[发明专利]3D NAND存储器及其形成方法有效

专利信息
申请号: 202010466027.5 申请日: 2020-05-28
公开(公告)号: CN111668231B 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 董明;曾凡清 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤;高德志
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种3D NAND存储器及其形成方法,所述形成方法,包括提供半导体衬底,所述半导体衬底上形成有控制栅和隔离层交替层叠的堆叠结构,所述堆叠结构中形成有沿垂直方向贯穿堆叠结构的栅极隔槽;在栅极隔槽的侧壁和底部表面上形成多晶硅层;在所述多晶硅层的表面上形成无定型硅层,所述无定型硅层填充满所述栅极隔槽;进行退火,将所述无定型硅层转化为多晶硅层,在栅极隔槽中形成阵列共源极。该方法形成的阵列共源极的应力较小,防止了堆叠结构的弯曲或变形。
搜索关键词: nand 存储器 及其 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长江存储科技有限责任公司,未经长江存储科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010466027.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top