件包括第一底架、第二底架和第三底架,第二底架位于第一底架和第三底架之间,在第二底架的上方焊接有若干个第一支撑柱,在若干个第一支撑柱远离第二底架的一端焊接有第四固定板,在第四固定板的上方安装有第三电机,在第三电机的一端转动连接有第三转轴,在第三转轴远离第三电机的一端固定连接有打磨头,能够对出现故障的半导体固体发光器件与触点接触的位置进行打磨,去除半导体固体发光器件底部的杂质,对不发光的半导体固体发光器件进行初步修正。
搜索关键词: 一种 半导体 固体 发光 器件 质检 设备 使用方法
【主权项】:
暂无信息
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