[发明专利]半导体存储装置在审
申请号: | 202010130930.4 | 申请日: | 2020-02-26 |
公开(公告)号: | CN112530954A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 吉水康人 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11519 | 分类号: | H01L27/11519;H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/11565;H01L27/1157;H01L27/11582 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 实施方式提供一种可抑制制造成本增加的半导体存储装置。实施方式的半导体存储装置具备第1配线层、第2配线层、多个第3配线层、第1绝缘层、以及第1存储器柱。第2配线层与第1配线层电性连接。多个第3配线层在第1方向上的第1配线层与第2配线层之间相互在第1方向上隔开积层,且在与第1方向交叉的第2方向上延伸。第1绝缘层贯通多个第3配线层,第1配线层侧的端部与第1配线层的第1面相接,且在第2方向上延伸。第1存储器柱贯通多个第3配线层,侧面与在第2方向上延伸且朝向与第1及第2方向交叉的第3方向的第1绝缘层的第2面相接,第1配线层侧的端部与第1配线层的第1面相接,且包括:含有在第1方向上延伸的第1半导体层、以及设在多个第3配线层与第1半导体层之间且可存储数据的电荷蓄积层。第1配线层的作为第1面的相反面的第3面与第2配线层的第1方向上的距离在与第1绝缘层对应的位置及与第3配线层对应的位置不同。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的