[发明专利]三维半导体存储器件在审

专利信息
申请号: 202010939717.8 申请日: 2020-09-09
公开(公告)号: CN112563283A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 李承桓;李洙衡;林周永;张大铉;丁相勋 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11563 分类号: H01L27/11563;H01L27/11568;H01L27/11578;H01L27/11582
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 屈玉华
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种三维半导体存储器件,其包括:交替地堆叠在基板上的栅极间电介质层和电极层;穿透栅极间电介质层和电极层并且延伸到基板中的垂直半导体图案;在垂直半导体图案与电极层之间的阻挡电介质图案;隧道电介质层,在阻挡电介质图案与垂直半导体图案之间并且与栅极间电介质层接触;以及在阻挡电介质图案与隧道电介质层之间的第一电荷存储图案。第一电荷存储图案中的一个与阻挡电介质图案中的一个的顶表面和底表面接触。
搜索关键词: 三维 半导体 存储 器件
【主权项】:
暂无信息
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